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标准编号 | GB/T 5593-2015 (GB/T5593-2015) | 中文名称 | 电子元器件结构陶瓷材料 | 英文名称 | Structure ceramic materials used in electronic component and device | 行业 | 国家标准 (推荐) | 中标分类 | L90 | 国际标准分类 | 31-030 | 字数估计 | 17,124 | 发布日期 | 2015-05-15 | 实施日期 | 2016-01-01 | 旧标准 (被替代) | GB/T 5593-1996 | 引用标准 | GB/T 1031-1995; GB/T 1966; GB/T 2413; GB/T 2421.1; GB/T 5594.1; GB/T 5594.2; GB/T 5594.3; GB/T 5594.4; GB/T 5594.5; GB/T 5594.6; GB/T 5594.7; GB/T 5594.8; GB/T 5597; GB/T 5598; GB/T 9530-1988; JJG 151-2006; SJ/T 10760-1996 | 起草单位 | 中国电子科技集团公司第十二研究所 | 归口单位 | 中国电子技术标准化研究院 | 标准依据 | 国家标准公告2015年第15号 | 提出机构 | 中华人民共和国工业和信息化部 | 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 | 范围 | 本标准规定了电子元器件结构陶瓷的种类、级别、技术指标要求、试验方法和检验规则。本标准适用于电子元器件用结构陶瓷材料。 |
GB/T 5593-2015: 电子元器件结构陶瓷材料
GB/T 5593-2015 英文名称: Structure ceramic materials used in electronic component and device
中华人民共和国国家标准
代替GB/T 5593-1996
电子元器件结构陶瓷材料
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
前言
本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
本标准代替GB/T 5593-1996《电子元器件结构陶瓷材料》。
本标准与GB/T 5593-1996相比,主要有下列变化:
---表1中作如下修改:
对A-95、A-99增加了硬度性能要求;增加了测试A-95、A-99硬度方法的规范性附录A;
B-97替代B-95;B-97、B-99两者BeO组分含量均为最低值;“单位与符号”改为“单位”;线膨胀
系数单位/℃ 改为 K-1;晶粒大小μ改为μm;A-95的晶粒大小从15μm~30μm改为8μm~
20μm;B-9720℃~500℃线膨胀系数7~8改为7.0~8.5;B-97,B-99中平均晶粒大小改为
12μm~30μm;B-97中导热系数20℃改为200W/(m·K),100℃改为160W/(m·K);
B-99中导热系数20℃改为230W/(m·K),100℃改为180W/(m·K);
---5.8抗热震性的测定持续时间从30min改为10min;
---表2中作如下修改:
部分测试样品尺寸,将氧化铝瓷和氧化铍瓷分别对待;气密性样品厚度从0.25mm±0.02mm改为
0.30mm±0.02mm。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利,本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本标准由中国电子技术标准化研究院归口。
本标准起草单位:中国电子科技集团公司第十二研究所、湖南新化鑫星电子陶瓷有限公司、江苏常
熟银洋陶瓷器件有限公司、河南济源兄弟材料有限公司、浙江绍兴富尔全瓷业有限公司、浙江温岭特种
陶瓷厂。
本标准主要起草人:高陇桥、曹培福、高永泉、黄国立、王立夫、徐正平、李晓英。
本标准所代替标准的历次版本发布情况为:
---GB 5593-1985、GB/T 5593-1996。
电子元器件结构陶瓷材料
1 范围
本标准规定了电子元器件结构陶瓷的种类、级别、技术指标要求、试验方法和检验规则。
本标准适用于电子元器件用结构陶瓷材料。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 1031-1995 表面粗糙度参数及其数值
GB/T 1966 多孔陶瓷显气孔率、容重试验方法
GB/T 2413 压电陶瓷材料体积密度测量方法
GB/T 2421.1 电工电子产品环境试验 概述和指南
GB/T 5594.1 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法
GB/T 5594.2 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法
GB/T 5594.3 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分:平均线膨胀系数测试方法
GB/T 5594.4 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切
值的测试方法
GB/T 5594.5 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法
GB/T 5594.6 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分:化学稳定性测试方法
GB/T 5594.7 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第7部分:透液性测定方法
GB/T 5594.8 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构测定方法
GB/T 5597 固体电介质微波复介电常数测定方法
GB/T 5598 氧化铍瓷导热系数测定方法
GB/T 9530-1988 电子陶瓷名词术语
JJG151-2006 金属维氏硬度计检定规程
SJ/T 10760-1996 电子器件结构陶瓷材料的名称和牌号的命名方法
3 术语和定义
GB/T 9530-1988界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
4 要求
4.1 分类与命名
陶瓷材料根据其用途和性能按表1进行分类。其名称和牌号的命名符合SJ/T 10760-1996的规定。
4.2 性能
陶瓷材料的机械性能、电性能和化学性能等应符合表1的规定。
5 试验方法
5.1 试验条件
如果本标准没有特殊规定时,陶瓷材料的所有试验应在GB/T 2421.1所规定的正常的试验大气条
件下(温度15℃~35℃,相对湿度45%~75%,气压86kPa~106kPa)进行。
5.2 试验样品
试验所用样品的形状、尺寸、要求和数量应符合本标准表2的规定。
除多孔瓷和三公分波段(10GHz)试验项目外,测量陶瓷材料的电性能时,样品两面应按表2的要
求用烧渗法覆上一层完整的银层作为电极。其测试方法按GB/T 5597。
5.3 体积密度
测量陶瓷材料的体积密度时,应按GB/T 2413规定的方法进行。
5.4 气密性
测量陶瓷材料的气密性时,应按GB/T 5594.1规定的方法进行。
5.5 透液性
测量陶瓷材料的透液性时,按GB/T 5594.7规定的方法进行。
5.6 抗折强度
测量陶瓷材料的抗折强度时,负荷加在样品中心,负荷增加的速度不大于39N/s,测量误差不超过
±10%。
5.7 弹性模数、泊松比
测量陶瓷材料的弹性模数、泊松比时,应按GB/T 5594.2规定的方法进行。
5.8 抗热震性(热稳定性)
测量抗热震性(热稳定性)时,应将试样洗净,并在120℃±10℃的加热箱中烘干,自然冷却至室
温,然后放入规定试验温度的加热炉中持续10min。将试样取出放置在石棉板上,在正常试验大气条
件下自然冷却至室温,随后再将试样放入规定温度的加热炉中,重复试验直至规定的次数为止,最后在
1%浓度的品红溶液中浸置3min,取出洗净、擦干,在灯光下观察样品不应有裂纹、炸裂。
对A-90、A-95、A-99、A-99.5、B-97、B-99陶瓷材料,规定温度为800℃±10℃,反复10次为合格。
对 M2S陶瓷材料,其试验温度为400℃±10℃,反复五次为合格。
5.9 线膨胀系数
测量陶瓷材料的线膨胀系数时,应按GB/T 5594.3规定的方法进行。
5.10 导热系数
测量陶瓷材料的导热系数时,应按GB/T 5598规定的方法进行。
5.11 介电常数及介质损耗正切值
5.11.1 介电常数及介质损耗正切值(1MHz)
测量1MHz下或高温条件下陶瓷材料的介电常数及介质损耗正切值时,应按GB/T 5594.4规定
的方法进行。
5.11.2 介电常数及介质损耗正切值(10GHz)
测量10GHz下陶瓷材料的介电常数及介质损耗正切值时,应按GB/T 5597规定的方法进行。
5.12 体积电阻率
测量陶瓷材料体积电阻率时,应按GB/T 5594.5规定的方法进行。
5.13 击穿强度
测量陶瓷材料的击穿强度是,应在直流高压设备上进行,设备应保证电压能均匀上升,升压速率不
大于1000V/s,电压测量误差不应大于±5%。试样及电极要求见表2,试验应在绝缘性能足够的绝缘
油或变压器油中进行。测量厚度时,误差应不大于±0.002mm。
测试结果按式(3)计算:
5.14 化学稳定性
测量陶瓷材料化学稳定性时,应按GB/T 5594.6规定的方法进行。
5.15 气孔率
测量陶瓷材料气孔率时,应按GB/T 1966规定的方法进行。
5.16 晶粒尺寸
测量陶瓷材料晶粒尺寸时,应按GB/T 5594.8规定的方法进行。
5.17 硬度
测量陶瓷材料硬度时,应按附录A规定的方法进行。
6 检验规则
6.1 检验分类
6.1.1 概述
陶瓷材料的检验分为出厂检验(交收检验)和型式检验(例行检验)。
6.1.2 出厂检验
陶瓷材料每批应按表3规定的试验项目进行出厂检验。
6.1.3 型式检验
为了确定陶瓷材料是否符合本标准的要求,制造厂应按表1的规定进行型式检验。型式检验每年
不得少于一次,当制造工艺或原材料发生重大改变时,也要进行型式检验。
6.2 检验批
由同一配方在相同条件下连续生产的陶瓷材料组成检验批。
6.3 判定规则
试验中,若全部样品的指标均符合本标准表1的规定,则认为该批陶瓷材料合格。在试验中,若发
现一项或一项以上的试验项目不符合表1的规定,则应以同批瓷料制成两倍......
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