路径: 主页 > GB/T > 第241页 > GB/T 44221-2024 | 标准编号 | GB/T 44221-2024 (GB/T44221-2024) | | 中文名称 | 光学系统波前像差的测定 夏克-哈特曼光电测量法 | | 英文名称 | Determination of wavefront aberration in optical systems - Electro-optical Shack-Hartmann method | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | L50 | | 国际标准分类 | 17.180.99 | | 字数估计 | 24,253 | | 发布日期 | 2024-07-24 | | 实施日期 | 2025-02-01 | | 发布机构 | 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会 | GB/T 44221-2024: 光学系统波前像差的测定 夏克-哈特曼光电测量法
中华人民共和国国家标准
ICS 17.180.99CCS L 50
光学系统波前像差的测定
夏克⁃哈特曼光电测量法
Determination of wavefront aberration in optical systems-
Electro⁃optical Shack⁃Hartmann method
2024⁃07⁃24 发布
2025⁃02⁃01 实施
国 家 市 场 监 督 管 理 总 局
国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 发 布
目次
前言·····Ⅲ
1 范围·····1
2 规范性引用文件····1
3 术语和定义·····1
4 测量原理及方法····2
4.1 测量原理·····2
4.2 光学系统波前像差测量方法····2
4.3 光学零件面形偏差的测量····3
5 测量条件····4
5.1 测量环境·····4
5.2 样品····4
6 设备及装置·····4
6.1 测量仪·····4
6.2 辅助镜头·····5
7 测量步骤····5
7.1 测量前准备····5
7.2 波前重构方法的选择···6
7.3 光路对准·····6
7.4 测量与数据的判定····6
8 测量数据处理·····6
9 测量报告····7
附录 A（资料性） 波前复原方法···8
附录 B（资料性） Zernike 多项式序列····11
附录 C（资料性） 测量报告···13
参考文献·····14
前言
本文件按照 GB/T 1.1-2020《标准化工作导则 第 1 部分：标准化文件的结构和起草规则》的规
定起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由中国科学院提出。
本文件由全国光测量标准化技术委员会（SAC/TC 487）归口。
本文件起草单位：中国科学院苏州生物医学工程技术研究所、中国科学院光电技术研究所、中国标
准化研究院、中国科学院空天信息创新研究院、中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、苏州慧利
仪器有限责任公司、中国计量科学研究院、长春奥普光电技术股份有限公司、浙江舜宇光学有限公司、
成都科奥达光电技术有限公司、苏州一光仪器有限公司、舟山市质量技术监督检测研究院。
本文件主要起草人：史国华、邢利娜、何益、杨金生、蔡建奇、王璞、刘春雨、韩森、洪宝玉、冯长有、
包明帝、叶虹、谢桂华、伍开军、沈晨雁、郝华东。
光学系统波前像差的测定
夏克⁃哈特曼光电测量法
1 范围
本文件描述了采用夏克 ⁃哈特曼法测量光学系统波前像差的原理及方法、测量条件、设备及装置、
测量步骤以及测量数据处理。
本文件适用于采用夏克 ⁃哈特曼法测量光学系统波前像差的测量，也适用于光学零件面形偏差的
测量。
2 规范性引用文件
本文件没有规范性引用文件。
3 术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
3.1
波前 wavefront
光波传播时的等相位面。
[来源：GB/T 13962-2009，2.28]
3.2
波前像差 wavefront aberration
波前与理想波前的偏差。
[来源：GB/T 41869.2-2022，3.1，有修改]
3.3
面形偏差 surface form deviation
被测光学表面相对于参考光学表面的偏差。
[来源：GB/T 2831-2009，3.1]
3.4
波前重构 wavefront reconstruction
通过子孔径的斜率计算得到入射波前的相位分布的过程。
3.5
口径 diameter
仪器能够检测的光学零件或系统的通光孔径。
3.6
自准直法 autoco......
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