路径: 主页 > SJ > 第42页 > SJ 20788-2000 | 标准编号 | SJ 20788-2000 (SJ20788-2000) | | 中文名称 | 半导体二极管热阻抗测试方法 | | 英文名称 | Measurment method for thermal impedance of semiconductor diodes | | 行业 | 电子行业标准 | | 中标分类 | L41 | | 字数估计 | 14,117 | | 发布日期 | 2000-10-20 | | 实施日期 | 2000-10-20 | | 引用标准 | GB 128A-97 | | 范围 | 本标准规定了半导体二极管的稳态热阻和瞬态热阻抗的测试方法。本标准适用于整流二极管、瞬态电压抑制二极管、功率齐纳二极管和某些齐纳、信号和开关二极管稳态热阻和瞬态热阻扰的测试。 | ......
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