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| 标准号码 | 内文 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 | 状态 |
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GB/T 4057-1983
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英文版
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RFQ
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询价
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[PDF]天数 >=3
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硅单晶微缺陷的化学腐蚀检验方法
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作废
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| 标准编号 | GB/T 4057-1983 (GB/T4057-1983) | | 中文名称 | 硅单晶微缺陷的化学腐蚀检验方法 | | 英文名称 | Single crystal silicon--Detection of microdefects--Chemical etching technique | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 发布日期 | 12/20/1983 | ......
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