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| 标准编号 | GB/T 17738.1-2013 (GB/T17738.1-2013) | | 中文名称 | 射频同轴电缆组件 第1部分：总规范 一般要求和试验方法 | | 英文名称 | Radio frequency and coaxial cable assemblies. Part 1: Generic specification. General requirements and test methods | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | L26 | | 国际标准分类 | 33.120.10 | | 字数估计 | 50,512 | | 旧标准 (被替代) | GB/T 17738.1-1999 | | 引用标准 | GB/T 2423.3-2006; GB/T 2423.5-1995; GB/T 2423.6-1995; GB/T 2423.10-2008; GB/T 2423.17-2008; GB/T 2423.22-2002; GB/T 2423.37-2006; GB/T 5095.5-1997; GB/T 11313.1-2013; GB/T 19000-2008; GB/T 19001-2008; IEC 60068-2-42; IEC 60332-1-1993; IEC 60339-1; IEC 603 | | 采用标准 | IEC 60966-1-1999, IDT | | 起草单位 | 中国电子技术标准化研究院 | | 归口单位 | 全国电子设备用高频电缆及连接器标准化技术委员会 | | 标准依据 | 国家标准公告2013年第25号 | | 提出机构 | 中华人民共和国工业和信息化部 | | 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 | | 范围 | 本部分规定了传输横向电磁波模式(TEM)的射频同轴电缆组件(由电缆和连接器组成)的要求, 同时也对同轴电缆组件的电气、机械和环境特性的测试规定厂一般要求。涉及特定种类电缆组件的附加要求在相应的分规范中给出。 | GB/T 17738.1-2013
ICS 33.120.10
L26
中华人民共和国国家标准
代替 GB/T 17738.1-1999
射频同轴电缆组件
第1部分:总规范 一般要求和试验方法
(IEC 60966-1:1999,IDT)
2013-12-17发布
2014-06-15实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
目次
前言 Ⅲ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 2
4 设计和制造要求 3
4.1 电缆设计和结构 3
4.2 连接器的设计和结构 3
4.3 外形和界面尺寸 4
5 加工质量、标志和包装 4
5.1 加工质量 4
5.2 标志 4
5.3 盖帽 4
5.4 包装和标志 4
6 质量评定 4
7 通用测试方法 4
7.1 试验的标准大气条件 4
7.2 外观检查 4
7.3 尺寸检验 5
8 电气试验 5
8.1 反射特性 5
8.2 阻抗均匀性 6
8.3 插入损耗 6
8.4 插入损耗稳定性 6
8.5 传播时间 7
8.6 电长度稳定性 7
8.7 相位差 9
8.8 相位随温度的变化 10
8.9 屏蔽效率 10
8.10 耐电压 10
8.11 绝缘电阻 11
8.12 内、外导体连续性 11
8.13 暂无 11
8.14 额定功率 11
8.15 互调电平 12
9 机械强度试验 12
9.1 张力 12
9.2 弯曲 13
9.3 弯曲耐久性 13
9.4 电缆组件抗压 14
9.5 扭转 15
9.6 多重弯曲 16
9.7 电缆组件的耐磨试验 16
9.8 振动、冲击、撞击 16
9.9 机械耐久性 17
10 环境试验 17
10.1 推荐的严酷等级 17
10.2 振动、碰撞和冲击 17
10.3 气候顺序 17
10.4 恒定湿热 17
10.5 温度快速变化 18
10.6 耐溶剂和污染流体 18
10.7 浸水试验 19
10.8 盐雾和二氧化硫试验 19
10.9 灰尘试验 19
10.10 可燃性 21
11 特殊试验方法 21
12 试验一览表 21
附录A(规范性附录) 插入损耗测量方法 22
附录B(资料性附录) 传播时间测量方法 27
附录C(资料性附录) 屏蔽效率测量方法 29
附录D(资料性附录) 推荐环境试验严酷等级 33
附录E(资料性附录) 质量评定 37
附录F(资料性附录) 型号命名 44
前言
GB/T 17738《射频同轴电缆组件》分为以下几个部分:
---第1部分:总规范 一般要求和试验方法;
---第2部分:柔软同轴电缆组件分规范;
---第3部分:半柔同轴电缆组件分规范;
---第4部分:半硬同轴电缆组件分规范;
本部分为GB/T 17738的第1部分。
本部分按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
本部分代替GB/T 17738.1-1999《射频同轴电缆组件 第1部分:总规范 一般要求和试验方
法》。
本部分与GB/T 17738.1-1999相比主要技术变化如下:
---将“范围”和“目的”合并为“范围”(见第1章,1999年版的第1章和第2章)。
---增加了能力批准程序(见E.3.2)。
---删除了附录A反射系数测量方法(见1999年版的附件A)。
---增加了扫描点数的要求及计算方法(见8.1)。
---电长度稳定性试验中增加了弯曲和扭转两种试验方法(见8.6.2.1和8.6.2.2)。
---删除了放电试验(电晕试验)(见9.13)。
---增加了额定功率试验方法(见8.14)。
---增加了互调电平(见8.15)。
---增加了扭矩(见9.5)。
---增加了多重弯曲(见9.6)。
---增加了电缆组件的磨损试验(见9.7)。
---盐雾和二氧化硫试验中增加了“要求”(见10.8)和“相关详细规范中应规定的内容”
(见10.8.3)。
---增加了灰尘试验(见10.9)。
---增加了可燃性(见10.10)。
本部分使用翻译法等同采用IEC 60966-1:1999《射频同轴电缆组件 第1部分:总规范 一般要求
和试验方法》。
本部分做了下列编辑性修改:
---增加了附录中公式的编号,并对式(A.1)、式(C.1)~式(C.4)的错误部分进行了更正。
---在附录C中补充了“表C.1符号表”,以明确各公式中符号的意义。
---增加了附录F(资料性附录)型号命名,以为行业命名提供参数。
与本部分中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下:
---GB/T 11313(所有部分)射频连接器[IEC 61169(alparts)]
---GB/T 17737(所有部分)同轴通信电缆[IEC 61196(alparts)]
请注意本部分的某些内容可能涉及专利。本部分的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本部分由全国电子设备用高频电缆及连接器标准化技术委员会(SAC/TC190)归口。
本部分起草单位:中国电子技术标准化研究院。
本部分主要起草人:吴正平、乔长海、詹诗生、张国菊、郭燕、王锐臻、陈国华。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
---GB/T 17738.1-1999。
射频同轴电缆组件
第1部分:总规范 一般要求和试验方法
1 范围
本部分规定了传输横向电磁波模式(TEM)的射频同轴电缆组件(由电缆和连接器组成)的要求,同
时也对同轴电缆组件的电气、机械和环境特性的测试规定了一般要求。涉及特定种类电缆组件的附加
要求在相应的分规范中给出。
注1:所用电缆和连接器的设计应分别首先符合IEC 61196和IEC 61169的适用部分的规定。
注2:本部分不包括通常对电缆和连接器单独进行的试验,对电缆和连接器单独进行的试验已分别在IEC 61196和
IEC 61169的适用部分中规定。
注3:即使电缆组件中使用的电缆和连接器在IEC 61196和IEC 61169系列标准中没有规定,凡有可能,也应分别按
照相关总规范中给定的试验方法进行试验。
注4:当对电缆组件进行附加防护时,本部分规定的机械和环境试验也适用。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 2423.3-2006 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验
(IEC 60068-2-78:2001,IDT)
GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验 Ea和导则:冲击
(IEC 60068-2-27:1987,IDT)
GB/T 2423.6-1995 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Eb和导则:碰撞
(IEC 60068-2-29:1987,IDT)
GB/T 2423.10-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc:振动(正弦)
(IEC 60068-2-6:1995,IDT)
GB/T 2423.17-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验 Ka:盐雾
(IEC 60068-2-11:1981,IDT)
GB/T 2423.22-2002 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验 N:温度变化
(IEC 60068-2-14:1984,IDT)
GB/T 2423.37-2006 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验 L:沙尘试验
(IEC 60068-2-68:1994,IDT)
GB/T 5095.5-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第5部分:撞击试验(自
由元件)、静负荷试验(固定元件)、寿命试验和过负荷试验 (IEC 60512-5:1992,IDT)
GB/T 11313.1-2013 射频连接器 第1部分:总规范 一般要求和试验方法(IEC 61169-1:
1998,IDT)
GB/T 19000-2008 质量管理体系 基础和术语(ISO 9000:2005,IDT)
GB/T 19001-2008 质量管理体系 要求(ISO 9001:2008,IDT)
IEC 60068-2-42 环境试验 第2-42部分:试验 试验Kc:接触件和连接件的二氧化硫试验(En-
IEC 60332-1:1993 电缆在火焰条件下的燃烧试验 第1部分:单根绝缘电线或电缆的垂直燃烧
wireorcable)
IEC 61169(alparts) 射频连接器(Radio-frequencyconnectors)
IEC 61726:1995 电缆组件、电缆、连接器和无源微波元件 混响室法测量屏蔽衰减(Cableas-
IEC QC001002-3:2005 IEC 电子元件质量评定体系(IEC Q)程序规则 第3部分:批准程序(IEC
procedures)
3 术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
3.1
电缆组件 cableassembly
有或无附加防护,具有规定性能作为单个元件使用的电缆和连接器的组合件。
3.1.1
电缆可以被重复弯曲的电缆组件。电缆通常具有编织外导体结构。
3.1.2
预定在使用中电缆不需重复弯曲的电缆组件,但在安装过程中可以弯曲或成型。
3.1.3
半硬电缆组件 semi-rigidcableassembly
预定在制造后不再弯曲的电缆组件。在安装或使用期间的任何弯曲都可能降低电缆组件的性能。
3.2
插入损耗 insertionloss
由于某一电缆组件接入系统而引入的损耗。在本部分中,插入损耗是功率P1 与P2 之比,以分贝
来表示,功率P1 是指信号源直接传输给负载的功率;P2 是指信号源通过电缆组件传输给负载的功率。
插入损耗=10lg
P1
3.3
反射系数 reflectionfactor
在传输线的任一端口的反射波波失量的幅值与入射波波失量的幅值之比。
3.4
电长度 electricallength
等效于电缆组件的自由空间长度。
3.5
电缆组件之间电长度的差值。
3.6
相位差 phasedifference
任意两个电缆组件传输同一个TEM波的相位之差。
3.7
传播时间 propagationtime
在电缆组件两端连接器的基准面之间传播TEM波所需要的时间。
3.8
进行气候试验时所用的半径,它是电缆固定安装所允许的最小弯曲半径。
3.9
动态弯曲半径 dynamicbendingradius
用于插入损耗稳定性、电长度稳定性和弯曲耐久性试验的弯曲半径,并是电缆组件使用时的最小允
许弯曲半径。增大弯曲半径时可以增加弯曲次数。
3.10
3.10.1
转移阻抗 transferimpedence
电缆组件的转移阻抗是在电缆组件内的感应电压与组件外面的感应电流的比值。实际上,它是在
与电缆组件的两连接器配接的两个连接器的规定点之间的感应电压与感应电流的比值。
3.10.2
屏蔽衰减 screeningattenuation
电缆组件内部的信号功率与辐射到电缆组件外部的总功率之比,用分贝表示。
3.11
额定功率 powerrating
当电缆组件端接与其特性阻抗一致的负载时可以连续传输的输入功率。
注1:在实际应用时,可传输的最大功率还取决于回波损耗。
注2:额定功率还取决于电缆组件安装的具体情况、环境温度、空气压力和流通情况。通常规定的环境温度为
40℃。
3.12
人工老炼 artificialaging
用来改善相位、衰减及热膨胀随温度的稳定性的一种方法。通常这是对成品电缆组件进行几个温
度循环处理。除非在详细规范中另有规定,由供货方决定是否要对电缆组件进行老炼。
4 设计和制造要求
4.1 电缆设计和结构
凡有可能,电缆应符合IEC 61196相关部分的规定。当需要不同于IEC 61196的电缆设计时,电缆
应符合相关详细规范的要求。
4.2 连接器的设计和结构
凡有可能,连接器应符合IEC 61169相关部分的规定。在需要特殊设计的连接器时,其界面尺寸应
符合IEC 61169相关部分(适用时)的规定,结构应符合相关详细规范的要求。
4.3 外形和界面尺寸
a) 外形尺寸应符合相关电缆组件详细规范的规定。
b) 界面尺寸应符合相关详细规范的规定。
5 加工质量、标志和包装
5.1 加工质量
电缆组件不应有目力可见的缺陷,并应是清洁的,保持良好的状态。
5.2 标志
标志应清晰、符合相关详细规范的规定,并能识别电缆组件的制造商。
5.3 盖帽
除非在相关详细规范中另有规定,为了保护连接器界面免受损坏和污染,在运输和储存时,电缆组
件两端的连接器应戴上由适宜材料制成的任意形式的盖帽。
5.4 包装和标志
除非另有规定,包装和标志应符合相关详细规范的规定。
6 质量评定
质量保证指南,包括能力批准和鉴定批准,见附录E。
7 通用测试方法
7.1 试验的标准大气条件
除非另有规定,所有试验应在IEC 60068所规定的试验条件下进行。
在进行测量前,应将电缆组件在测量温度下保持足够的时间,使整个电缆组件达到该测量温度。当
不在标准温度下进行测量时,必要时应把测试结果按标准温度给予修正。
注:凡不能在标准大气条件下进行测试时,应在测试报告中说明试验所处的实际条件和影响。
7.2 外观检查
应对样本进行外观检查以保证:
a) 状态、加工质量和表面制造情况是令人满意的。
b) 标志要符合本部分5.2的规定。
c) 无机械损伤、非预期的零件间的松动和位移。
d) 材料或成品应无明显可见的凹痕、剥落。
通常,用不超过三倍的放大镜来检查。
7.3 尺寸检验
7.3.1 界面尺寸
根据相关详细规范的要求,用适当的测试装置,测量界面尺寸。
在使用符合IEC 61169的连接器时,界面尺寸的检验可以限制那些因不正确的装配而引起的性能
变化。例如:从基准面到介质芯以及到中心接触件的轴向尺寸。
在使用其他连接器或有特殊要求时,具体内容应在相关详细规范中给出。
7.3.2 外形尺寸
电缆组件外形尺寸的任何特殊测量要求应在详细规范中给出。
8 电气试验
8.1 反射特性
8.1.1 目的
确定信号在匹配系统中通过电缆组件反射回信号源的量,反射特性优选用“dB回波损耗”表示。
8.1.2 程序
用适当的网络分析仪测试电缆组件回波损耗。
为了测量电缆组件的反射特性,必须特别注意以下几个方面:
---为了使反射信号保持在接收系统的IF-滤波器中心,应确保射频扫频发生器的扫描速度足够
的低。电缆越长,必须选择越低的扫描速度。
---电缆组件可能具有窄的回波损耗尖峰。为了解决可能的回波损耗尖峰,对于连续网络分析系
统,扫描速度应足够低。而对于数字网络分析系统,扫描点数应足够多。
例如,对于数字系统,扫描点数应为:
n≥3f2-f()1 L/120
式中:
n ---在频率范围f1 和f2 之间响应曲线时的扫描点数。
f1 ---频率范围的最低频点,单位为兆赫兹(MHz)。
f2 ---频率范围的最高频点,单位为兆赫兹(MHz)。
L ---测试样品的机械长度,单位为米(m)。
不采用这些准则,会导致频率扫描点的间距太宽,从而导致相当多的测试失败。
电缆组件的回波损耗未必两边对称,可以要求测量两端。除非相关详细规范另有规定,最差的情况
应在规范规定的范围内。
系统必须用合适的连接器类型校准。如果没有,必须使用转接器。转接器将使回波损耗测量不准,
但是,不能因使用了转接器而修正结果。合成的回波损耗(包括转接器的)应在规范规定范围内。
如果用户同意,可以使用其他方法测量电缆组件的反射特性。
8.1.3 要求
测量的回波损耗应在规定的范围内。
8.1.4 在详细规范中应规定的内容
a) 最小回波损耗,适用时,作为频率的函数。
b) 频率范围。
c) 要求的频率分辨率。
测量应从一端或两端进行。
8.2 阻抗均匀性
8.2.1 目的
确定电缆组件局部特性阻抗的变化。
8.2.2 程序
用一台时域反射计(TDR)把阶跃脉冲通过一段作为阻抗基准的空气线输入到电缆组件来测量。
观察沿组件长度上阻抗的变化。
替代方法:可采用一个由频域到时域转换的系统。
8.2.3 要求
在相关详细规范中的规定。
8.2.4 在详细规范中应规定的内容
a) 时域反射系统的脉冲前沿上升时间。
b) 阻抗变化的范围。
8.3 插入损耗
8.3.1 程序
插入损耗应按附录A测量。用户同意时,也可使用其他方法测量。
8.3.2 要求
在相关详细规范规定的频率范围内,任意频率下的插入损耗不应超过规定值。
8.3.3 详细规范中应规定的内容
a) 最大插入损耗,适用时,作为频率的函数。
b) 频率范围。
8.4 插入损耗稳定性
8.4.1 目的
确定电缆组件经受动态弯曲时在给定频率下衰减的变化。
8.4.2 程序
在按8.3测量插入损耗时,电缆在半径为其动态弯曲半径的芯轴上进行卷绕,卷绕的圈数按相关详
细规范的规定。
8.4.3 要求
试验过程中及试验后,插入损耗的变化不应超过相关详细规范的规定值。
8.4.4 详细规范中应规定的内容
a) 电缆的动态弯曲半径(芯轴的半径)。
b) 在芯轴上电缆组件的圈数和部位。
c) 试验频率。
d) 插入损耗的最大变化。
8.5 传播时间
8.5.1 程序
传播时间按附录B测量。
8.5.2 要求
传播时间不应超过相关详细规范中的规定值。
8.5.3 详细规范中应规定的内容
a) 进行测量的频率范围(见B.1)或系统的上升时间(见B.2)。
b) 传播时间和公差。
8.6 电长度稳定性
8.6.1 目的
确定电缆组件在经受动态弯曲或扭转时由于电长度变化引起的相位变化。
8.6.2 程序
8.6.2.1 弯曲
方法1
将弯曲成U形的电缆组件和适当的网络分析仪(NWA)相连接[见图1a)]。在记录传输信号相位
的过程中,将电缆绕芯轴卷绕180°[见图1b)],然后解绕回到开始位置。逆时针绕芯轴卷绕180°[见图
1c)],再解绕回到开始位置。应选定芯轴的开始位置,使得试验过程中,只有U形电缆组件的直线部分
弯曲。
a) 开始位置
b) 第一次弯曲
c) 第二次弯曲
图1 弯曲试验:U形组件
方法2
将一根直式的电缆组件[见图2a)]一端接短路器,另一端接合适的网络分析仪。在记录反射信号
相位的过程中,首先将电缆在芯轴上沿顺时针方向绕半圈[见图2b)],回复到开始位置,然后绕芯轴逆
时针绕半圈[见图2c)],再回到开始位置。
a) 开始位置
b) 第一次弯曲
c) 第二次弯曲
图2 弯曲试验:直式组件
8.6.2.2 扭转
将弯曲成U形的电缆组件两端连接到合适的网络分析仪上[见图3a)]。在记录传输信号相位的过
程中,首先将电缆中间的芯轴沿顺时针方向扭转180°[见图3b)],回复到开始位置,然后沿逆时针方向
扭转180°[见图3c)],再回到开始位置。
注:由于与扭转刚度和电缆连接器界面处允许的最大扭矩有关,最大扭转角是可能会受到限制的。
a) 开始位置
b) 第一次扭转
c) 第二次扭转
图3 扭转试验:U形组件
8.6.3 要求
相位变化不应超过相关详细规范的规定。
8.6.4 详细规范中应规定的内容
a) 芯轴的半径(通常为电缆的动态弯曲半径)。
b) 试验频率。
c) 相位的最大变化。
8.7 相位差
8.7.1 目的
测定两个或两个以上电缆组件之间的相位差。
8.7.2 程序
用一台合适的足够精度的网络分析仪进行测量。
在频率和精度要求允许的情况下,可使用开槽测量线替代。
8.7.3 要求
相位差不应超过相关详细规范的规定。
8.7.4 详细规范中应规定的内容
a) 最大相位差或标称相位差及公差。
b) 频率。
8.8 相位随温度的变化
8.8.1 目的
当电缆组件经受其工作温度范围内的温度变化时,确定由于电长度变化引起的相位变化。
当相关详细规范中有规定时,可在一根电缆组件样品上而不是在成品电缆组件上进行本试验。除
了长度和状态外,电缆组件样品应和成品电缆组件相同。
8.8.2 程序
将电缆组件,包括两端的连接器置于温度可控的烘箱里,用一台合适的网络分析仪进行测量。电缆
支撑的细节应在详细规范中给出。
当在电缆组件样品上进行试验时,电缆应卷成一圈或一圈以上的无支撑圈,圈直径至少是最小静态
弯曲半径的10倍。
应进行6个温度循环。在频率和精度要求允许的场合,可用开槽测量线代替。
8.8.3 要求
在试验过程中,相位变化不应超过相关详细规范的规定值。
8.8.4 详细规范中应规定的内容
a) 温度范围和温度/时间的循环。
b) 测量频率。
c) 表示结果的方法,例如,(°)、el/℃。
d) 允许的相位变化。
e) 允许时,代用电缆组件样品的结构。
8.9 屏蔽效率
应进行屏蔽效率试验。适合的试验在附录C给出或按IEC 61726:1995进行测量。相关详细规范
应确定适用的试验方法、频率范围和屏蔽效率的最小值。
8.10 耐电压
8.10.1 程序
每根电缆组件应经受有关详细规范规定的电压,无击穿或闪络。试验电......
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