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[PDF] GBZ107-2025 - 英文版

标准号码	内文	价格美元	第2步(购买)	交付天数	标准名称	状态
GB/Z 107-2025	英文版	319	GB/Z 107-2025	[PDF]天数 >=3	半导体器件基于扫描的半导体器件退化水平评估	有效

基本信息
标准编号	GB/Z 107-2025 (GB/Z107-2025)
中文名称	半导体器件基于扫描的半导体器件退化水平评估
英文名称	(Semiconductor devices - Scan based ageing level estimation for semiconductor devices)
行业	国家标准
发布日期	2025-12-03
实施日期	2025-12-03

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英文网页English: GBZ107-2025

相关标准: GB 55031 | GB 55030 | GBZ 107 |