路径: 主页 > JJ > 第22页 > JJF 1170-2007 | 标准编号 | JJF 1170-2007 (JJF1170-2007) | | 中文名称 | 负温度系数低温电阻温度计校准规范 | | 英文名称 | Calibration Specification for Cryogenic Resistance Thermometers with Negative Sensitivity | | 行业 | 计量行业标准 | | 中标分类 | A54 | | 国际标准分类 | 17.200 | | 字数估计 | 19,173 | | 发布日期 | 2/28/2007 | | 实施日期 | 2007-08-28 | | 旧标准 (被替代) | JJG 857-1994 | | 引用标准 | JJG 350-1994; JJG 858-1994 | | 标准依据 | AQSIQ Announcement No. 41 of 2007 | | 发布机构 | 国家质量监督检验检疫总局 | | 范围 | 本规范适用于测量范围为1.2K～273.16K的低温锗电阻温度计、低温氧化物热敏电阻温度计和低温渗碳玻璃电阻温度计。本规范文本中未指明何种类型的温度计时, 以下都简称温度计。 | JJF 1170-2007
Calibration Specification for Cryogenic Resistance Thermometers with Negative Sensitivity
中华人民共和国国家计量技术规范
负温度系数低温电阻温度计校准规范
2007-02-28发布
2007-08-28实施
国 家 质 量 监 督 检 验 检 疫 总 局 发 布
负温度系数低温电阻温度计
校 准 规 范
代替JJG857-1994
本规范经国家质量监督检验检疫总局2007年2月28日批准,并于
2007年8月28日起实施。
归 口 单 位:全国温度计量技术委员会
起 草 单 位:中国科学院理化技术研究所
本规范由全国温度计量技术委员会负责解释
本规范主要起草人:
林 鹏 (中国科学院理化技术研究所)
参加起草人:
张庆庚 (中国科学院理化技术研究所)
喻力弘 (中国科学院理化技术研究所)
目 录
1 范围 (1)
2 引用文献 (1)
3 概述 (1)
4 计量特性 (1)
4.1 温度计的基本信息 (1)
4.2 温度计的稳定性 (2)
4.3 温度计的测量电流和自热效应 (2)
5 校准条件 (2)
5.1 环境条件 (2)
5.2 标准和其他设备 (2)
6 校准项目和校准方法 (3)
6.1 老化实验 (3)
6.2 外观检查 (3)
6.3 示值校准 (3)
6.4 校准数据处理 (5)
7 校准结果表达 (6)
8 复校时间间隔 (7)
附录A 测量不确定度评定 (8)
附录B 校准证书拟合数据页格式 (建议) (13)
负温度系数低温电阻温度计校准规范
1 范围
本规范适用于测量范围为1.2K~273.16K的低温锗电阻温度计、低温氧化物热敏
电阻温度计和低温渗碳玻璃电阻温度计。
本规范文本中未指明何种类型的温度计时,以下都简称温度计。
2 引用文献
JJG350-1994 《标准套管铂电阻温度计检定规程》
JJG858-1994 《标准铑铁电阻温度计检定规程》
使用本规范时,应注意使用上述引用文献的现行有效版本。
3 概述
负温度系数的低温电阻温度计,包括低温锗电阻温度计、低温氧化物热敏电阻温度
计和低温渗碳玻璃电阻温度计等,是根据半导体的电阻随温度变化而变化的特性来测量
温度的。这些温度计的特点是电阻随温度呈负指数变化,灵敏度高,使用温区宽窄不
一,互换性不好,需单支多点校准。
低温锗电阻温度计、低温渗碳玻璃电阻温度计和低温氧化物热敏电阻温度计,一般
都做成四引线,分别是正负电流、正负电压引线,封装在金属壳套管中,为增强传热效
果,套管内多充入少量氦气以减小温度计自热效应的影响。
低温氧化物热敏电阻温度计,也有二引线式、玻璃封装的,校准时用四引线法测量
电阻。
这些温度计校准数据通常采用切比雪夫多项式做最小二乘法拟合,其电阻-温度关
系主要有以下四种:
T=a02+∑
i=1
aicos(icos-1x)=a02+∑
i=1
aicos[icos-1(AlnR+B)] (1)
T=a02+∑
i=1
aicos(icos-1x)=a02+∑
i=1
aicos{icos-1[Aln(lnR)+B]} (2)
lnT=a02+∑
i=1
aicos(icos-1x)=a02+∑
i=1
aicos[icos-1(AlnR+B)] (3)
T=
a0
2+∑
i=1
aicos(icos-1x)=a02+∑
i=1
aicos[icos-1(AlnR+B)] (4)
式中,A、B是......
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