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[PDF] GB/T 22461.2-2023 - 英文版

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GB/T 22461.2-2023 英文版 1179 GB/T 22461.2-2023 有增值税发票,[PDF]天数 <=7 表面化学分析 词汇 第2部分: 扫描探针显微术术语 有效

基本信息
标准编号 GB/T 22461.2-2023 (GB/T22461.2-2023)
中文名称 表面化学分析 词汇 第2部分: 扫描探针显微术术语
英文名称 Surface chemical analysis -- Vocabulary -- Part 2: Terms used in scanning probe microscopy
行业 国家标准 (推荐)
中标分类 G04
国际标准分类 71.040.40
字数估计 58,513
发布日期 2023-05-23
实施日期 2023-09-01
起草单位 上海市计量测试技术研究院、北京大学、上海交通大学、中国科学院上海应用物理研究所
归口单位 全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
提出机构 全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
发布机构 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

GB/T 22461.2-2023: 表面化学分析 词汇 第2部分: 扫描探针显微术术语
ICS 71.040.40
CCSG04
中华人民共和国国家标准
表面化学分析 词汇
第2部分:扫描探针显微术术语
(ISO 18115-2:2021,MOD)
2023-05-23发布
2023-09-01实施
国 家 市 场 监 督 管 理 总 局
国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 发 布
目次
前言 Ⅲ
引言 Ⅳ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 扫描探针显微法术语 1
4 接触力学模型术语 7
5 扫描探针法术语 8
6 扫描探针显微法补充术语 27
7 扫描探针法补充术语 30
附录A(资料性) 缩略语 34
参考文献 37
索引 38
前言
本文件按照GB/T 1.1-2020《标准化工作导则 第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定
起草。
本文件是GB/T 22461《表面化学分析 词汇》的第2部分。GB/T 22461已经发布了以下部分:
---第1部分:通用术语及谱学术语;
---第2部分:扫描探针显微术术语。
本文件修改采用ISO 18115-2:2021《表面化学分析 词汇 第2部分:扫描探针显微术术语》。
本文件与ISO 18115-2:2021相比做了下述结构调整:
---第3章对应ISO 18115-2:2021的3.1,第3章中术语条目编号按提及顺序依次调整。
本文件与ISO 18115-2:2021的技术差异及原因如下:
---更改了第1章范围的陈述,增加了适用范围,以符合我国文件起草要求。
本文件做了下列编辑性改动:
---删除了第3章中ISO/IEC 术语数据库的网址信息;
---删除了4.3的注2、4.4的注2、4.5的注2中与相应术语定义重复的内容;
---删除了5.2、5.24、5.48、5.110、5.114、5.132的定义来源,原因是来源文件ASTME1813-96已
废止;
---更改了7.25的注1、注4,将“ISO 4287”改为“ISO 21920-2”,原因是后者已替代了前者;
---增加了索引。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)提出并归口。
本文件起草单位:上海市计量测试技术研究院、北京大学、上海交通大学、中国科学院上海应用物理
研究所。
本文件主要起草人:蔡潇雨、朱星、沈轶、孙洁林、胡钧、李源。
引 言
表面化学分析是一个重要的领域,涉及来自不同领域和有不同背景人员间的相互交流。从事表面
化学分析的可能是材料科学家、化学家或物理学家,其研究背景可能以实验或理论为主。使用表面化学
数据的不仅仅是上述人员,也包括其他学科的人员。
通过现有的表面化学分析技术,可以获得来自接近于表面区域(一般在20nm内)的成分信息,当
表面层去除后,用该技术还可得到成分-深度信息。
GB/T 22461《表面化学分析 词汇》由两部分构成。
---第1部分:通用术语及谱学术语。涵盖电子能谱术、质谱术以及光谱术和X射线分析等术语。
---第2部分:扫描探针显微术术语。涵盖扫描探针显微术相关术语。
上述技术的概念源自核物理和辐射科学以及物理化学和光学等广泛领域。广泛的学术领域导致了
对术语不同的解释,相同的概念也会用不同的术语来描述。为了避免由此产生的误解和便于信息的交
流,有必要明确概念,采用正确的术语以确定其定义。
在接触力学中,基础理论通常以缩略语表示。为避免混淆,本文件第4章定义了这些缩略语。第4
章所述模型假定接触材料为均匀且各向同性,具线性弹性的属性。对于非均质、非等向、非线性、黏弹性
或弹塑性的其他材料,能在文献中找到其接触模型。
表面化学分析 词汇
第2部分:扫描探针显微术术语
1 范围
本文件界定了表面化学分析领域扫描探针显微术方面的术语,并给出了相关缩略语清单(见附录A)。
本文件适用于表面化学分析中扫描探针显微术相关的教学、科研、设计、制造、编写相关技术文件和
书刊及技术交流。
2 规范性引用文件
本文件没有规范性引用文件。
3 扫描探针显微法术语
3.1
< SNOM >利用近场(5.88)光源获得拉曼光谱的显微术。此方法以适当偏振光照射样品表面,并将
金属探针针尖(5.120)置于样品表面近场区域。
3.2
原子力显微术 atomic-forcemicroscopy;AFM
机械式扫描表面轮廓的表面成像方法。将尖锐的探针针尖(5.120)安装于柔性悬臂梁(5.18)上,以
探针感应表面力,然后检测探针的偏离。
注1:AFM能进行绝缘或导电表面的高度定量成像(5.69)。
注2:一些原子力显微镜是固定探针针尖位置,沿x、y、z 方向移动样品;另一些原子力显微镜则是固定样品位
置,移动探针针尖。
注3:AFM能用于真空、液相、可控气氛或空气等环境。用锐利针尖和适当的成像模式在合适的样品上可以获得原
子分辨率。
注4:能测量的力种类繁多,包括法向力(5.91),以及侧向力(5.77)、摩擦力(5.62)或剪切力。后三者对应的技术分
别称为侧向力显微术(3.13)、摩擦力显微术(3.11)、剪切力显微术(3.37)。AFM为通用术语,其范围涵盖附录
A中各种力测量的显微术。
注5:AFM能用于测量成像区域中每个像素点的表面法向力。
注6:通常情况,对于探针针尖半径小于100nm的原子力显微镜探针......
   
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