| 标准编号 | SJ/T 11394-2009 (SJ/T11394-2009) |
| 中文名称 | 半导体发光二极管测试方法 |
| 英文名称 | Measure methods of semiconductor light emitting diodes |
| 行业 | 电子行业标准 (推荐) |
| 中标分类 | L45 |
| 国际标准分类 | 31.260 |
| 字数估计 | 32,376 |
| 发布日期 | 2009-11-17 |
| 实施日期 | 2010-01-01 |
| 旧标准 (被替代) | SJ/T 2355.1-1983; SJ/T 2355.2-1983; SJ/T 2355.3-1983; SJ/T 2355.4-1983; SJ/T 2355.5-1983; SJ/T 2355.6-1983; SJ/T 2355.7-1983 |
| 引用标准 | GB/T 3977-2001; GB/T 4365-2003; GB/T 5698-2001; GB/T 5702-2003; GB/T 7921-1997; GB/T 7922-2003; GB/T 11499-2001; GB/T 15651-1995; CIE 127-1997; ANSI/ESD STM 5.1-2001; ANSI/ESD STM 5.2-1999 |
| 标准依据 | 工科(2009)第62号;行业标准备案公告2010年第1号(总第121号) |
| 发布机构 | 工业和信息化部 |
| 范围 | 本标准规定了半导体发光二极管(以下简称器件)的辐射度学、光度学、色度学、电学、热学参数以及电磁兼容性的测试方法。本标准适用于可见光、白光半导体发光二极管、紫外发射二极管、红外发射二极管、半导体发光组件和芯片的测试可参考执行。 |