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| 标准编号 | GB/T 47082-2026 (GB/T47082-2026) | | 中文名称 | 碳化硅单晶抛光片堆垛层错测试方法 | | 英文名称 | Test method for stacking faults of polished monocrystalline silicon carbide wafers | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | H17 | | 国际标准分类 | 77.040 | | 发布日期 | 2026-01-28 | | 实施日期 | 2026-08-01 |
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