标准搜索结果: 'GB/T 22094-2008'
| 标准编号 | GB/T 22094-2008 (GB/T22094-2008) | | 中文名称 | 电子数显测高仪 | | 英文名称 | Height measuring instrument with electronic digital display | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | J42 | | 国际标准分类 | 17.040.30 | | 字数估计 | 8,825 | | 发布日期 | 2008-06-25 | | 实施日期 | 2009-01-01 | | 引用标准 | GB/T 2423.3-2006; GB/T 2423.22-2002; GB 4208-2008; GB/T 17163; 17626.2-2006; GB/T 17626.3-2006 | | 标准依据 | 国家标准批准发布公告2008年第11号(总第124号) | | 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 | | 范围 | 本标准规定了电子数显测高仪的术语和定义、型式与基本参数、工作条件、要求、试验方法、检验方法、标志与包装等。 本标准适用于分辨力为0.1μm、0.2μm、0.5μm和1μm, 量程不超过1000㎜的电子数显测高仪。 | GB/T 22094-2008
Height measuring instrument with electronic digital display
ICS １７．０４０．３０
J４２
中华人民共和国国家标准
GB/T ２２０９４-２００８
电 子 数 显 测 高 仪
２００８-０６-２５发布
２００９-０１-０１实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
前言
本标准由中国机械工业联合会提出。
本标准由全国量具量仪标准化技术委员会（ＳＡＣ/TＣ１３２）归口。
本标准起草单位：成都工具研究所、马尔精密量仪（苏州）有限公司。
本标准主要起草人：李维国、姜志刚、唐以杰、何东星、王春。
GB/T ２２０９４-２００８
电 子 数 显 测 高 仪
１ 范围
本标准规定了电子数显测高仪的术语和定义、型式与基本参数、工作条件、要求、试验方法、检验方
法、标志与包装等。
本标准适用于分辨力为０．１μｍ、０．２μｍ、０．５μｍ和１μｍ，量程不超过１０００ｍｍ的电子数显测高
仪（以下简称“测高仪”）。
２ 规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有
的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究
是否使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。
GB/T ２４２３．３-２００６ 电工电子产品环境试验 第２部分：试验方法 试验Ｃａｂ：恒定湿热试验
（IEC ６００６８-２-７８：２００１，ＩＤＴ）
GB/T ２４２３．２２-２００２ 电工电子产品环境试验 第２部分：试验方法 试验 Ｎ：温度变化
（IEC ６００６８-２-１４：１９８４，ＩＤＴ）
GB ４２０８-２００８ 外壳防护等级（ＩＰ代码）（eqv IEC ５２９：１９８９）
GB/T １７１６３ 几何量测量器具术语 基本术语
GB/T １７６２６．２-２００６ 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验（IEC ６１０００-４-２：２００１，
ＩＤＴ）
GB/T １７６２６．３-２００６ 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验（IEC ６１０００-４-
３：２００２，ＩＤＴ）
３ 术语和定义
GB/T １７１６３中确立的以及下列术语和定义适用于本标准。
３．１
利用传感技术和电子技术进行测量的立式数字化几何量测量仪器。用来测量平行平面之间距离、
孔和轴直径、中心距以及相关的形位误差等。
......
|