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| 标准编号 | JJG(SJ)310003-2006 (JJG(SJ)310003-2006) | | 中文名称 | 半导体分立器件电容参数测试仪检定规程 | | 英文名称 | Specification for verification of capacitor parameter testers for semiconductor discrete devices | | 行业 | 计量行业标准 | | 标准依据 | 国家计量技术法规目录2008版 | | 发布机构 | 国家质量监督检验检疫总局 |
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