| 标准编号 | SJ/T 2215-2015 (SJ/T2215-2015) |
| 中文名称 | 半导体光电耦合器测试方法 |
| 英文名称 | Measuring methods for semiconductor photocouplers |
| 行业 | 电子行业标准 (推荐) |
| 中标分类 | L50 |
| 国际标准分类 | 31.080.01 |
| 字数估计 | 36,391 |
| 发布日期 | 2015-04-30 |
| 实施日期 | 2015-10-01 |
| 旧标准 (被替代) | SJ 2215.1-1982; SJ 2215.2-1982; SJ 2215.3-1982; SJ 2215.4-1982; SJ 2215.5-1982; SJ 2215.6-1982; SJ 2215.7-1982; SJ 2215.8-1982; SJ 2215.9-1982; SJ 2215.10-1982; SJ 2215.11-1982; SJ 2215.12-1982; SJ 2215.13-1982; SJ 2215.14-1982 |
| 引用标准 | GB/T 2421.1-2008; GB/T 11499-2001; GB/T 15651-1995 |
| 标准依据 | 工业和信息化部公告2015年第28号;行业标准备案公告2015年第7号(总第187号) |
| 发布机构 | 工业和信息化部 |
| 范围 | 本标准规定了半导体光电耦合器(以下简称"器件")的测试方法。本标准适用于半导体光电耦合器。 |