路径: 主页 > GB/T > 第526页 > GB/T 41074-2021 | 标准编号 | GB/T 41074-2021 (GB/T41074-2021) | | 中文名称 | | | 英文名称 | Microbeam analysis - Method of specimen preparation for analysis of general powders using WDS and EDS | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | G04 | | 字数估计 | 14,111 | | 发布机构 | 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会 | GB/T 41074-2021
ICS 71.040.99
CCSG04
中华人民共和国国家标准
微束分析 用于波谱和能谱分析的
粉末试样制备方法
(ISO 20720:2018,IDT)
2021-12-31发布
2022-07-01实施
国 家 市 场 监 督 管 理 总 局
国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 发 布
目次
前言 Ⅲ
引言 Ⅳ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 缩略语 1
5 试样制备方法 1
6 导电性处理 6
附录A(资料性) 压强对压片X射线强度影响的实例 7
附录B(资料性) 颗粒尺寸对压片X射线强度影响的实例 8
参考文献 9
前言
本文件按照 GB/T 1.1-2020《标准化工作导则 第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规
定起草。
本文件等同采用ISO 20720:2018《微束分析 用于波谱和能谱分析的粉末试样制备方法》。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)提出并归口。
本文件起草单位:中国地质科学院矿产资源研究所、核工业北京地质研究院、中国科学院地质与地
球物理研究所。
本文件主要起草人:陈振宇、范光、毛骞。
引 言
虽然电子探针(EPMA)和扫描电镜(SEM)在粉末分析中广泛应用,但也存在一些困难,特别是在
单个颗粒分析的情况下,如:
a) 试样制备过程中的颗粒团聚;
b) 试样的固定,尤其是当存在少量细小颗粒用于表面分析或截面分析时;
c) 具有核-壳结构的小颗粒的横截面制备;
d) 在颗粒表面对电子束敏感的情况下,保护颗粒表面不受电子束辐照损伤;
e) 在电子辐照下对试样荷电的中和,以防止粉末由于电荷排斥而飞溅或分散;
f) 当产生X射线的体积大于粉末颗粒时,定性、定量分析结果的解释。
在分析粉末元素组成的情况下,试样制备也会影响分析结果,因为颗粒聚集体或团聚体中的粗糙
度、空隙空间可以影响X射线强度。
为了克服这些困难,对颗粒分析的试样制备进行标准化是非常重要的。
微束分析 用于波谱和能谱分析的
粉末试样制备方法
1 范围
本文件规定了使用安装在电子探针(EPMA)或扫描电镜(SEM)上的能谱仪(EDS)或波谱仪
(WDS)分析粉末中的颗粒时的试样制备方法。根据分析目的和颗粒尺寸,对粉末颗粒试样的制备方法
进行了分类。
本文件适用于粒径范围在100nm~100μm的无机物颗粒。
本文件不适用于一些特殊应用,如法医分析或痕量分析。
2 规范性引用文件
本文件没有规范性引用文件。
3 术语和定义
本文件没有需要界定的术语和定义。
4 缩略语
下列缩略语适用于本文件。
EDS:能谱仪(energy-dispersiveX-rayspectrometer)
EDX:能谱术(energy-dispersiveX-rayspectroscopy)
能谱法(energy-dispersiveX-rayspectrometry)
WDS:波谱仪(wavelength-dispersiveX-rayspectrometer)
WDX:波谱术(wavelength-dispersiveX-rayspectroscopy)
波谱法(wavelength-dispersiveX-rayspectrometry)......
|