标准搜索结果: 'GBZ107-2025'
| 标准号码 | 内文 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 | 状态 |
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GB/Z 107-2025
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英文版
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RFQ
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询价
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[PDF]天数 <=3
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半导体器件 基于扫描的半导体器件退化水平评估
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有效
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| 标准编号 | GB/Z 107-2025 (GB/Z107-2025) | | 中文名称 | 半导体器件 基于扫描的半导体器件退化水平评估 | | 英文名称 | (Semiconductor devices - Scan based ageing level estimation for semiconductor devices) | | 行业 | 国家标准 | | 发布日期 | 2025-12-03 | | 实施日期 | 2025-12-03 | ......
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