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| 标准号码 | 内文 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 | 状态 |
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SJ 20233-1993
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英文版
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RFQ
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询价
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[PDF]天数 >=6
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IMPACT-Ⅱ型半导体分立器件测试系统检定规程
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作废
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| 标准编号 | SJ 20233-1993 (SJ20233-1993) | | 中文名称 | IMPACT-Ⅱ型半导体分立器件测试系统检定规程 | | 英文名称 | Verification regulation of model IMPACT-II semiconductor discrete device test sysytem | | 行业 | 电子行业标准 | | 中标分类 | A56;L86 | | 字数估计 | 29,258 | ......
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