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[PDF] GB/T 38621-2020 - 英文版

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GB/T 38621-2020 英文版 249 GB/T 38621-2020 [PDF]天数 <=3 发光二极管模块热特性瞬态测试方法 有效

基本信息
标准编号 GB/T 38621-2020 (GB/T38621-2020)
中文名称 发光二极管模块热特性瞬态测试方法
英文名称 Transient thermal test method for light emitting diode modules
行业 国家标准 (推荐)
中标分类 L63
国际标准分类 31.120
字数估计 13,199
发布日期 2020-04-28
实施日期 2020-11-01
引用标准 SJ/T 11394-2009
发布机构 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
范围 本标准规定了由单个、多个发光二极管(LED)芯片或器件组成的LED模块热特性瞬态测试方法原理、一般要求、测试步骤、结果分析及计算、测试报告。本标准适用于单个、多个LED芯片或器件封装而成的模块,以及LED芯片或器件和其他微电子器件构成的模块热特性测量。其他多芯片或器件封装而成的模块热特性测量也可参考。

GB/T 38621-2020 Transient thermal test method for light emitting diode modules ICS 31.120 L63 中华人民共和国国家标准 发光二极管模块热特性瞬态测试方法 2020-04-28发布 2020-11-01实施 国 家 市 场 监 督 管 理 总 局 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 发 布 目次 前言 Ⅰ 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 术语和定义 1 4 原理 2 5 一般要求 2 6 测试步骤 3 7 结果分析及计算 4 8 测试报告 5 附录A(资料性附录) 相关测试结果分析示例 6 附录B(规范性附录) 相对热特性瞬态测试方法 8 参考文献 10 前言 本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。 本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出并归口。 本标准起草单位:中国科学院半导体研究所、中国电子技术标准化研究院。 本标准主要起草人:赵丽霞、马占红、符佳佳、孙雪娇、李晋闽、刘秀娟、赵英。 发光二极管模块热特性瞬态测试方法 1 范围 本标准规定了由单个、多个发光二极管(LED)芯片或器件组成的LED模块热特性瞬态测试方法原 理、一般要求、测试步骤、结果分析及计算、测试报告。 本标准适用于单个、多个LED芯片或器件封装而成的模块,以及LED芯片或器件和其他微电子器 件构成的模块热特性测量。其他多芯片或器件封装而成的模块热特性测量也可参考。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法 3 术语和定义 下列术语和定义适用于本文件。 3.1 LED模块 LEDmodule 一个或多个LED芯片或器件组成的发光单元。 注:可包括提高其光、机、电、热等特性的其他元器件,但是并不包括电子控制装置。 3.2 结温 junctiontemperature 模块中主要发热部分的半导体p-n结的温度。 3.3 基板温度 basetemperature 模块功率集中区对应的焊盘点或由制造商指定的测量点的温度。 3.4 热功率 heatpower PH LED模块处于工作状态下,由所提供电总功率减去......

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