路径: 主页 > GB/T > 第735页 > GB/T 44937.6-2025 | 标准编号 | GB/T 44937.6-2025 (GB/T44937.6-2025) | | 中文名称 | 集成电路 电磁发射测量 第6部分：传导发射测量 磁场探头法 | | 英文名称 | Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | L56 | | 国际标准分类 | 31.200 | | 字数估计 | 38,316 | | 发布日期 | 2025-12-31 | | 实施日期 | 2026-07-01 | | 发布机构 | 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会 | GB/T 44937.6-2025: 集成电路 电磁发射测量 第6部分：传导发射测量 磁场探头法
ICS 31.200
CCSL56
中华人民共和国国家标准
集成电路 电磁发射测量
第6部分:传导发射测量 磁场探头法
(IEC 61967-6:2008,Integratedcircuits-Measurementof
conductedemissions-Magneticprobemethod,IDT)
2025-12-31发布
2026-07-01实施
国 家 市 场 监 督 管 理 总 局
国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 发 布
目次
前言 Ⅲ
引言 Ⅳ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 概述 1
4.1 测量基础 1
4.2 测量原理 2
5 试验条件 2
5.1 概述 2
5.2 频率范围 2
6 试验设备 2
6.1 概述 2
6.2 磁场探头 2
6.3 探头间距固定装置和探头的放置 2
7 试验布置 5
7.1 概述 5
7.2 探头校准 5
7.3 标准IC试验板的改进 5
8 试验程序 9
8.1 概述 9
8.2 试验技术 9
9 试验报告 10
9.1 通则 10
9.2 文件 10
附录A(规范性) 探头校准程序-微带线法 11
A.1 前置放大器 11
A.2 频谱分析仪设置 11
A.3 微带线 11
A.4 校准 11
附录B(资料性) 测量原理和校准因子 13
附录C(资料性) 磁场探头的空间分辨率 16
附录D(资料性) 探头的放置角度 17
附录E(资料性) 改进型磁场探头 18
E.1 概述 18
E.2 改进型磁场探头固定装置 18
E.3 磁场探头的空间分辨率 24
E.4 探头的放置角度 25
E.5 校准因子 26
E.6 探头和微带线的校准 28
E.7 试验板 30
参考文献 32
前言
本文件按照GB/T 1.1-2020《标准化工作导则 第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定
起草。
本文件是GB/T 44937《集成电路 电磁发射测量》的第6部分。GB/T 44937已经发布了以下
部分:
---第1部分:通用条件和定义;
---第2部分:辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室法;
---第3部分:辐射发射测量 表面扫描法;
---第4部分:传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法;
---第5部分:传导发射测量 工作台法拉第笼法;
---第6部分:传导发射测量 磁场探头法;
---第8部分:辐射发射测量 IC带状线法。
本文件等同采用IEC 61967-6:2008《集成电路 电磁发射测量150kHz~1GHz 第6部分:传导
发射测量 磁场探头法》。
本文件做了下列最小限度的编辑性改动:
---为与现有标准协调,将标准名称改为《集成电路 电磁发射测量 第6部分:传导发射测量
磁场探头法》;
---纳入了IEC 61967-6:2008/COR1:2010技术勘误的内容,在所涉及的条款外侧页边空白位置
用垂直双线(||)进行了标示。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本文件由全国集成电路标准化技术委员会(SAC/TC599)归口。
本文件起草单位:中国电子技术标准化研究院、北京智芯微电子科技有限公司、天津先进技术研究
院、工业和信息化部电子第五研究所、厦门海诺达科学仪器有限公司、浙江大学、上海市计量测试技术研
究院、中山大学、北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、深圳市中兴微电子技术有限公司、健研检
测集团有限公司、中汽研新能源汽车检验中心(天津)有限公司、北京中电华大电子设计有限责任公司、
安徽省计量科学研究院、南京信息工程大学、中国民航大学、联想(北京)有限公司、东南大学、中国汽车
工程研究院股份有限公司、中国信息通信研究院、中国合格评定国家认可中心、豪威北方集成电路有限
公司、上海雷卯电子科技有限公司、中家院(北京)检测认证有限公司、深圳市品声科技有限公司。
本文件主要起草人:付君、崔强、万发雨、方文啸、吴建飞、朱赛、邵伟恒、魏兴昌、叶畅、高杰、刘超、
李金龙、雷黎丽、梁吉明、龙发明、钟嘉强、张洁、王少启、王健伟、吕飞燕、周香、黄雪梅、臧琦、刘佳、
薛树成、胡光亮、杨统乾、陸振璘。
引 言
为规范集成电路电磁发射测量,以及为集成电路制造商和检测机构提供不同的电磁发射测量方
法,GB/T 44937《集成电路 电磁发射测量》规定了集成电路电磁发射测量的通用条件、定义以及不同
测量方法的试验程序和试验要求,拟由9个部分构成。
---第1部分:通用条件和定义。目的在于规定集成电路电磁发射测量的通用条件和定义。
---第1-1部分:通用条件和定义 近场扫描数据交换格式。目的在于规定近场扫描数据交换
格式。
---第2部分:辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室法。目的在于规定TEM 小室和宽带
TEM小室法的试验程序和试验要求。
---第3部分:辐射发射测量 表面扫描法。目的在于规定表面扫描法的试验程序和试验要求。
---第4部分:传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法。目的在于规定1Ω/150Ω直接耦合法的
试验程序和试验要求。
---第4-1部分:传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法应用指南。目的在于给出1Ω/150Ω直
接耦合法应用指导。
---第5部分:传导发射测量 工作台法拉第笼法。目的在于规定工作台法拉第笼法的试验程序
和试验要求。
---第6部分:传导发射测量 磁场探头法。目的在于规定磁场探头法的试验程序和试验要求。
---第8部分:辐射发射测量 IC带状线法。目的在于规定IC带状线法的试验程序和试验要求。
集成电路 电磁发射测量
第6部分:传导发射测量 磁场探头法
1 范围
本文件描述了使用微型磁场探头以非接触式的电流测量来评估集成电路(IC)引脚射频(RF)电流
的方法。
该方法测量IC在150kHz~1GHz频率范围内产生的RF电流,适用于标准试验板上的单个或一
组IC的测量,以用来表征和对比IC的RF电流。该方法也用于评估实际使用的印制电路板(PCB)上
的单个或一组IC的电磁特性以减小发射。该方法称为“磁场探头法”。
2 规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文
件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于
本文件。
IEC 61967-1 集成电路 电磁发射测量150kHz~1GHz 第1部分:通用条件和定义
注:GB/T 44937.1-2025 集成电路 电磁发射测量 第1部分:通用条件和定义(IEC 61967-1:2018,IDT)
IEC 61967-4 集成电路 电磁发射测量150kHz~1GHz 第4部分:传导发射测量 1Ω/150Ω直
注:GB/T 44937.4-2024 集成电路 电磁发射测量 第4部分:传导发射测量 1Ω/150Ω 直接耦合法
(IEC 61967-4:2021,IDT)
3 术语和定义
IEC 61967-1界定的术语和定义适用于本文件。
4 概述
4.1 测量基础
PCB的辐射发射,部分是由电路板上IC产生的 RF电流引起的,该 RF电流激励PCB走线、
PCB地平面和电源平面以及连接该PCB的电缆。以上这些都能作为RF天......
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