路径: 主页 > JB/T > 第19页 > JB/T 8268-2015 | 标准编号 | JB/T 8268-2015 (JB/T8268-2015) | | 中文名称 | 静电复印光导体表面缺陷测量方法 | | 英文名称 | Test method of surface defect for photoconductor of electrostatic copying process | | 行业 | 机械行业标准 (推荐) | | 中标分类 | N47 | | 国际标准分类 | 37.100.10 | | 字数估计 | 5,551 | | 发布日期 | 2015-04-30 | | 实施日期 | 2015-10-01 | | 旧标准 (被替代) | JB/T 8268-1999 | | 引用标准 | JB/T 8271; JB/T 8273 | | 标准依据 | 工业和信息化部公告2015年第28号;行业标准备案公告2015年第6号(总第186号) | | 发布机构 | 工业和信息化部 | | 范围 | 本标准规定了静电复印光导体表面缺陷的测量条件、测量方法及测量报告。本标准适用于静电复印(打印、传真、多功能)设备用的光导体的外观质量及背景印迹的测量。 | ......
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