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| 标准号码 | 内文 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 | 状态 |
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GB/T 8759-1988
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英文版
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RFQ
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询价
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[PDF]天数 >=3
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化合物半导体单晶晶向X射线衍射测量方法
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作废
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| 标准编号 | GB/T 8759-1988 (GB/T8759-1988) | | 中文名称 | 化合物半导体单晶晶向X射线衍射测量方法 | | 英文名称 | Compound semiconductive single crystals--Determination of crzystallographic orientation--X-ray diffraction method | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | H21 | | 发布日期 | 2/25/1988 | | 采用标准 | ASTM T26-1984, MOD |
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