路径: 主页 > SJ/T > 第49页 > SJ/T 10481-1994 | 标准编号 | SJ/T 10481-1994 (SJ/T10481-1994) | | 中文名称 | 硅外延层电阻率的面接触三探针.测试方法 | | 英文名称 | Test method for resistivity of silicon epitaxial layers by area contacts three-probe techniques | | 行业 | 电子行业标准 (推荐) | | 中标分类 | L34 | | 字数估计 | 8,865 | | 发布日期 | 4/11/1994 | | 实施日期 | 10/1/1994 | | 标准依据 | 工科(2010)第77号 | ......
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