路径: 主页 > GB/T > 第526页 > GB/T 21636-2021 | 标准编号 | GB/T 21636-2021 (GB/T21636-2021) | | 中文名称 | | | 英文名称 | Microbeam analysis - Electron probe microanalysis (EPMA) - Vocabulary | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | G04 | | 字数估计 | 41,453 | | 发布机构 | 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会 | GB/T 21636-2021
Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis (EPMA) -- Vocabulary
ICS 01.040.71;71.040.99
CCSG04
中华人民共和国国家标准
代替GB/T 21636-2008
微束分析
电子探针显微分析(EPMA) 术语
Vocabulary
(ISO 23833:2013,IDT)
2021-12-31发布
2022-07-01实施
国 家 市 场 监 督 管 理 总 局
国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 发 布
目次
前言 Ⅲ
引言 Ⅳ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 缩略语 1
4 电子探针显微分析用一般术语定义 1
5 描述电子探针显微分析仪器的术语定义 7
6 用于电子探针显微分析方法的术语定义 16
参考文献 24
索引 25
前言
本文件按照GB/T 1.1-2020《标准化工作导则 第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规
定起草。
本文件代替GB/T 21636-2008《微束分析 电子探针显微分析(EPMA) 术语》,与GB/T 21636-
2008相比,增加了第2章规范性引用文件,除结构调整和编辑性改动外,主要技术变化如下:
a) 增加了部分术语和定义(见4.5.5和5.6.4.5.3);
b) 更改了背散射电子像、二次电子像、吸收电流像及特征X射线的术语和定义(见4.4.1、5.4.2、
5.4.11、5.4.12,2008年版的3.4.1、4.4.2、4.4.11、4.4.12);
c) 更改了部分术语(见5.4.7、5.4.8、5.5.1、5.6.8、5.6.14.2、6.6.8,2008年版的4.4.7、4.4.8、4.5.1、
4.6.8、4.6.14.2、5.6.8)
d) 增加了部分术语的注解和内容(见4.5.5、5.1.2、5.2.2、5.4.7、5.6.2)。
本文件等同采用ISO 23833:2013《微束分析 电子探针显微分析(EPMA) 术语》。
本文件增加了“规范性引用文件”一章。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由全国微束分析标准化技术委员(SAC/TC38)会提出并归口。
本文件起草单位:中国科学院上海硅酸盐研究所。
本文件主要起草人:曾毅、李香庭。
本文件于2008年首次发布,本次为第一次修订。
引 言
电子探针显微分析(EPMA)是微束分析(MBA)领域中一个应用极为广泛的现代技术。电子探针
显微分析能对固体材料(包括金属、合金、陶瓷、玻璃、矿物、聚合物、粉末等)的微米尺度范围内进行元素
定性、定量分析及显微结构分析,已广泛应用于材料科学、高技术产业、基础工业、农业、冶金、地质、生
物、医药卫生、环境保护、商检贸易乃至刑事法庭等领域。各技术领域的术语标准是该领域标准化发展
的先决条件之一,本文件是有关电子探针显微分析的术语。
电子探针显微分析是一门综合性的技术,术语涉及物理、化学、电子学等广泛的学科领域。本文件
只限于定义电子探针显微分析(EPMA)标准化实践中使用和直接有关的术语,其内容包括:
---电子探针显微分析用一般术语定义;
---描述电子探针显微分析仪器的术语定义;
---用于电子探针显微分析方法的术语定义。
微束分析
电子探针显微分析(EPMA) 术语
1 范围
本文件界定了电子探针显微分析(EPMA)实践中使用的术语,包括一般概念的术语和按仪器、分析
方法分类的特定概念的术语。
本文件适用于相关领域(SEM、AEM、EDX等)的所有标准和实践文件中通用术语的定义。
2 规范性引用文件
本文件没有规范性引用文件。
3 缩略语
下列缩略语适用于本文件。
EDX:能谱法(energy-dispersiveX-rayspectrometry)
eV:电子伏(electronvolt)
keV:千电子伏(kiloelectronvolt)
SE:二次电子(secondaryelectron)
4 电子探针显微分析用一般术语定义
4.1
根据聚焦电子束与试样微米至亚微米尺度的体积相互作用激发X射线的谱学原理,对电子激发体
......
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