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标准编号 | GB/T 23901.3-2019 (GB/T23901.3-2019) | 中文名称 | 无损检测 射线照相检测图像质量 第3部分:像质分类 | 英文名称 | Non-destructive testing -- Image quality of radiographs -- Part 3: Image quality classes | 行业 | 国家标准 (推荐) | 中标分类 | J04 | 国际标准分类 | 19.100 | 字数估计 | 14,182 | 发布日期 | 2019-06-04 | 实施日期 | 2020-01-01 | 起草单位 | 上海空间推进研究所、上海航天动力科技工程有限公司、上海材料研究所、浙江省缙云像质计厂、湖北三江航天江北机械工程有限公司、矩阵科工检测技术(北京)有限公司、中广核工程有限公司、上海航天设备制造总厂有限公司、四川航天川南火工技术有限公司、上海航天精密机械研究所、上海卫星装备研究所、上海飞天众知科技有限公司、浙江省特种设备检验研究院、航天材料及工艺研究所、中信戴卡股份有限公司、中国科学院声学研究所东海研究站、宁波市特种设备检验研究院、上海航天控制技术研究所、艾因蒂克检测科技(上海)股份有限公司 | 归口单位 | 全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC 56) | 提出机构 | 全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC 56) | 发布机构 | 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会 |
GB/T 23901.3-2019
Non-destructive testing--Image quality of radiographs--Part 3: Image quality classes
ICS 19.100
J04
中华人民共和国国家标准
代替GB/T 23901.3-2009
无损检测 射线照相检测图像质量
第3部分:像质分类
(ISO 19232-3:2013,IDT)
2019-06-04发布
2020-01-01实施
国 家 市 场 监 督 管 理 总 局
中国国家标准化管理委员会 发 布
目次
前言 Ⅲ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 像质等级 2
5 像质计的放置 2
6 像质值的确定 2
7 γ射线照相检测的像质值 2
8 单壁透照技术(源侧A级像质) 3
9 单壁透照技术(源侧B级像质) 4
10 双壁双影透照技术(源侧A级像质) 5
11 双壁双影透照技术(源侧B级像质) 6
12 双壁双影或双壁单影透照技术(探测器侧A级像质) 7
13 双壁双影或双壁单影透照技术(探测器侧B级像质) 8
前言
GB/T 23901《无损检测 射线照相检测图像质量》分为5个部分:
---第1部分:丝型像质计像质值的测定;
---第2部分:阶梯孔型像质计像质值的测定;
---第3部分:像质分类;
---第4部分:像质值和像质表的实验评价;
---第5部分:双丝型像质计图像不清晰度的测定。
本部分为GB/T 23901的第3部分。
本部分按照 GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
本部分代替GB/T 23901.3-2009《无损检测 射线照相底片像质 第3部分:黑色金属像质分
类》,与GB/T 23901.3-2009相比,主要变化如下:
---删除了范围中对“黑色金属”的限制,“黑色金属像质分类”改为“像质分类”;
---修改了规范性引用文件(见第2章,2009年版的第2章);
---修改了术语和定义(见第3章,2009年版的第3章);
---更新了采用Ir192和Se75检测时的像质值确定方法,γ射线照相检测的像质值(见第7章,
2009年版的表1~表4);
---删除了表1~表12中的脚注(见2009年版的表1~表12);
---“射线照相底片像质”改为“射线照相检测图像质量”;
---“像质指数”改为“像质值”;
---“胶片”改为“探测器”;
---“线型像质计”,改为“丝型像质计”。
本部分使用翻译法等同采用ISO 19232-3:2013《无损检测 射线照相检测图像质量 第3部分:像
质分类》。
与本部分中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下:
---GB/T 19802-2005 无损检测 工业射线照相观片灯 最低要求(ISO 5580:1985,IDT)
---GB/T 19943-2005 无损检测 金属材料X和伽玛射线照相检测 基本规则(ISO 5579:
1998,IDT)
---GB/T 23901.1-2019 无损检测 射线照相检测图像质量 第1部分:丝型像质计像质值的
测定(ISO 19232-1:2013,IDT)
---GB/T 23901.2-2019 无损检测 射线照相检测图像质量 第2部分:阶梯孔型像质计像质
值的测定(ISO 19232-2:2013,IDT)
本部分由全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC56)提出并归口。
本部分起草单位:上海空间推进研究所、上海航天动力科技工程有限公司、上海材料研究所、浙江省
缙云像质计厂、湖北三江航天江北机械工程有限公司、矩阵科工检测技术(北京)有限公司、中广核工程
有限公司、上海航天设备制造总厂有限公司、四川航天川南火工技术有限公司、上海航天精密机械研究
所、上海卫星装备研究所、上海飞天众知科技有限公司、浙江省特种设备检验研究院、航天材料及工艺研
究所、中信戴卡股份有限公司、中国科学院声学研究所东海研究站、宁波市特种设备检验研究院、上海航
天控制技术研究所、艾因蒂克检测科技(上海)股份有限公司。
本部分主要起草人:陈亦维、徐国珍、蒋建生、丁杰、柳章龙、王晓勇、江运喜、朱从斌、徐薇、张政、
周建平、危荃、孙建罡、王道龙、黄文大、吕延达、袁生平、刘军、胡玲、陈虎、袁支佐、张瑞、张义凤、翟莲娜、
马君。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
---GB/T 23901.3-2009。
无损检测 射线照相检测图像质量
第3部分:像质分类
1 范围
GB/T 23901的本部分规定了射线照相检测时需达到的像质值,以确保相同的射线照相检测图像
质量评价。
本部分适用于射线照相检测时采用ISO 19232-1规定的丝型像质计和采用ISO 19232-2规定的阶
梯孔型像质计对图像质量进行评价。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
ISO 5579 无损检测 金属材料X或伽玛射线照相检测 基本规则(Non-destructivetesting-Ra-
ISO 5580 无损检测 工业射线照相观片灯 最低要求(Non-destructivetesting-Industrialradi-
Radiographictesting)
ISO 19232-2 无损检测 射线照相检测图像质量 第2部分:阶梯孔型像质计像质值的测定
3 术语和定义
ISO 5579界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
3.1
能够测量所获得的像质,由一系列不同等级尺寸的丝或带孔的阶梯组成的器件。
注:像质计也可用图像质量指示器、IQI表述。像质计类型通常为丝型或阶梯孔型。
3.2
像质值 imagequalityvalue
表示为要求或达到像质计在射线照相检测图像上可识别的最细丝或最小孔的测定值。
注:像质值也可用图像质量值、IQI灵敏度(IQIsensitivity)表述。像质值见表1~表12。
3.3
像质表 imagequalitytable
与透照厚度相对应的所需达到的像质值汇总表。
4 像质等级
4.1 单壁透照
满足ISO 5579的检测要求,可达到表1~表4的像质等级。
a) 对于A级射线照相检测技术,对应A级图像质量(见ISO 5579);
b) 对于B级射线照相检测技术,对应B级图像质量(见ISO 5579)。
表1~表4给出的像质值是用于像质计放在源测的情况。如果像质计不能放在源测,可放在探测
器侧,在这种情况下不能使用表1~表4。
注:对特殊透照(例如:使用Ir192透照薄壁工件),可按规定选取不同的像质值,见第7章。
4.2 双壁透照
满足ISO 5579的检测要求可达到表5~表12的像质等级。
a) 对于A级射线照相检测技术,对应A级图像质量(见ISO 5579);
b) 对于B级射线照相检测技术,对应B级图像质量(见ISO 5579)。
注:对特殊透照(例如:使用Ir192透照薄板工件),可按规定选取不同的像质值,见第7章。
当采用双壁透照射线照相检测技术时,透照厚度w 为射线穿透的工件公称厚度t的总和。
表5~表8所示的像质值适用于像质计放在源侧时双壁双影透照方法的A级和B级像质等级。
表9~表12所示的像质值适用于像质计放在探测器侧时双壁单影透照方法的A级和B级像质等
级,也适用于像质计放在探测器侧时双壁双影透照方法的A级和B级像质等级,如按照ISO 17636进
行椭圆透照检测。
5 像质计的放置
射线照相检测时,像质计应放置于被检工件的源侧表面。当被检工件的源侧表面无法放置像质计
时,像质计可放置在被检工件的探测器侧,但像质计附近需放置铅字“F”以示区别。像质计应放置在工
件厚度相对均匀的区域。如有特殊要求时应按所采用标准的规定进行。
6 像质值的确定
使用胶片射线照相检测,在确定像质值时,观片条件应符合ISO 5580的要求。
对于丝型像质计,在图像上能识别的最细丝的编号即为像质值。当图像密度(或灰度)均匀部位能
清晰的识别长度不小于10mm的连续金属丝影像时,则认为该丝的影像是可识别的。
对于阶梯孔型像质计,在底片上能识别的最小孔的编号即为像质值。当同一阶梯上含有两个孔时,
则两个孔均应在图像上可识别。
一般情况下,每次射线照相检测均应通过确定像质值验证其检测质量是否满足要求。在透照相似
的被检工件和区域时,如果采用相同的曝光和处理技术措施能保证并且所得的像质值没有差别,则不需
要对每张图像质量进行验证,图像质量的验证范围由合同各方商定。
7 γ射线照相检测的像质值
当使用Ir192或Se75进行射线照相检测时,如合同各方认可如下规定,则所得像质值可低于表1~
表12规定。
双壁双影透照方法(表5~表8),透照厚度(w),像质等级包括A级和B级:
---使用Ir192,10mm< w≤25mm,允许像质值减少1;
---使用Se75,5mm< w≤12mm,允许像质值减少1。
单壁单影透照方法和双壁单影透照方法(表1、表2、表9和表10),透照厚度(w),像质等级为
A级:
---使用Ir192,10mm< w≤24mm,允许像质值减少2;
---使用Ir192,24mm< w≤30mm,允许像质值减少1;
---使用Se75,5mm< w≤24mm,允许像质值减少1。
单壁单影透照方法和双壁单影透照方法(表3、表4、表11和表12),透照厚度(w),像质等级为
B级:
---使用Ir192,10mm< w≤40mm,允许像质值减少1;
---使用Se75,5mm< w≤20mm,允许像质值减少1。
8 单壁透照技术(源侧A级像质)
像质计置于源侧,应达到的A级像质值见表1~表2。
表1 丝型像质计像质
A级像质
公称厚度t/mm 像质值
t≤1.2 W18
1.2< t≤2 W17
2< t≤3.5 W16
3.5< t≤5 W15
5< t≤7 W14
7< t≤10 W13
10< t≤15 W12
15< t≤25 W11
25< t≤32 W10
32< t≤40 W9
40< t≤55 W8
55< t≤85 W7
85< t≤150 W6
150< t≤250 W5
t >250 W4
表2 阶梯孔型像质计像质
A级像质
公称厚度t/mm 像质值
t≤2 H3
2< t≤3.5 H4
3.5< t≤6 H5
6< t≤10 H6
10< t≤15 H7
15< t≤24 H8
24< t≤30 H9
30< t≤40 H10
40< t≤60 H11
60< t≤100 H12
100< t≤150 H13
150< t≤200 H14
200< t≤250 H15
250< t≤320 H16
320< t≤400 H17
t >400 H18
9 单壁透照技术(源侧B级像质)
像质计置于源侧,应达到的B级像质值见表3~表4。
表3 丝型像质计像质
B级像质
公称厚度t/mm 像质值
t≤1.5 W19
1.5< t≤2.5 W18
2.5< t≤4 W17
4< t≤6 W16
6< t≤8 W15
8< t≤12 W14
12< t≤20 W13
20< t≤30 W12
30< t≤35 W11
表3(续)
B级像质
公称厚度t/mm 像质值
35< t≤45 W10
45< t≤65 W9
65< t≤120 W8
120< t≤200 W7
200< t≤350 W6
t >350 W5
表4 阶梯孔型像质计像质
B级像质
公称厚度t/mm 像质值
t≤2.5 H2
2.5< t≤4 H3
4< t≤8 H4
8< t≤12 H5
12< t≤20 H6
20< t≤30 H7
30< t≤40 H8
40< t≤60 H9
60< t≤80 H10
80< t≤100 H11
100< t≤150 H12
150< t≤200 H13
200< t≤250 H14
10 双壁双影透照技术(源侧A级像质)
像质计置于源侧,应达到的A级像质值见表5~表6。
表5 丝型像质计像质
A级像质
透照厚度w/mm 像质值
w≤1.2 W18
1.2< w≤2 W17
表5(续)
A级像质
透照厚度w/mm 像质值
2< w≤3.5 W16
3.5< w≤5 W15
5< w≤7 W14
7< w≤12 W13
12< w≤18 W12
18< w≤30 W11
30< w≤40 W10
40< w≤50 W9
50< w≤60 W8
60< w≤85 W7
85< w≤120 W6
120< w≤220 W5
220< w≤380 W4
w >380 W3
表6 阶梯孔型像质计像质
A级像质
透照厚度w/mm 像质值
w≤1 H3
1< w≤2 H4
2< w≤3.5 H5
3.5< w≤5.5 H6
5.5< w≤10 H7
10< w≤19 H8
19< w≤35 H9
11 双壁双影透照技术(源侧B级像质)
像质计置于源侧,应达到的B级像质值见表7~表8。
表7 丝型像质计像质
B级像质
透照厚度w/mm 像质值
w≤1.5 W19
1.5< w≤2.5 W18
2.5< w≤4 W17
4< w≤6 W16
6< w≤8 W15
8< w≤15 W14
15< w≤25 W13
25< w≤38 W12
38< w≤45 W11
45< w≤55 W10
55< w≤70 W9
70< w≤100 W8
100< w≤170 W7
170< w≤250 W6
w >250 W5
表8 阶梯孔型像质计像质
B级像质
透照厚度w/mm 像质值
w≤1 H2
1< w≤2.5 H3
2.5< w≤4 H4
4< w≤6 H5
6< w≤11 H6
11< w≤20 H7
20< w≤35 H8
12 双壁双影或双壁单影透照技术(探测器侧A级像质)
像质计置于探测器侧,应达到的A级像质值见表9~表10。
表9 丝型像质计像质
A级像质
透照厚度w/mm 像质值
w≤1.2 W18
1.2< w≤2 W17
2< w≤3.5 W16
3.5< w≤5 W15
5< w≤10 W14
10< w≤15 W13
15< w≤22 W12
22< w≤38 W11
38< w≤48 W10
48< w≤60 W9
60< w≤85 W8
85< w≤125 W7
1......
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