路径: 主页 > JB/T > 第25页 > JB/T 6842-1993 | 标准编号 | JB/T 6842-1993 (JB/T6842-1993) | | 中文名称 | 扫描电子显微镜试验方法 | | 英文名称 | Test method of scanning electron microscope | | 行业 | 机械行业标准 (推荐) | | 中标分类 | N33 | | 字数估计 | 12,158 | | 发布日期 | 7/9/1993 | | 实施日期 | 1/1/1994 | | 旧标准 (被替代) | ZB Y340-85 | | 引用标准 | GB 7667; ZB N30005; JB/T 5384; JB 5517 | | 范围 | 本标准规定了扫描电子显微镜的试验方法。本标准适用于扫描电镜主机性能的试验。 | ......
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