路径: 主页 > SJ > 第80页 > SJ20844A-2018 | 标准编号 | SJ 20844A-2018 (SJ20844A-2018) | | 中文名称 | 半绝缘砷化镓单晶微区均匀性测试方法 | | 英文名称 | (Semi-insulating gallium arsenide single crystal micro area uniformity test method) | | 行业 | 电子行业标准 | | 中标分类 | H83%L90 | | 国际标准分类 | H83; L90 | | 字数估计 | 25,263 | | 发布日期 | 2018 | | 实施日期 | 2019-03-01 | | 发布机构 | 工业和信息化部 | ......
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