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[PDF] GB/T 36359-2018 - 英文版

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GB/T 36359-2018 英文版 279 GB/T 36359-2018 [PDF]天数 >=3 半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范 有效
基本信息
标准编号 GB/T 36359-2018 (GB/T36359-2018)
中文名称 半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范
英文名称 Semiconductor optoelectronic devices -- Blank detail specification for lower power light-emitting diodes
行业 国家标准 (推荐)
中标分类 L53
国际标准分类 31.260
字数估计 14,132
发布日期 2018-06-07
实施日期 2019-01-01
标准依据 国家标准公告2018年第9号
发布机构 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会

GB/T 36359-2018 Semiconductor optoelectronic devices--Blank detail specification for lower power light-emitting diodes ICS 31.260 L53 中华人民共和国国家标准 半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范 2018-06-07发布 2019-01-01实施 国 家 市 场 监 督 管 理 总 局 中国国家标准化管理委员会 发 布 前言 本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。 本标准由中华人民共和国工业和信息化部(电子)归口。 本标准起草单位:中国电子科技集团公司第十三研究所、国家半导体器件质量监督检验中心、中国 电子技术标准化研究院。 本标准主要起草人:张瑞霞、赵敏、黄杰、彭浩、赵英、刘秀娟、张晨朝、刘东月。 半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范 引言 本空白详细规范是半导体光电子器件的一系列空白详细规范之一。 相关文件: GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温 GB/T 2423.3-2016 环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验 GB/T 2423.4-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Db:交变湿热(12h+ 12h循环) GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击 GB/T 2423.10-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc:振动(正弦) GB/T 2423.15-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ga和导则:稳态加 速度 GB/T 2423.22-2012 环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化 GB/T 2423.23-2013 环境试验 第2部分:试验方法 试验Q:密封 GB/T 2423.28-2005 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验T:锡焊 GB/T 2423.60-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验 U:引出端及整体安 装件强度 GB/T 2424.19-2005 电工电子产品环境试验 模拟贮存影响的环境试验导则 GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范 GB/T 12565-1990 半导体器件 光电子器件分规范 SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法 IEC 60749-21:2011 半导体器件 机械和气候试验方法 第21部分:可焊性(Semiconductorde- 要求资料 下列所要求的各项内容,应列入规定的相应空栏中。 详细规范的识别: [1] 授权发布详细规范的国家标准化机构名称。 [2] IEC Q详细规范号。 [3] 总规范和分规范的版本号和标准号。 [4] 详细规范的国家编号、发布日期及国家标准体系要求的任何更详细的资......

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