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[PDF] GB/T 8759-1988 - 英文版

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GB/T 8759-1988 英文版 RFQ 询价 [PDF]天数 >=3 化合物半导体单晶晶向X射线衍射测量方法 作废
基本信息
标准编号 GB/T 8759-1988 (GB/T8759-1988)
中文名称 化合物半导体单晶晶向X射线衍射测量方法
英文名称 Compound semiconductive single crystals--Determination of crzystallographic orientation--X-ray diffraction method
行业 国家标准 (推荐)
中标分类 H21
发布日期 2/25/1988
采用标准 ASTM T26-1984, MOD

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英文网页English: GB/T 8759-1988

相关标准: GB/T 5162 | GB/T 8763 | GB/T 8760 | GB/T 5162 |