路径: 主页 > GB/T > 第527页 > GB/T 19501-2013 | 标准编号 | GB/T 19501-2013 (GB/T19501-2013) | | 中文名称 | 微束分析 电子背散射衍射分析方法通则 | | 英文名称 | Microbeam analysis -- General guide for electron backscatter diffraction analysis | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | G04 | | 国际标准分类 | 71.040.50 | | 字数估计 | 13,175 | | 旧标准 (被替代) | GB/T 19501-2004 | | 引用标准 | GB/T 15074; GB/T 27025; ISO 24173 | | 标准依据 | 国家标准公告2013年第10号 | | 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 | | 范围 | 本标准规定了电子背散射衍射分析方法。本标准适用于安装了电子背散射衍射附件的扫描电镜和电子探针进行物相识别、晶体取向、显微织构以及晶界特性等方面的分析。 | GB/T 19501-2013
Microbeam analysis.General guide for electron backscatter diffraction analysis
ICS 71.040.50
G04
中华人民共和国国家标准
代替GB/T 19501-2004
微束分析 电子背散射衍射分析方法通则
2013-07-19发布
2014-03-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
前言
本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
本标准代替GB/T 19501-2004《电子背散射衍射分析方法通则》。
本标准与GB/T 19501-2004相比,主要内容变化如下:
---增加了规范性引用文件(见第2章);
---增加或修改了部分术语,删除晶粒夹角(见第3章);
---增加了分析步骤内容(见第4章);
---增加分析结果发布补充内容(见第5章);
---增加了附录A(资料性附录);
---修改了测量条件(见第4章);
---删除了原标准中试样的制备;
---删除了原标准中分析步骤;
---删除了原标准中测量误差。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)提出并归口。
本标准起草单位:宝钢集团中央研究院。
本标准主要起草人:姚雷、田青超、郑芳、顾佳卿、陈家光。
本标准所代替标准的历次版本发布情况为:
---GB/T 19501-2004。
微束分析 电子背散射衍射分析方法通则
1 范围
本标准规定了电子背散射衍射分析方法。
本标准适用于安装了电子背散射衍射附件的扫描电镜和电子探针进行物相识别、晶体取向、显微织
构以及晶界特性等方面的分析。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 15074 电子探针定量分析方法通则
GB/T 27025 检测和校准实验室能力的通用要求
ISO 24173 微束分析 电子背散射衍射取向测定方法通则(Microbeamanalysis-Guidelinesfor
3 术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
3.1
当入射电子束照射到高倾斜的晶体样品时,其背散射电子与原子面发生的衍射。
3.2
由电子背散射衍射产生的具有准线性特征的、并被探测器截获的图案,即菊池带,可将其显示在荧
光屏或照相胶片上。
3.3
花样中心 patterncentre;PC
荧光屏平面上的一点,其垂线过电子束轰击样品点。
3.4
试样与荧光屏的距离 specimen-to-screendistance;SSD
花样中心与试样表面电子束轰击点之间的距离。
注:如果试样与荧光屏之间的距离变小,那么EBSP将会向花样中心方向缩小,会观察到更多的菊池带。
3.5
Hough变换 Houghtransform
能自动探测图像内特殊形状特征的一种图像处理的数学技术。
注:在EBSD中,线性 Hough变换用于识别菊池带在EBSP中的位置及取向,使得花样指数可以标定。每......
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