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| 标准编号 | GB/T 47076-2026 (GB/T47076-2026) | | 中文名称 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 导电碳基材料结合能的测量 | | 英文名称 | Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Measurement of binding energy for conductive carbon-based materials | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | G04 | | 国际标准分类 | 71.040.40 | | 发布日期 | 2026-01-28 | | 实施日期 | 2026-08-01 |
GB/T 47076-2026: 表面化学分析 X射线光电子能谱 导电碳基材料结合能的测量
ICS 71.040.40
CCSG04
中华人民共和国国家标准
表面化学分析 X射线光电子能谱
导电碳基材料结合能的测量
2026-01-28发布
2026-08-01实施
国 家 市 场 监 督 管 理 总 局
国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 发 布
目次
前言 Ⅲ
引言 Ⅳ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 符号和缩略语 1
5 方法原理 2
6 仪器校准 3
7 样品制备 4
8 试样表面荷电评估 4
9 数据采集 4
10 测试报告 5
附录A(资料性) 石墨结合能测试示例 6
附录B(资料性) 实验室间试验验证示例 8
参考文献 12
前言
本文件按照GB/T 1.1-2020《标准化工作导则 第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定
起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由全国表面化学分析标准化技术委员会(SAC/TC608)提出并归口。
本文件起草单位:国家纳米科学中心、中国科学院化学研究所、清华大学、北京师范大学、中石化石
油化工科学研究院有限公司、北京科技大学、中国计量科学研究院、中国标准化研究院。
本文件主要起草人:徐鹏、刘忍肖、赵志娟、姚文清、吴正龙、邱丽美、李展平、刘芬、葛广路、郭延军、
朱晓阳、任玲玲、章小余、阳运国、忻睦迪、贾贺峰。
引 言
导电碳基材料在电学、力学、热学等方面具有优异性能,已成为新能源、新材料领域不可缺少的关键
材料。导电碳基材料的独特电学性能源自其sp2 杂化结构,用X射线光电子能谱(简称XPS)技术对其
结合能进行准确测量,从而判定材料的元素组成及化学态,是对导电碳基材料进行开发和应用研究的一
个基本分析手段。
目前普遍采用的XPS制样和结合能测量方法用于导电碳基材料存在较大的不确定性。绝缘制样
及测试使得样品表面呈现过中和状态,得到的结合能数据通常需要经过外来污染碳的校正才能使用。
相比于导电碳基材料中sp2 杂化的碳,物体表面吸附的sp3 杂化形态的污染碳不仅C1s谱线形状及结
合能显著不同,且其本身结合能不稳定,随材料性质及环境而变化。因此用sp3 杂化形态的外来污染碳
校正导电碳基材料的XPS谱峰容易引起理解和使用的混乱[2]~[5]。碳基导电材料结合能的准确测量是
亟待解决的问题[6][7]。
本文件利用碳基材料具有较好的导电特性[8][9],通过改进制样方法,提出了一种无需荷电校正,直
接测量导电碳基材料结合能的方法。在安装样品进行XPS测试前,评估表面电荷累积情况以及规范测
试过程,可以实现该类材料相关元素结合能的直接测量。本文件对导电碳基材料结合能的准确测量提
出了规范的流程,有利于XPS数据的正确分析和使用,能够促进XPS测量方法在碳基材料行业间的标
准化应用以及测量结果的有效比对。附录B报告了实验室间试验验证结果。
表面化学分析 X射线光电子能谱
导电碳基材料结合能的测量
1 范围
本文件描述了利用X射线光电子能谱(XPS)测量导电碳基材料结合能的方法。
本文件适用于碳纳米管、石墨烯、石墨等导电碳基材料结合能的测量。
2 规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文
件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于
本文件。
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3 术语和定义
GB/T 19500和GB/T 22461.1界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
3.1
导电碳基材料 conductivecarbon-basedmaterials
以碳为主体的、具有较好稳定性和导电性的材料。
注:导电碳基材料分为零维、一维、二维和三维碳基材料。其中,零维碳基材料有碳量子......
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