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[PDF] GB/T 36655-2018 - 英文版

标准号码	内文	价格美元	第2步(购买)	交付天数	标准名称	状态
GB/T 36655-2018	英文版	199	GB/T 36655-2018	[PDF]天数 >=3	电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法	有效

基本信息
标准编号	GB/T 36655-2018 (GB/T36655-2018)
中文名称	电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法
英文名称	Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging -- XRD method
行业	国家标准 (推荐)
中标分类	L90
国际标准分类	31.030
字数估计	10,117
发布日期	2018-09-17
实施日期	2019-01-01
发布机构	国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会

GB/T 36655-2018 Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging - XRD method ICS 31.030 L90 中华人民共和国国家标准电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法 2018-09-17发布 2019-01-01实施国家市场监督管理总局中国国家标准化管理委员会发布前言本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)提出并归口。本标准起草单位:国家硅材料深加工产品质量监督检验中心、江苏联瑞新材料股份有限公司、汉高华威电子有限公司。本标准主要起草人:封丽娟、李冰、陈进、夏永生、曹家凯、吕福发、阮建军、王松宪。电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法 1 范围本标准规定了电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的XRD测试方法。本标准适用于电子封装用球形二氧化硅微粉中检测α态晶体二氧化硅含量,其他无定形二氧化硅含量的检测也可参照本标准执行。α态晶体二氧化硅含量测试范围0.5%以下半定量分析,0.5%~5% 定量分析。 2 规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 JY/T 009 转靶多晶体X射线衍射方法通则 3 术语和定义下列术语和定义适用于本文件。 3.1 采用火焰成球法、高温熔融喷射法或等离子体法制备,应用于电子封装领域的球形二氧化硅微粉。 4 方法原理晶体二氧化硅和无定形二氧化硅在特征X射线照射下各自具有特有的X射线散射花样,晶体二氧化硅的散射强度与其含量成比例。 5 仪器设备和管理样品 5.1 仪器设备 5.1.1 多晶X射线衍射仪带微机、铜靶、狭缝、滤波片并......

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