路径: 主页 > GB/T > 第253页 > GB/T 26125-2011 | 标准编号 | GB/T 26125-2011 (GB/T26125-2011) | | 中文名称 | 电子电气产品 六种限用物质(铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯和多溴二苯醚)的测定 | | 英文名称 | Electrical and electronic products -- Determination of six regulated substances (lead, mercury, cadmium, hexavalent chromium, polybrominated biphenyls, polybrominated diphenyl ethers) | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | L10 | | 国际标准分类 | 31.020 | | 字数估计 | 94,936 | | 发布日期 | 2011-05-12 | | 实施日期 | 2011-08-01 | | 引用标准 | GB/T 27025; ISO/IEC GUIDE 98-1995; ISO 3696; ISO 5961 | | 采用标准 | IEC 62321-2008, IDT | | 标准依据 | 国家标准批准发布公告2011年第6号 | | 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 | | 范围 | 本标准规定T电子电气产品中铅(Pb)、汞(Hg)、镉(Cd)、六价铬(Cr(VI)), 以及多溴联苯(PBB)和多溴二苯醚(PBDE)两类溴化阻燃剂含量的测定方法。本标准只涉及样品的处理和检测, 样品的类别和取样方式由检测机构确定。本标准只涉及样品的处理和检测, 样品的类别和取样方式由检测机构确定。需要注意的是样品的选择会影响检测结果的表述。本标准不包括:样品“单元”或者“均质材料”的定义;获得样品的拆分程序;评价程序。 | GB/T 26125-2011: 电子电气产品 六种限用物质(铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯和多溴二苯醚)的测定
GB/T 26125-2011 英文名称: Electrical and electronic products -- Determination of six regulated substances (lead, mercury, cadmium, hexavalent chromium, polybrominated biphenyls, polybrominated diphenyl ethers)
ICS 31.020
L10
中华人民共和国国家标准
电子电气产品 六种限用物质(铅、汞、镉、
六价铬、多溴联苯和多溴二苯醚)的测定
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
1 范围
本标准规定了电子电气产品中铅(Pb)、汞(Hg)、镉(Cd)、六价铬(Cr(Ⅵ)),以及多溴联苯(PBB)和
多溴二苯醚(PBDE)两类溴化阻燃剂含量的测定方法。
本标准只涉及样品的处理和检测,样品的类别和取样方式由检测机构确定。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的,凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
4.2 样品
本标准的样品是指按照限用物质含量的检测方法进行处理和检测的对象。样品可以是聚合物、金
属或者电子件。
选择什么样品或如何取得样品应由执行检测方法的机构按照相应的规范性文件来确定。
注:这里的机构指委托单位或检测单位。通常,委托方和检测方能够对检测单元达成一致意见。
经过判定,机构可以按均质材料制样,对于这类样品,宜选择相应的聚合物或金属样品的检测方法。
经过判定,机构也可以按电子元器件、电子组件或现场可替换部件(FRU)制样。对于这类样品,宜
选择相应的电子件的检测方法。
4.3 检测方法-流程图
图1给出了测定电子电气产品中限用物质检测方法的流程图。
在获得聚合物、金属或电子件(如:电子元器件、电子组件或现场可替换部件)样品后,就需要决定是
采用筛选检测还是采用确证检测方法。
筛选检测的制样可以是非破坏性(直接测量)的,也可以是破坏性的,应根据样品的均质性来决定制
样方式。许多典型的均质材料(如:聚合物、合金、玻璃)的样品,可进行非破坏性筛选检测,而其他较复
杂的样品(如:现场可替换部件),适宜机械制样。筛选检测和确证检测的机械制样程序是相同的,机械
制样程序见第5章。
样品可以使用任何具备第6章所述性能的EDXRF型或者 WDXRF型X射线荧光光谱仪进行筛
选,筛选程序应在受控的条件下进行。筛选程序应在受控的条件下进行。虽然XRF检测速度快、效能
高,尤其能满足电子电气行业的需求,但在使用XRF分析技术和应用分析结果方面还存在一定的局
限性。
在完成机械制样后,可根据限用物质和所测样品种类(聚合物、金属或电子件)来选用相应的确证检
测方法。表1列出了各种确证方法的概要,详细内容见第7章~第10章及附录A、附录B和附录C。
尽管在使用某一确证方法时可能需要更多的资源,但使用确证方法的目的是尽可能保证最准确的检测
结果。
4.4 基体匹配
对于其限用物质含量较低而其他化学元素或化合物含量较高的样品,或者其主要组分为限用物质
的样品,其限用物质的检测方法常常和材料或基体相关,因此应针对所测材料对检测方法进行调整,调
整可以通过使用适合的空白样品和基体匹配的校准样品,或者通过将分析物与附着材料或基体分离的
预处理步骤。电子产品中的主要材料(或基体)是聚合物(大多数工程塑料含有各种添加剂,有时还有表
面涂层),金属或合金(表面也可能有涂层)和电子件。
4.5 检出限(LOD)和定量限(LOQ)
检出限(LOD)或方法检出限(MDL)通常是以最简捷的方式给出某一测量系统从样品中可靠地检
出分析物最低含量或最小含量值。
仪器检出限表示仪器能够检出空白或标准溶液中分析物的最低浓度,制造厂商通常用它来表征其
系统的测量能力(如:原子吸收光谱仪)。尽管仪器检出限是有用的,但是它们通常要比能代表整个分析
过程的方法检出限低得多。
方法检出限(MDL)大多是通过对低含量样品或基体加标样品(如:塑料)进行重复、独立的全过程
检测来确定,完整的检测包括样品消解或萃取。这种检测宜采用6个平行样,平行样中分析物浓度为方
法检出限(MDL)估算值的3倍~5倍。整个检测过程的方法检出限是将上述重复测试结果的标准偏差
乘以适当的系数。国际纯粹与应用化学联合会(IUPAC)对于重复6次检测的情况推荐的系数为3;而
美国环境保护署(USEPA)则使用单边置信区间,其系数等于检测重复数和置信度所对应的“Student’s
t分布”值(如:当重复数为6和置信度为99%时,t=3.36)。
某一测量系统的定量限(LOQ)或估算的定量限通常是指在实验室的常规工作条件下,在规定的或
可接受的精密度限内能够可靠地检测出样品中分析物的最低含量。可接受的精密度限通常定义为相对
标准偏差的10%;或者简单地表述为方法检出限的2倍~10倍。
4.7 替代的检测方法
对于替代的检测方法、消解方法或者分析技术,只要其性能指标能通过检测方法中质量控制条款对
应的性能评价系统(PBMS)准则的有效性确认,就可以被采用。任何与所述检测方法的偏离都应进行
评估并且以文件化的形式附在检测报告中。
5 机械样品制备
5.1 概述
5.1.1 应用范围
本章描述了在分析限用物质前减小电子电气产品及其组成单元或部件机械尺寸的常规方法。本标
准的检测方法条款中给出了具体情况下对样品处理和制备的要求。本章提供了处理某物体所选部件的
通用指南。使用者可以使用本章所述的一种或多种方法来制备所提交检测的样品。根据所用检测方法
对颗粒尺寸的要求来选择合适的制备方法。只要能够保证样品颗粒尺寸符合要求且样品不会受到限用
物质的污染或影响,也可以选择其他的机械样品制备方法。
5.1.2 质量保证(QA)
由于污染、挥发性组分的蒸发(如受热挥发)或者粉尘排放造成物质损失会导致出现分析偏差的风
险,所以选择适合的设备和清洗程序就非常重要。
研磨设备及其接触样品的附件均可能会导致污染。对所选择的设备,需要了解有哪些元素可能会
释放出来污染受分析的样品,比如钴(Co)和钨(W)可以从碳化钨(WC)设备中释放出来,铬(Cr)、
镍(Ni)、钼(Mo)和钒(V)可能会从不锈钢设备中释放出来。
实验室应通过试验证明机械制备过程不会导致可检测到量的限用物质污染或损失。实验室应通过
试验证明所采用的机械制样设备的清洗程序可以防止前一样品中的限用物质对本样品的污染。
这也可以通过对一个显著含有限用物质的材料制备前或后,对有证标准物质(CRM)和空白进行相
同处理后的分析结果来验证。有证标准物质并不是强制的,但是所使用的材料中应含有已知含量的限
用物质,以确定机械的研磨粉碎和切割程序不会带来限用物质的污染和损失。机械样品制备程序的有
效性可以通过质量控制程序,包括基体加标或者质控样品来进行持续监控。
5.3.3 均质化
均质化适合于再在进一步减少尺寸前在搅拌器中制备粗磨样品,这些样品还需要在离心研磨器中
进一步粉碎。用一个容量两倍于需要被搅拌粉末量的容器,中速搅拌直至将粉末混匀。
5.3.4 细磨/碾碎
细磨/碾碎适合于制备直径小于1mm的样品。如需要,用液氮(5.2j))冷却均匀的样品粉末。对
于不含金属的有机样品,推荐使用低温碾碎。为避免溅射及样品流失,注意应避免液氮(5.2j))和粉末
直接接触,例如可采用聚乙烯容器(5.2n))。用离心研磨器(5.2b))研磨样品。小心清扫离心研磨器
(5.2b))并收集所有颗粒。收集到的材料可通过过筛,即得到已知粒径范围的充分均质的样品。
5.3.5 聚合物和有机材料的超细研磨
本程序适合得到直径为500μm或更小的样品,不适合金属、玻璃或类似的硬质和锋利材料。把大
约3g~10g经过粗剪(3mm~5mm)的材料放于样品瓶中,至大约2/3~3/4容量。加研磨棒并固定
小瓶末端。在室温下通过在储备器中注入液氮(5.2j))的非刀片低温冲压研磨器(5.2c))冷却15min。
将装有样品的小瓶置于研磨器(5.2c))中,锁紧盖子。为了确保得到充分均质的样品,可增加一个或多
个筛子。
6 X射线荧光光谱法(XRF)筛选
6.1 概述
本检测方法描述了用X射线荧光光谱法筛选分析电子电气产品均质材料中五种限用物质的程序。
这五种限用物质分别是铅、汞、镉、总铬、总溴。本方法适用于聚合物、金属及陶瓷材料,也适用于原材
料、取自产品的材料,以及由一种材料以上组成的“均质”混合材料。任何具备本检测方法所规定性能特
征的XRF光谱仪都可以用于样品筛选。并不是每种XRF光谱仪都能适合于所有尺寸和形状的样品,
应谨慎地选择为不同任务而设计的XRF光谱仪。
本方法主要适用于筛选均质材料中的铅、汞、镉、铬、溴(Pb、Hg、Cd、Cr、Br),这五种物质存在于大
多数的电子电气产品中。在特定的分析条件下,XRF光谱所测定的分析信号是试样中每一种元素的总
量信息,但它不能识别化合物或元素的价态。因此,当测定铬及溴元素时,应特别注意检测结果反映的
只是总铬和总溴。六价铬或溴化阻燃剂(多溴联苯或多溴二苯醚)存在与否,应按照表1所提供的其他
检测方法进行确认。
当把这种方法应用到所接收到的电子件样品时,由于样品本身设计就是非均质的,所以对检测结果
的表述应格外谨慎。同样,由于基体材料中存在铬和(或)对通常很薄的镀层(几百纳米)中的铬灵敏度
不足,导致对镀层中铬的分析变得非常困难。
XRF光谱仪通过校准使得对特定基体材料的测量范围可以从检出限到100%的质量比含量。XRF
光谱法是一种相对分析技术,其结果准确度取决于校准质量,即校准物质的质量和仪器响应的模式,
XRF分析容易受到基体效应(吸收或增强)和光谱干扰的影响。
本检测方法的性能已通过表2~表6所列不同含量范围和不同基体中下列物质进行了验证。
6.1.1 原理
本方法给出了对目标元素进行快速和明确筛选的手段。本方法的准确度水平至少可达到所谓的半
定量分析要求,也就是说,在置信度为68%时,测量结果相对不确定度的典型值为30%或者更好。某些
用户可能会根据需要允许更高的相对不确定度,这样的分析性能能够帮助用户筛选出需要附加进行检
测的材料。筛选的总体目标就是获得风险管理所需的信息。
本检测方法旨在让采用不同设计、不同复杂程度及不同性能的XRF光谱仪都可以用于筛选分析。
然而,不同的XRF光谱仪之间的性能差异非常大,某些XRF光谱仪在元素选择性和灵敏度方面相对不
足,而其他XRF光谱仪又相对比较充分;某些XRF光谱仪可以很容易地对不同形状和尺寸的样品进行
测量,而其他XRF光谱仪,特别是研究用 WDXRF光谱仪,在检测试样时非常不方便。
基于能进行有效测量的XRF光谱仪的多样性以及所需的上述分析性能水平,本方法所要求的性能
指标大大低于不确定度很小的高性能定量分析方法所要求的性能指标。
本检测方法是基于性能的分析方法。本标准使用相对通用的术语对仪器设备、样品制备和校准进
行了规定,用户应有责任将实验室应用该方法的所有程序文件化。用户应为本方法所涉及的各种情况
编写一个书面的“作业指导书”。
本方法规定了XRF光谱仪以及检测方法的性能参数,用户应用文件证明其满足要求。
6.5.1 概要
本检测程序包括XRF光谱仪的准备、待测样品的制备与安装和仪器校准。由于XRF光谱仪的多
样性、实验室及样品的广泛性,某些指导程序采用了比较通用的术语进行表述。然而,所有光谱仪和分
析方法都应遵循的基本规则是校准和样品检测都应在相同的条件下进行并执行相同的制样程序。
考虑到XRF光谱仪设计类型及对应检测能力范围的多样性,了解所选择仪器的局限性非常重要。
某些设计的光谱仪无法对面积很小或者很薄的样品进行检测或进行准确的测定。因此,实验室在应用
本检测方法时,由使用人员谨慎确认所建方法的检测性能并加以证明就显得非常重要。其目标之一就
是避免“假阴性”的分析结果。
6.7.1 铅
对于聚合物中铅的测定,当铅含量高于100mg/kg时,其测量的平均相对不准确度好于±13%,平
均相对不精密度好于±19%。当铅含量在10mg/kg时,相对不准确度和相对不精密度分别为±30%
和±70%。在铝合金中,相对不准确度和相对不精密度分别好于±10%和±25%。锡合金中铅含量为
174mg/kg时,没有结论性结果,结果从60mg/kg~380mg/kg;合金钢中30mg/kg的铅未检出。
磨碎的印制电路板的结果巨大的不准确度和不精密度来源于材料可能存在的不均匀性。
6.7.2 汞
对于聚合物中汞含量的测定,当汞含量小于或等于1000mg/kg时,测量结果的平均相对不准确度
好于±10%,同时相对不精密度好于±25%;没有检测合金材料中的汞含量。
6.7.3 镉
对于聚合物中镉含量的测定,当镉含量大于或等于100mg/kg时,测量结果的平均相对不准确度
是±10%,同时相对不精密度好于±15%;对于20mg/kg含量水平的镉,相对不准确度从±10%到
±50%各不相同,相对不精密度从20%到100%。对于锡合金中3.3mg/kg含量水平的镉,所有的仪
器都未检出。
6.7.4 铬
对于聚合物中铬含量的测定,当总铬含量处于或低于115mg/kg时,测量结果的平均相对不准确
度好于17%,同时相对不精密度大约是±30%;对于含量水平相近的玻璃,总铬的相对不准确度和相对
不精密度分别好于±20%和35%。对于铝合金材料中1100mg/kg含量水平的铬,相对不准确度和相
对不精密度分别是±10%和好于±41%;铝合金中100mg/kg含量的铬未检出。
6.7.5 溴
根据有证标准物质,聚合物中,当总溴含量处于或低于1000mg/kg时,测量结果的平均相对不准
确度好于±10%,并且相对标准偏差好于±13%;对于含量10%的高溴样品,相对不准确度好于
±25%,相对不精密度约为±30%,后者反映出,对于高溴样品,经验系数法的局限性。
一般来说,在含量水平超过100mg/kg的聚合物和铝合金材料中,对于所有五种元素分析结果的
相对不准确度和相对不精密度均好于±20%。
6.8 质量控制
6.8.1 校准的准确度
应进行下列步骤来验证校准的准确度:
a) 每一次校准都要......
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