路径: 主页 > GB/T > 第724页 > GB/T 5059.11-2025 | 标准编号 | GB/T 5059.11-2025 (GB/T5059.11-2025) | | 中文名称 | 钼铁 钼、硅、铜和铁含量的测定 波长色散X-射线荧光光谱法（熔铸玻璃片法） | | 英文名称 | Ferromolybdenum - Determination of molybdenum, silicon, copper and iron contents - Wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometry (fused cast bead method) | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | H11 | | 国际标准分类 | 77.100 | | 字数估计 | 14,119 | | 发布日期 | 2025-10-31 | | 实施日期 | 2026-05-01 | | 发布机构 | 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会 | GB/T 5059.11-2025: 钼铁 钼、硅、铜和铁含量的测定 波长色散X-射线荧光光谱法（熔铸玻璃片法）
ICS 77.100
CCSH11
中华人民共和国国家标准
钼铁 钼、硅、铜和铁含量的测定
波长色散X-射线荧光光谱法
(熔铸玻璃片法)
2025-10-31发布
2026-05-01实施
国 家 市 场 监 督 管 理 总 局
国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 发 布
前言
本文件按照GB/T 1.1-2020《标准化工作导则 第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定
起草。
本文件是GB/T 5059的第11部分。GB/T 5059已经发布了以下部分:
---钼铁 钼含量的测定 钼酸铅重量法、偏钒酸铵滴定法和8-羟基喹啉重量法(GB/T 5059.1);
---钼铁 锑含量的测定 孔雀绿分光光度法(GB/T 5059.2);
---钼铁 铜含量的测定 火焰原子吸收光谱法(GB/T 5059.3);
---钼铁 硅含量的测定 硫酸脱水重量法和硅钼蓝分光光度法(GB/T 5059.5);
---钼铁 磷含量的测定 铋磷钼蓝分光光度法和钼蓝分光光度法(GB/T 5059.6);
---钼铁 碳含量的测定 红外线吸收法(GB/T 5059.7);
---钼铁 硫含量的测定 红外线吸收法和燃烧碘量法(GB/T 5059.9);
---钼铁 钼、硅、铜和铁含量的测定 波长色散X-射线荧光光谱法(熔铸玻璃片法)(GB/T 5059.11)。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由中国钢铁工业协会提出。
本文件由全国生铁及铁合金标准化技术委员会(SAC/TC318)归口。
本文件起草单位:福建三钢闽光股份有限公司、河钢股份有限公司唐山分公司、广西柳州钢铁集团
有限公司、辽宁创石钼业(集团)股份有限公司、洛阳栾川钼业集团股份有限公司、中信(辽宁)新材料科
技股份有限公司、吉铁铁合金有限责任公司、冶金工业信息标准研究院。
本文件主要起草人:黄云华、叶爱丽、曾育元、纪荣宇、廖红梅、苏正飞、车文芳、林俊文、李月林、
李黠、郑金泓、刘岩、吴蕾、傅晓珊、郭洪涛、欧军、李奇骏、陈元泓、闫志超、伍玉根、张莉、张庆东、刘素娟、
孙小飞、张树养、郑海东、林秀玉、苏斌、林洁铃、卢春生、程昭阳。
引 言
由于钼铁检测过程中涉及的检测元素较多,元素的适用范围以及适用方法各不相同。为了保证钼
铁检测标准的方便及准确,针对钼铁不同元素的分析方法,已经建立了支撑钼铁检测的国家标准体系,
GB/T 5059钼铁系列分析方法是我国钼铁检测的基础标准,拟由以下8个部分构成。
---第1部分:钼铁 钼含量的测定 钼酸铅重量法、偏钒酸铵滴定法和8-羟基喹啉重量法。目的
在于测量钼铁中的钼含量,采用钼酸铅重量法、偏钒酸铵滴定法和8-羟基喹啉重量法。
---第2部分:钼铁 锑含量的测定 孔雀绿分光光度法。目的在于测量钼铁中的锑含量,采用孔
雀绿分光光度法。
---第3部分:钼铁 铜含量的测定 火焰原子吸收光谱法。目的在于测量钼铁中的铜含量,采用
火焰原子吸收光谱法。
---第5部分:钼铁 硅含量的测定 硫酸脱水重量法和硅钼蓝分光光度法。目的在于测量钼铁
中的硅含量,采用硫酸脱水重量法和硅钼蓝分光光度法。
---第6部分:钼铁 磷含量的测定 铋磷钼蓝分光光度法和钼蓝分光光度法。目的在于测量钼
铁中的磷含量,采用铋磷钼蓝分光光度法和钼蓝分光光度法。
---第7部分:钼铁 碳含量的测定 红外线吸收法。目的在于测量钼铁中的碳含量,采用红外线
吸收法。
---第9部分:钼铁 硫含量的测定 红外线吸收法和燃烧碘量法。目的在于测量钼铁中的硫含
量,采用红外线吸收法和燃烧碘量法。
---第11部分:钼铁 钼、硅、铜和铁含量的测定 波长色散X-射线荧光光谱法(熔铸玻璃片法)。
目的在于测量钼铁中的钼、硅、铜和铁含量,采用波长色散X-射线荧光光谱法(熔铸玻璃片法)。
钼铁 钼、硅、铜和铁含量的测定
波长色散X-射线荧光光谱法
(熔铸玻璃片法)
警告---使用本文件的人员应有正规实验室工作实践经验。本文件未指出所有可能的安全问题,
使用者有责任采取适当的安全和健康措施,并保证符合国家有关法规规定的条件。
1 范围
本文件规定了采用波长色散X-射线荧光光谱法(熔铸玻璃片法)测定钼铁中钼、硅、铜和铁的含量。
本文件适用于钼铁中钼、硅、铜和铁含量的测定。各元素测定范围见表1。
表1 元素及测定范围
分析元素 测定范围(质量分数)/%
钼(Mo) 52.00~65.00
硅(Si) 0.300~2.000
铜(Cu) 0.120~2.100
铁(Fe) 30.00~45.00
2 规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文
件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于
本文件。
GB/T 4010 铁合金化学分析用试样的采取和制备
GB/T 6379.1 测量方法与结果的准确度(正确度与精密度) 第1部分:总则与定义
GB/T 6379.2 测量方法与结果的准确度(正确度与精密度) 第2部分:确定标准测量方法重复
性与再现性的基本方法
GB/T 6682 分析实验室用水规格和试验方法
GB/T 8170 数值修约规则与极限数值的表示和判定
GB/T 16597 冶金产品分析方法 X射线荧光光谱法通则
GB/T 24484 钼铁试样的采取和制备方法
JJG810 波长色散X射线荧光光谱仪
3 术语和定义
本文件没有需要界定的术语和定义。
4 原理
试样在内衬四硼酸锂的铂-金坩埚里,低温预氧化处理后,在铂-金坩埚中高温熔融、铸制成玻璃样
片,测量玻璃样片中待测元素的X-射线荧光强度。根据校准曲线和测量的X-射线荧光强度(钼用内标
法),计算出样品中钼、硅、铜和铁的质量分数。
5 试剂与材料
分析中除另有说明外,仅使用认可的分析纯试剂,试验用水为GB/T 6682规定的三级以上蒸馏水
或纯度与其相当的水。
5.1 无水四硼酸锂,应为无水干燥状态,否则需在500℃灼烧4h,然后使用。
5.2 硝酸钠。
5.3 过氧化钡,优级纯。
5.4 溴化钾。
5.5 无水混合熔剂(四硼酸锂∶偏硼酸锂=12∶22),应为无水干燥状态,否则需在500℃灼烧4h,然
后使用。
5.6 标准物质/样品。用于绘制校准曲线和漂移校正用,所选系列标准物质/样品中各分析元素含量应
覆盖分析范围且有适当的梯度。用于对仪器进行漂移校正时,所选标准物质/样品应有良好的均匀性,
且接近校准曲线的上限和下限。
5.7 氩甲烷气体(90%Ar+10%CH4),根据仪器选用。
6 仪器与设备
6.1 高温炉
温场均匀,最高工作温度应至少达到1000℃,控温精度为±10℃,且能分段升温。
6.2 熔融炉
熔融炉温场均匀,至少能维持1100℃的温度,控温精度为±20℃。可以选择电热熔融炉和高频
感应熔融炉。
6.3 X-射线荧光光谱仪
应符合JJG810和GB/T 16597的规定和要求。
6.4 坩埚和模具
坩埚和模具(或坩埚兼做模具)由不浸润的铂-金合金(95%Pt-5%Au)制成。坩埚应有一定的厚度
以防止加热后变形,模具的底部应保持平整,对于直接成型的坩埚应有平整的底部。
注:坩埚形状适合熔剂坩埚(即四硼酸锂内衬层)的制作,否则坩埚存在潜在风险。
6.5 天平
分度值为0.1mg。
7 取样和制样
按照GB/T 24484、GB/T 4010的规定进行取样和制样,试样应能通过0.125mm筛孔。
8 熔铸玻璃片的制备
8.1 内衬四硼酸锂的铂-金坩埚的制备
称取5.0000g无水四硼酸锂(5.1),精确到0.0001g,置于铂-金坩埚中,在1100℃下加热熔融,熔
化后取出铂-金坩埚,迅速以一定倾斜角度缓慢旋转坩埚,使逐渐冷却的无水四硼酸锂附着在铂-金坩埚
内壁形成一层均匀的内衬层。
注:无水四硼酸锂的用量根据坩埚大小做适当调整,以最终形成的熔剂能覆盖铂-金坩埚一半的高度为宜,在
4.0000g~6.0000g之间。
8.2 试样的称量
称取0.2000g试样,精确到0.0001g;0.6000g硝酸钠(5.2),精确到0.0001g;1.0000g过氧化
钡(5.3),精确到0.0001g。置于内衬四硼酸锂的铂-金坩埚内并混匀。然后在其上均匀覆盖2.4000g
无水混合熔剂(四硼酸锂∶偏硼酸锂=12∶22)(5.5),精确到0.0001g。
根据坩埚大小可适当调整试样和熔剂的总量,用量一旦确定后,整个试验过程需保持一致。
注:覆盖的无水混合熔剂粉末以能完全盖住混合物为宜,目的是防止预氧化过程中发生喷溅。
8.3 试样的氧化
将8.2完成称量的铂-金坩埚置于高温炉或熔融炉的恒温区域内,氧化温度从室温开始(≤50℃),
以不超过13℃/min的升温速率升温至500℃,保温10min,继续以不超过13℃/min的升温速率升温
至850℃保温30min,即完成试样的预氧化,完成后坩埚内无黑色颗粒物。取出冷却至室温。
8.4 试样的熔融
将8.3完成预氧化坩埚,加入0.2000g溴化钾(5.4)脱模剂,精确到0.0001g。转移至已升温到
1100℃熔融炉中,按预设程序开始熔融。一般建议预熔融时间为3min,熔融时间为15min。取出,直
接成型或倒模成可测量的玻璃片。
注:熔样机混匀效果不良时,熔融时间适当延长。
试样熔片应是均匀的玻璃体,表面平整光滑,无气泡、未熔小颗粒等夹杂,否则应重新制备。
9 仪器的准备
9.1 仪器工作环境
仪器的工作环境应满足GB/T 16597的规定。
9.2 仪器工作条件
X-射线荧光光谱仪在测量之前应按仪器制造商的要求使工作条件最优化,并在仪器稳定后使用。
10 分析步骤
10.1 测量条件
根据所使用仪器的类型、分析元素、共存元素及其含量变化范围,选择适合的测量条件。
a) 分析元素的计数时间取决于所测元素的含量及所要达到的分析精密度,一般为5s~60s。
b) 计数率一般不超过所用计数器的最大线性计数率。
c) 光管电压、电流的选择宜考虑测定谱线最低激发电压和光管的额定功率。
d) 推荐使用的元素分析线、分光晶体、2θ角、光管电压电流和可能干扰元素见表2。
表2 推荐使用的元素分析线、分光晶体、2θ角、光管电压电流和探测器
元素 分析谱线 晶体 狭缝
管压/
kV
管流/
mA
探测器 滤光片
元素强度计
数时间/s
背景强度计
数时间/s
Mo MoKα LiF200 150μm 50 60 Scint Al(750) 20 10
Si SiKα PE002 300μm 30 100 Flow - 180 60
Cu CuKα LiF200 300μm 50 60 Flow-20 10
Fe FeKα LiF200 300μm 50 60 Flow-20 10
Ba BaLα LiF200 300μm 50 60 Flow-20 10
10.2 校准曲线的绘制与确认
10.2.1 校准曲线的绘制
在选定的工作条件下,用X-射线荧光光谱仪测量一系列标准物质/样品的玻璃熔铸片,每个样片应
至少测量两次。用仪器所配的软件,以标准物质/样品中该元素的含量值和测量的荧光强度平均值(其
中钼的含量是钼与钡的强度比)计算并绘制出校准曲线,一般以二次方程或一次方程的形式表达如
式(1)所示:
W =aI2+bI+c (1)
式中:
W ---待测成分的含量,%;
I ---各成分的X-射线强度,单位为计数率(kcps);
a、b、c---系数(一次方程时,a=0)。
10.2.2 校准曲线准确度的确认
可根据实际情况选择合适的模型对校准方程进行校正,如α影响系数法、基本参数法、经验α系数
法和谱线重叠校正等。但应注意不论采用何种校正模型,都需用标准物质/样品对校正曲线进行验证。
按照选定的分析条件,用X-射线荧光光谱仪测量与试样化学成分相近的标准物质/样品的玻璃熔铸片,
以公式(2)判定分析值与认证值或标准值之间在统计上是否有显著差异。
|x-μ0|≤
R2-r2
(n-1)
n +8×
S2
(2)
式中:
x---标准物质/样品中分析元素测量的平均值,%;
μ0---标准物质/样品中分析元素的标准值,%;
r ---精密度共同试验确定的重复性限;
R---精密度共同试验确定的再现性限;
n ---标准物质/样品的重复测定次数;
S---标准物质/样品中分析元素定值的标准偏差;
N---标准物质/样品定值实验室个数。
10.3 未知试样的分析
10.3.1 仪器的漂移校正
定期对仪器进行漂移校正,通常以固定样片检查待测元素的X-射线强度是否有显著变化来确认,
若发生显著变化说明仪器发生漂移。当仪器出现漂移时,通过测量标准化样品的X-射线强度对仪器进
行漂移校正。可采用单点校正或两点校正,单点校正时使用一个标准化样品对X-射线强度进行漂移校
正,一般以公式(3)表示。两点校正用设定在校正曲线两端的两个标准化样品进行漂移校正,一般以公
式(4)表示。校正的间隔时间可根据仪器的稳定性决定。
Ic=I×α (3)
Ic=αI+β (4)
式中:
Ic ---未知样品校正后的X-射线强度,单位为计数率(kcps);
I ---未知样品的测量X-射线强度,单位为计数率(kcps);
α,β ---校正系数。
10.3.2 漂移校正的确认
漂移校正后分析标准物质/样品,确认分析值应符合10.2.2的规定。
10.3.3 未知试样的测量
按照10.1选定的工作条件,用X-射线荧光光谱仪测量未知试样中分析元素的X-射线荧光强度。
11 结果计算和表示
根据未知试样的X-射线荧光强度测量值,从校准曲线计算出分析元素的含量。
当未知试样的两次分析值之差未超过表3所列重复性限r时,取二者平均值为最终分析结果,若超
过r值,则应按附录A中的流程来处理。
分析结果按GB/T 8170进行修约。
12 精密度
本文件在2025年由8个实验室,对8个不同水平的样品进行精密度共同试验。按GB/T 6379.1和
GB/T 6379.2进行统计分析,确定的重复性限r和再现性限R 见表3,精密度原始数据参见附录B。
表3 精密度
分析元素 测定范围(质量分数)/% 重复性限r/% 再现性限R/%
Mo 52.00~65.00 lgr=0.8979lgm-1.9881 lgR=0.6017lgm-1.2128
Si 0.300~2.000 lgr=0.4648lgm-1.3568 lgR=0.3413lgm-1.0683
Cu 0.120~2.100 lgr=0.5734lgm-1.4601 R=0.0380m+0.0110
Fe 30.00~45.00 lgr=0.7854lgm-1.7412 lgR=-0.4050lgm+0.3882
注:式中m 是分析元素的质量分数,以%表示。
在重复性条件下,获得的两次独立测试结果的绝对差值不大于重复性限(r),大于重复性限(r)的
情况以不超过5%为前提。
在再现性条件下,获得的两次独立测试结果的绝对差值不大于再现性限(R),大于再现性限(R)的
情况以不超过5%为前提。
13 试验报告
试验报告应包括下列内容:
a) 实验室名称和地址;
b) 试验报告的签发日期;
c) 本文件编号;
d) 识别试样的细节;
e) 分析结果;
f) 结果的编号;
g) 在测定过程中注意到的任何特性和本文件中没有规定的可能对试样和认证标准物质的结果产
生影响的任何操作。
附 录 A
(规范性)
试样分析结果接受程序流程图
试样分析结果接受程序流程图见图A.1。
注:r为重复性限。
图A.1 试样分析结果接受程序流程图
附 录 B
(资料性)
精密度试验原始数据
钼元素的精密度试验原始数据见表B.1。
表B.1 钼元素的精密度试验原始数据
实验室
不同水平钼含量(质量分数)/%
1 2 3 4 5 6 7 8
54.40 54.29 61.15 61.55 59.08 60.81 62.24 62.65
54.33 54.37 61.40 61.91 58.78 61.01 62.01 62.47
54.69 54.06 61.67 61.62 58.98 61.31 62.29 62.89
55.03 54.09 61.34 61.60 59.48 61.10 61.49 62.95
55.01 54.13 61.38 61.56 59.46 61.12 61.82 62.96
55.01 54.02 61.32 61.75 59.39 61.15 61.83 62.91
54.76 54.32 61.34 61.77 59.12 61.16 61.96 62.61
54.98 54.46 61.27 61.80 59.16 61.04 62.22 62.61
55.11 54.18 61.25 61.60 59.26 61.21 62.12 62.52
55.00 54.06 61.44 61.96 59.35 61.23 61.66 63.13
54.66 54.00 61.70 62.29 59.40 61.27 61.95 62.78
54.56 53.97 61.61 61.94 59.66 61.32 61.88 63.16
54.44 53.95 61.39 62.24 59.65 61.52 62.08 62.85
54.46 53.93 61.69 62.30 59.59 61.27 62.60 63.04
54.80 54.07 61.74 62.13 59.74 61.47 62.44 63.27
54.95 54.30 61.21 61.73 59.45 60.89 61.91 62.27
54.89 54.23 61.31 61.77 59.25 60.91 62.21 62.35
54.85 54.16 61.21 61.90 59.32 60.92 62.00 62.21
54.44 54.70 61.00 61.88 59.44 61.16 62.50 63.21
54.52 54.48 60.90 62.03 59.13 61.49 62.34 63.08
54.39 54.47 61.34 62.14 59.54 61.39 62.78 63.39
54.56 53.73 61.23 61.62 59.43 61.22 62.30 62.63
54.53 54.06 61.45 61.57 59.36 61.59 62.30 62.69
54.50 53.71 61.35 61.64 58.99 61.41 62.08 62.67
硅元素的精密度试验原始数据见表B.2。
表B.2 硅元素的精密度试验原始数据
实验室
不同水平硅含量(质量分数)/%
1 2 3 4 5 6 7 8
0.310 0.315 0.283 1.547 0.376 0.399 0.345 0.800
0.321 0.329 0.283 1.597 0.387 0.384 0.361 0.778
0.310 0.317 0.314 1.583 0.388 0.397 0.371 0.814
0.316 0.340 0.317 1.588 0.355 0.385 0.326 0.832
0.313 0.348 0.308 1.552 0.346 0.375 0.318 0.833
0.327 0.346 0.302 1.531 0.347 0.374 0.316 0.834
0.354 0.325 0.278 1.470 0.393 0.345 0.298 0.843
0.341 0.335 0.259 1.514 0.368 0.358 0.287 0.888
0.348 0.324 0.266 1.490 0.381 0.370 0.300 0.860
0.311 0.344 0.289 1.614 0.349 0.375 0.315 0.821
0.301 0.350 0.328 1.635 0.334 0.372 0.312 0.819
0.301 0.367 0.317 1.611 0.357 0.371 0.305 0.825
0.312 0.334 0.294 1.563 0.344 0.367 0.323 0.804
0.302 0.337 0.316 1.570 0.336 0.356 0.317 0.809
0.302 0.350 0.310 1.596 0.360 0.361 0.322 0.815
0.341 0.323 0.302 1.559 0.318 0.388 0.233 0.837
0.327 0.318 0.310 1.574 0.315 0.370 0.225 0.847
0.328 0.317 0.308 1.555 0.318 0.387 0.218 0.828
0.311 0.330 0.270 1.550 0.343 0.381 0.335 0.790
0.301 0.330 0.263 1.540 0.377 0.397 0.305 0.827
0.301 0.327 0.284 1.520 0.351 0.376 0.330 0.777
0.319 0.359 0.290 1.578 0.346 0.361 0.337 0.825
0.300 0.370 0.287 1.556 0.356 0.354 0.367 0.843
0.307 0.358 0.330 1.557 0.366 0.358 0.362 0.807
铜元素的精密度试验原始数据见表B.3。
表B.3 铜元素的精密度试验原始数据
实验室
不同水平铜含量(质量分数)/%
1 2 3 4 5 6 7 8
2.261 0.139 0.135 0.304 0.142 1.061 0.194 1.136
2.221 0.138 0.135 0.281 0.127 1.047 0.190 1.124
2.221 0.135 0.129 0.279 0.125 1.070 0.197 1.102
表B.3 铜元素的精密度试验原始数据 (续)
实验室
不同水平铜含量(质量分数)/%
1 2 3 4 5 6 7 8
2.148 0.127 0.131 0.294 0.131 1.076 0.185 1.109
2.198 0.133 0.136 0.302 0.130 1.051 0.178 1.144
2.147 0.129 0.130 0.300 0.129 1.057 0.189 1.114
2.270 0.122 0.122 0.289 0.120 1.086 0.179 1.107
2.270 0.121 0.134 0.292 0.130 1.077 0.185 1.125
2.240 0.130 0.130 0.290 0.140 1.080 0.180 1.160
2.242 0.136 0.119 0.281 0.126 1.077 0.175 1.125
2.268 0.133 0.124 0.285 0.120 1.068 0.169 1.113
2.287 0.131 0.127 0.283 0.120 1.076 0.173 1.134
2.248 0.146 0.135 0.291 0.136 1.072 0.182 1.100
2.220 0.141 0.132 0.291 0.137 1.055 0.179 1.110
2.219 0.133 0.134 0.291 0.142 1.057 0.171 1.130
2.200 0.133 0.130 0.286 0.128 1.039 0.166 1.120
2.161 0.128 0.128 0.286 0.132 1.045 0.168 1.131
2.164 0.130 0.130 0.290 0.130 1.034 0.167 1.091
2.180 0.130 0.144 0.286 0.131 1.090 0.183 1.124
2.180 0.139 0.133 0.289 0.133 1.110 0.186 1.149
2.220 0.140 0.146 0.296 0.137 1.090 0.188 1.148
2.277 0.140 0.140 0.290 0.140 1.070 0.180 1.164
2.272 0.135 0.134 0.294 0.128 1.064 0.186 1.128
2.294 0.129 0.132 0.286 0.139 1.095 0.181 1.118
铁元素的精密度试验原始数据见表B.4。
表B.4 铁元素的精密度试验原始数据
实验室
不同水平铁含量(质量分数)/%
1 2 3 4 5 6 7 8
42.40 39.55 37.92 36.52 43.64 37.27 37.20 36.76
42.15 39.54 37.97 36.38 43.42 37.22 37.54 37.13
42.41 39.48 37.92 36.41 43.12 37.22 37.26 36.73
42.60 39.55 37.58 35.98 43.42 37.30 37.19 36.59
42.40 39.69 37.57 36.29 43.50 37.12 37.19 36.88
42.......
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