路径: 主页 > GB/T > 第186页 > GB/T 33714-2017 | 标准编号 | GB/T 33714-2017 (GB/T33714-2017) | | 中文名称 | 纳米技术 纳米颗粒尺寸测量 原子力显微术 | | 英文名称 | Nanotechnology -- Test method for size of nanoparticles -- Atomic force microscopy | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | N04 | | 国际标准分类 | 19.020 | | 字数估计 | 21,257 | | 发布日期 | 2017-05-12 | | 实施日期 | 2017-12-01 | | 引用标准 | GB/T 27760; GB/T 30544.1-2014; ISO 18115-2 | | 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 | | 范围 | 本标准规定了用原子力显微术(Atomic force microscopy，简称AFM)测量纳米颗粒高度来表征纳米颗粒尺寸的方法。本标准适用于分散在平整衬底表面上的纳米颗粒测量。 | GB/T 33714-2017
ICS 19.020
N04
中华人民共和国国家标准
纳米技术 纳米颗粒尺寸测量
原子力显微术
2017-05-12发布
2017-12-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
目次
前言 Ⅲ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 基本原理和模式 1
5 仪器 2
6 测量样品的预处理 2
7 测量方法 3
8 测量结果 5
9 不确定度评定 5
10 测量报告 5
附录A(资料性附录) 纳米颗粒的沉积方法 7
附录B(资料性附录) 纳米颗粒高度测量实例 10
附录C(资料性附录) 不确定度评定 13
附录D(资料性附录) 推荐的测量报告格式 15
参考文献 16
前言
本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本标准由中国科学院提出。
本标准由全国纳米技术标准化技术委员会(SAC/TC279)归口。
本标准起草单位:国家纳米科学中心、纳米技术及应用国家工程研究中心、北京粉体技术协会。
本标准主要起草人:朱晓阳、杨延莲、高洁、何丹农、朱君、周素红、张迎。
纳米技术 纳米颗粒尺寸测量
原子力显微术
警告:本标准并未指出所有可能的安全问题,在应用本标准之前,使用者有责任采取适当的安全和
健康措施,并保证符合国家有关法规规定的条件。
1 范围
米颗粒尺寸的方法。
本标准适用于分散在平整衬底表面上的纳米颗粒测量。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 27760 利用Si(111)晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法
GB/T 30544.1-2014 纳米科技 术语 第1部分:核心术语
ISO 18115-2 表面化学分析 术语 第2部分 扫描探针显微术术语(Surfacechemical
3 术语和定义
GB/T 27760、GB/T 30544.1和ISO 18115-2界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
3.1
团聚体 agglomerate
弱束缚颗粒的堆积体、聚集体或二者的混合体,其外表面积与其单个颗粒的表面积的总和相近。
注1:支撑团聚体的作用力都是弱力,如范德华力或简单的物理缠结。
注2:团聚体也被称为次级颗粒,而源颗粒则被称为初级颗粒。
注3:利用成像技术,如AFM,一般很难区分样品在沉积过程中形成的团聚(即假象)或事先存在的团聚体。
3.2
聚集体 aggregate
强束缚或融合在一起的颗粒构成的新颗粒,其外表面积可能小于其单个颗粒表面积的总和。
注1:支撑聚集体的力都是强作用力,如共价键或源于烧结或复杂的物理缠结。
注2:聚集体也被称为次级颗粒,而源颗粒则被称为初级颗粒。
注3:利用成......
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