路径: 主页 > GB/T > 第527页 > GB/T 18735-2014 | 标准编号 | GB/T 18735-2014 (GB/T18735-2014) | | 中文名称 | 微束分析 分析电镜(AEM/EDS)纳米薄标样通用规范 | | 英文名称 | Microbeam analysis -- General guide for the specification of nanometer thin reference materials for analytical transmission electron microscope (AEM/EDS) | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | G04 | | 国际标准分类 | 71.040.50 | | 字数估计 | 11,159 | | 发布日期 | 7/24/2014 | | 实施日期 | 3/1/2015 | | 旧标准 (被替代) | GB/T 18735-2002 | | 引用标准 | GB/T 4930-2008; GB/T 21636-2008 | | 标准依据 | 国家标准公告2014年第19号 | | 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 | | 范围 | 本标准规定了分析电镜(AEM/EDS)即透射电子显微镜或装有扫描附件的透射电镜配备X射线能谱仪(EDS), 测量比例因子K(A-B)所用纳米薄标样的技术要求、检测条件和检测方法。本标准适用于采用分析电镜(AEM/EDS)进行无机薄样品的微区元素定量分析。本标准不包括有机物和生物标样。 | GB/T 18735-2014
ICS 71.040.50
G04
中华人民共和国国家标准
代替GB/T 18735-2002
微束分析 分析电镜(AEM/EDS)
纳米薄标样通用规范
2014-07-24发布
2015-03-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
目次
前言 Ⅰ
引言 Ⅱ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 薄标样的技术要求 2
5 研究材料的检测 3
5.1 检测仪器 3
5.2 样品台 3
5.3 测量条件与方法 3
5.4 薄标样判别依据 4
6 标样的分级 4
6.1 薄标样化学成分的测定 4
6.2 薄标样级别的确定 4
7 包装与贮运 4
7.1 标样包装 4
7.2 运输 4
7.3 保管 5
7.4 标样的有效期 5
参考文献 6
前言
本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
本标准代替GB/T 18735-2002《分析电镜(AEM/EDS)纳米薄标样通用规范》。
本标准与GB/T 18735-2002相比主要变化如下:
---中英文名称修改为:“微束分析 分析电镜(AEM/EDS)纳米薄标样通用规范”和“Microbeam
---修改了适用范围的内容(见第1章);
---更新和增加了引用标准(见第2章);
---增加和修改了术语和定义,将公式和原理放在术语下面的注释中进行表述(见第3章);
---将“标样”改为“薄标样”(见第4章、第5章);
---修改了薄标样化学定值和薄标样个数的要求(见4.1、4.2);
---增加了对薄标样的厚度要求的说明和计算例证的注释(见4.3);
---增加了对薄标样稳定性要求的说明性注释(见4.4);
---将“碳膜支持网”修改为“超薄碳膜支持网”(见4.5);
---增加了“检测仪器”和“样品台”次级标题(见5.1、5.2);
---将“试样”修改为“研究材料”(见5.1、5.2、5.3.4);
---增加了分析时常用的几个典型工作电压值(见5.3.1);
---修改了测量样品个数和待测元素X射线强度统计测量的要求(见5.3.3、5.3.5和5.3.8);
---增加了比例因子测量时参考元素的说明性注释(见5.3.6);
---修改和增加了比例因子KA-B的扩展不确定度和不确定度及相应的注释(见5.3.8和5.3.9);
---修改了薄标样的判别依据(见5.4);
---增加了标样的分级(见第6章);
---增加了有助于理解本标准的必要的参考文献。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)提出并归口。
本标准起草单位:武汉理工大学。
本标准主要起草人:孙振亚。
本标准于2002年12月首次发布,本次为第一次修订。
引 言
本标准规定的各项准则,主要适用于分析电镜,即配备 X射线能谱仪附件的透射电子显微镜
(AEM/EDS)依据比值法即Cliff-Lorimer法,在可以忽略试样基体的X射线吸收效应进行无机薄样品
元素定量分析时,测量比例因子KA-B所需纳米薄标样的通用规范和检测方法的一般原则。为进一步
制定AEM的定量分析方法标准奠定基础。
本标准对于开展微粒和微区样品的分析电镜的元素定量分析,特别是适应迅速发展的纳米材料的
成分定量分析和高加速电压分析型透射电镜的发展,建立基于标准样品的比较定量分析方法,提高定量
分析准确度具有积极的指导作用。
微束分析 分析电镜(AEM/EDS)
纳米薄标样通用规范
1 范围
本标准规定了分析电镜(AEM/EDS)即透射电子显微镜或装有扫描附件的透射电镜配备X射线能
谱仪(EDS),测量比例因子KA-B所用纳米薄标样的技术要求、检测条件和检测方法。
本标准适用于采用分析电镜(AEM/EDS)进行无机薄样品的微区元素定量分析。本标准不包括有
机物和生物标样。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 4930-2008 微束分析 电子探针分析 标准样品技术条件导则(ISO 14595:2003,IDT)
GB/T 21636-2008 微束分析 电子探针显微分析(EPMA) 术语(ISO 23833:2006,IDT)
3 术语和定义
GB/T 21636-2008界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
3.1
指配备有X射线能谱仪(EDS)的透射电子显微镜或装有扫描附件的透射电镜,能同时对微区进行
元素分析。
3.2
临界厚度 criticalthickness
TS
在一定的加速电压下,样品分析区域对X射线的吸收效应可以忽略而无须做吸收校正时的最大
厚度。
注:临界厚度TS 可用式(1)表示:
TS =1......
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