路径: 主页 > GB/T > 第727页 > GB/T 42968.9-2025 | 标准编号 | GB/T 42968.9-2025 (GB/T42968.9-2025) | | 中文名称 | 集成电路 电磁抗扰度测量 第9部分：辐射抗扰度测量 表面扫描法 | | 英文名称 | Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 9: Measurement of radiated immunity - Surface scan method | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | L56 | | 国际标准分类 | 31.200 | | 字数估计 | 26,248 | | 发布日期 | 2025-12-02 | | 实施日期 | 2025-12-02 | | 发布机构 | 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会 | GB/T 42968.9-2025: 集成电路 电磁抗扰度测量 第9部分：辐射抗扰度测量 表面扫描法
ICS 31.200
CCSL56
中华人民共和国国家标准
集成电路 电磁抗扰度测量
第9部分:辐射抗扰度测量 表面扫描法
(IEC TS62132-9:2014,IDT)
2025-12-02发布
2025-12-02实施
国 家 市 场 监 督 管 理 总 局
国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 发 布
目次
前言 Ⅲ
引言 Ⅳ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语、定义和缩略语 1
3.1 术语和定义 1
3.2 缩略语 2
4 通则 2
5 试验条件 2
5.1 通则 2
5.2 电源电压 3
5.3 频率范围 3
6 试验设备 3
6.1 通则 3
6.2 屏蔽 3
6.3 RF骚扰发生器 3
6.4 电缆 3
6.5 近场探头 3
6.6 探头定位和数据采集系统 4
6.7 DUT监测器 4
7 试验布置 5
7.1 通则 5
7.2 试验配置 5
7.3 试验电路板 5
7.4 探头定位系统软件设置 5
7.5 DUT软件 6
8 试验程序 6
8.1 通则 6
8.2 运行检查 6
8.3 抗扰度试验 6
9 试验报告 8
9.1 通则 8
9.2 试验条件 8
9.3 探头设计和校准 8
9.4 试验数据 8
9.5 后处理 9
9.6 数据交换 9
附录A(资料性) 近场探头校准 10
附录B(资料性) 电场探头和磁场探头 14
附录C(资料性) 坐标系统 16
参考文献 19
前言
本文件按照GB/T 1.1-2020《标准化工作导则 第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定
起草。
本文件是GB/T 42968《集成电路 电磁抗扰度测量》的第9部分。GB/T 42968已经发布了以下
部分:
---第1部分:通用条件和定义;
---第2部分:辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法;
---第3部分:大电流注入(BCI)法;
---第4部分:射频功率直接注入法;
---第5部分:工作台法拉第笼法;
---第8部分:辐射抗扰度测量 IC带状线法;
---第9部分:辐射抗扰度测量 表面扫描法。
本文件等同采用IEC TS62132-9:2014《集成电路 电磁抗扰度测量 第9部分:辐射抗扰度测
量 表面扫描法》。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本文件由全国集成电路标准化技术委员会(SAC/TC599)归口。
本文件起草单位:中国电子技术标准化研究院、扬芯科技(深圳)有限公司、北京智芯微电子科技有
限公司、天津先进技术研究院、厦门海诺达科学仪器有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、上海电
器设备检测所有限公司、厦门市产品质量监督检验院、华东师范大学、中国家用电器研究院、北京航空航
天大学、北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、中国计量大学、中国合格评定国家认可中心、深圳
市恒创技术有限公司、中国汽车工程研究院股份有限公司、中山大学、北京高搏电磁兼容技术有限公司、
河南省电子信息产品质量检验技术研究院、中家院(北京)检测认证有限公司、上海机动车检测认证技术
研究中心有限公司、重庆赛力斯新能源汽车设计院有限公司。
本文件主要起草人:付君、程江河、陈梅双、崔强、杨红波、吴建飞、方文啸、孙云龙、李焕然、邵鄂、
梁吉明、邢琳、廉鹏飞、亓新、张艳艳、阎照文、李齐、李燕、刘佳、杨志奇、谭泽强、高新杰、李博、弓兆博、
王晓迪、伍强。
引 言
为规范集成电路电磁抗扰度测量,以及为集成电路制造商和检测机构提供不同的电磁抗扰度测量
方法,GB/T 42968规定了集成电路电磁抗扰度测量的通用条件、定义和不同测量方法的试验程序和试
验要求,拟由7个部分构成。
---第1部分:通用条件和定义。目的在于规定集成电路电磁抗扰度测量的通用条件和定义。
---第2部分:辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法。目的在于规定TEM 小室和宽
带TEM小室法的试验程序和试验要求。
---第3部分:大电流注入(BCI)法。目的在于规定大电流注入法的试验程序和试验要求。
---第4部分:射频功率直接注入法。目的在于规定射频功率直接注入法的试验程序和试验要求。
---第5部分:工作台法拉第笼法。目的在于规定工作台法拉第笼法的试验程序和试验要求。
---第8部分:辐射抗扰度测量 IC带状线法。目的在于规定IC带状线法的试验程序和试验
要求。
---第9部分:辐射抗扰度测量 表面扫描法。目的在于规定表面扫描法的试验程序和试验要求。
集成电路 电磁抗扰度测量
第9部分:辐射抗扰度测量 表面扫描法
1 范围
本文件描述了评估近电场、近磁场或近电磁场分量对集成电路(IC)影响的测量方法。本测量方法
旨在用于IC的架构分析,例如平面规划和配电优化。本测量方法也可用于测量扫描探头能够靠近的、
安装在任何电路板上的IC。某些情况下,本测量方法不仅可扫描IC,还可扫描IC的环境。为了对比不
同IC的表面扫描抗扰度,宜使用IEC 62132-1规定的标准试验板。
本测量方法提供了IC对其上方的电场或磁场近场骚扰的敏感度(抗扰度)图。测量探头的性能和
探头定位系统的精度决定了测量的分辨率。本方法预期使用的最高频率为6GHz。使用现有探头技术
可扩展上限频率范围,但这超出了本文件的范围。本测量方法使用连续波 (CW)、幅度调制 (AM)或
脉冲调制 (PM)信号在频域进行。
2 规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文
件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于
本文件。
Vocabulary(IEV)-Part131:Circuittheory]
注:GB/T 2900.74-2008 电工术语 电路理论(IEC 60050-131:2002,MOD)
注:GB/T 4365-2024 电工术语 电磁兼容(IEC 60050-161:2021,MOD)
IEC 62132-1 集成电路 电磁抗扰度测量(150kHz~1GHz) 第1部分:通用条件和定义(Inte-
注:GB/T 42968.1-2023 集成电路 电磁抗扰度测量 第1部......
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