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www.GB-GBT.com 收录标准: 222414 (2026-05-15)
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[PDF] SJ 20400-1994 - 英文版

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SJ 20400-1994 英文版 719 SJ 20400-1994 [PDF]天数 >=3 低副瓣平板裂缝天线性能近场测试方法
基本信息
标准编号 SJ 20400-1994 (SJ20400-1994)
中文名称 低副瓣平板裂缝天线性能近场测试方法
英文名称 Methods of near. field measurement for planar waveguide - fed slot arrays with low sidelobes
行业 电子行业标准
中标分类 V41
字数估计 18,111
发布日期 9/30/1994
实施日期 12/1/1994
引用标准 SJ 20348-93; SJ 20347-93
范围 本标准规定了低副瓣平板裂缝天线(以下简称天线)性能的平面近场测试方法。本标准适用于频率从3GHz到18GHz, 副瓣电平劣于-35dB的线极化平板裂缝天线性能的近场测试。相邻波段及其它形式面天线也可参照使用。

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英文网页English: SJ 20400-1994

相关标准: SJ 20396 | SJ 20397 | SJ 20398 |