路径: 主页 > SJ > 第37页 > SJ 20789-2000 | 标准编号 | SJ 20789-2000 (SJ20789-2000) | | 中文名称 | MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选试验方法 | | 英文名称 | Rapid screening test methods for Thermal sensitive parameter of MOS field effect transistor | | 行业 | 电子行业标准 | | 中标分类 | L44 | | 字数估计 | 5,526 | | 发布日期 | 2000-10-20 | | 实施日期 | 2000-10-20 | | 引用标准 | GB/T 4596-94 | | 范围 | 本规范规定了MOS场效向晶体管热敏参数快速筛选的试验方法。本规范适用于MOS场效用晶体管(以下简称电阻器)热敏参数快速筛选。 | ......
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