| 标准编号 | GB/T 4937.1-2006 (GB/T4937.1-2006) |
| 中文名称 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分：总则 |
| 英文名称 | Semiconductor devices -- Mechanical and climatic test methods -- Part 1: General |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | L40 |
| 国际标准分类 | 31.080.1 |
| 字数估计 | 7,791 |
| 发布日期 | 2006-08-23 |
| 实施日期 | 2007-02-01 |
| 旧标准 (被替代) | GB/T 4937-1995部分 |
| 引用标准 | IEC 60050; IEC 60747; IEC 60748 |
| 采用标准 | IEC 60749-1-2002, IDT |
| 标准依据 | 国家标准批准发布公告2006年第9号(总第96号) |
| 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 |
| 范围 | 本部分适用于半导体器件(分立器件和集成电路)并为GB/T 4937系列的其他部分建立通用准则。当太部分与相应的徉细规范有矛看时。以详细规范为准。 |