路径: 主页 > JJ > 第14页 > JJF 1236-2010 | 标准编号 | JJF 1236-2010 (JJF1236-2010) | | 中文名称 | 半导体管特性图示仪校准规范 | | 英文名称 | Calibration Specification for Semiconductor Device Curve Tracers | | 行业 | 计量行业标准 | | 中标分类 | A56 | | 国际标准分类 | 17.220 | | 字数估计 | 26,256 | | 发布日期 | 2010-01-05 | | 实施日期 | 2010-04-05 | | 引用标准 | GB/T 13973-1992; GB/T 13974-1992 | | 标准依据 | 国家质检总局公告2010年第3号; | | 发布机构 | 国家质量监督检验检疫总局 | | 范围 | 本规范适用于其有插件单元或附属装置的半导体管特性图示仪(以下简称图示仪)的校准。 | JJF 1236-2010
Calibration Specification for Semiconductor Device Curve Tracers
中华人民共和国国家计量技术规范
半导体管特性图示仪校准规范
2010-01-05发布
2010-04-05实施
国 家 质 量 监 督 检 验 检 疫 总 局 发 布
半导体管特性图示仪校准规范
本规范经国家质量监督检验检疫总局于2010年1月5日批准,并自
2010年4月5日起施行。
归 口 单 位:全国无线电计量技术委员会
主要起草单位:中国电子技术标准化研究所
参加起草单位:北京无线电仪器厂
上海新建电子仪器有限公司
本规范由全国无线电计量技术委员会负责解释
本规范主要起草人:
陈连启 (中国电子技术标准化研究所)
于利红 (中国电子技术标准化研究所)
刘 冲 (中国电子技术标准化研究所)
参加起草人:
蔡福明 (北京无线电仪器厂)
徐长风 (上海新建电子仪器有限公司)
目 录
1 范围 (1)
2 引用文献 (1)
3 术语 (1)
4 概述 (1)
5 计量特性 (2)
5.1 校准信号 (2)
5.2 Y轴部分 (2)
5.3 X轴部分 (2)
5.4 阶梯部分 (2)
5.5 集电极功耗限制电阻 (2)
6 校准条件 (3)
6.1 环境条件 (3)
6.2 校准用标准器及其他设备 (3)
7 校准项目及校准方法 (3)
7.1 校准项目 (3)
7.2 校准方法 (4)
8 校准结果的表述 (15)
9 复校时间间隔 (15)
附录A 校准证书的内容 (16)
附录B 测量不确定度评定的实例 (19)
半导体管特性图示仪校准规范
1 范围
本规范适用于具有插件单元或附属装置的半导体管特性图示仪 (以下简称图示仪)
的校准。
2 引用文献
GB/T 13973-1992 半导体管特性图示仪通用技术要求
GB/T 13974-1992 半导体管特性图示仪测试方法
使用本规范时应注意使用上述引用文献的现行有效版本。
3 术语
集电极电流流经电流取样电阻的返回端,用符号 “▽”表示。
阶梯信号 “归一化电路”就是把各种不同幅值的阶梯信号 (V/级或A/级),通过
适当的比例变换、处理后,统一变为1V/级的数值处理电路。
4 概述
图示仪由主机部分 (显示屏及其控制部分)、插入单元 (包括Y偏转单元、X偏转
单元、集电极扫描电压单元、阶梯信号单元)与附属......
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