路径: 主页 > GB/T > 第175页 > GB/T 31472-2015 | 标准编号 | GB/T 31472-2015 (GB/T31472-2015) | | 中文名称 | X光电子能谱中荷电控制和荷电基准技术标准指南 | | 英文名称 | Standard guide to charge control and charge referencing techniques in X-ray photoelectron spectroscopy | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | N26 | | 国际标准分类 | 17.220.20 | | 字数估计 | 15,146 | | 发布日期 | 2015-05-15 | | 实施日期 | 2016-01-01 | | 引用标准 | GB/T 22461-2008; GB/T 22571-2008; SJ/T 10458-1993 | | 标准依据 | 国家标准公告2015年第15号 | | 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 | | 范围 | 本标准规定了X射线光电子能谱(XPS)的荷电控制和荷电基准技术。本标准适用于XPS荷电控制和荷电定位技术, 不适用于其他电子激发系统。 | GB/T 31472-2015
Standard guide to charge control and charge referencing techniques in X-ray photoelectron spectroscopy
ICS 17.220.20
N26
中华人民共和国国家标准
X光电子能谱中荷电控制和
荷电基准技术标准指南
2015-05-15发布
2016-01-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
前言
本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)提出并归口。
本标准起草单位:信息产业专用材料质量监督检验中心、中国电子技术标准化研究院、苏州晶瑞化
学有限公司、天津中环领先材料技术有限公司。
本标准主要起草人:李雨辰、何秀坤、刘筠、刘兵、李翔。
引 言
X射线光电子能谱用于固体材料表面元素组成和元素化合态的测试与表征,通过某一元素结合能
的细微变化可获得该元素化合态信息。
对于绝缘样品表面,X光激发的光电子发射会导致表面正电荷积累,改变表面电势,因此使测得的
光电子谱峰位向高结合能偏移。表面感生电荷的数量、在样品表面的分布及其与试验条件的依赖关系
决定于许多因素,包括样品成分、样品的均匀性、表面电导率、总光致电离截面、表面形貌、激发X光的
特殊空间分布、中和电子等。荷电积累是发生在样品表面和材料内部的三维现象。
本标准描述了各种已经或即将用于采集和解析绝缘样品表面的X射线光电子能谱数据的荷电控
制与针对荷电偏移的校正方法,目的是通过控制荷电积累,校正由于表面充电引起的结合能飘移,以得
到有意义且可重现的绝缘样品的测试数据。
X光电子能谱中荷电控制和
荷电基准技术标准指南
1 范围
本标准规定了X射线光电子能谱(XPS)的荷电控制和荷电基准技术。
本标准适用于XPS荷电控制和荷电定位技术,不适用于其他电子激发系统。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 22461-2008 表面化学分析 词汇(ISO 18115:2001,IDT)
GB/T 22571-2008 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准
SJ/T 10458-1993 俄歇电子能谱术和X射线光电子能谱术的样品处理标准导则
3 术语和定义
GB/T 22461-2008界定的术语和定义适用于本文件。
4 符号和缩略语
下列符号和缩略语适用于本文件。
BE ---结合能,单位为电子伏(eV);
BEcorr ---校准后结合能,单位为电子伏(eV);
BEmeas ---测量结合能,单位为电子伏(eV);
BEref ---参考结合能,单位为电子伏(eV);
BEmeas,ref---参考线的标准结合能,单位为电子伏(eV);
FWHM ---谱峰在背底以上半高峰宽,单位为电子伏(eV);
Δcorr ---荷电校正时与测得的结合能相加的校准能量值,单位为电子伏(eV)。
5 仪器
5.1 实际的XPS谱仪可能应用了本标准中涉及的一个或多个荷电补偿技术。在仪器操作过程中应遵
循厂家提供的手册和其他说明文件进行。
5.2 荷电控制需要特殊的仪器附件,如电子中和枪或......
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