路径: 主页 > SJ/T > 第29页 > SJ/T 11654-2016 | 标准编号 | SJ/T 11654-2016 (SJ/T11654-2016) | | 中文名称 | 固态盘通用规范 | | 英文名称 | General Specification for Solid State Disk | | 行业 | 电子行业标准 (推荐) | | 中标分类 | L63 | | 字数估计 | 30,371 | | 发布日期 | 2016-04-05 | | 实施日期 | 2016-09-01 | | 标准依据 | The Ministry of Industry and Notice No. 2016 in 2016; industry standard record announcement 2016 No. 7 (total 199) | | 发布机构 | 工业和信息化部 | | 范围 | 本标准规定了固态盘的要求、试验方法、质量评定程序、标志、包装、运输、贮存等。适用于固态盘的设计、生产、制造、检验等，其他包含固态盘功能模块的设备也可参考。 | SJ/T 11654-2016: 固态盘通用规范
中华人民共和国电子行业标准
固态盘通用规范
中华人民共和国工业和信息化部 发布
1 范围
本标准规定了固态盘的要求、试验方法、质量评定程序、标志、包装、运输、贮存等。
本标准适用于固态盘(以下简称“产品”)的设计、生产、制造、检验等，其他包含固态盘功能模块的设备也可参考。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
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GB/T 2422电工电子产品基本环境试验规程 术语
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GB/T 2423.2电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B:高温
GB/T 2423.3电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ca:恒定湿热试验方法
GB/T 2423.5 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ea和导则：冲击
GB/T 2423.10电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fc和导则：振动(正弦)
GB 4943.1-2011信息技术设备 安全 第1部分：通用要求
GB/T 5080.7设备可靠性试验 恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案
GB/T 5271.14信息技术词汇第14部分：可靠性、可维护性与可用性
GB 9254信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法
GB/T 17618信息技术设备抗扰度限值和测量方法
GB 17625.1 电磁兼容限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A)
GB/T 17626.2 电磁兼容 试验和测量技术静电一放电抗扰度试验
GB/T 26125 电子电气产品六种限用物质(铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯和多溴二苯醚)的测
GB/T 26572 电子电气产品中限用物质的限量要求定
GJB 2605-1996可热封柔韧性静电阻隔材料规范
3 术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
4要求
4.1 外观和结构
4.1.1 一般要求
产品表面不应有明显的凹痕、划伤、裂缝、变形等，表面涂镀层不应起泡、龟裂和脱落，金属零部件不应有锈蚀及其他机械损伤。
连接器无损坏现象，插拔容易，其他零部件应紧固无松动。说明功能的文字、符号及功能显示应清晰端正。
4.1.2结构尺寸
4.1.2.1 1.8"固态盘
1.8"固态盘外型结构示意图参见附录A。针脚排列及其尺寸参见附录B。
4.1.2.22.5"固态盘
2.5"固态盘外型结构示意图参见附录A。针脚排列及其尺寸参见附录B。
4.1.2.33.5"固态盘
3.5"固态盘外型结构示意图参见附录A。针脚排列及其尺寸参见附录B。
4.1.2.4其他尺寸固态盘
可根据用户需求定制其他尺寸的固态盘，外型结构和针脚排列由产品标准规定。
4.1.3接口
固态盘的接口可选支持并行接口(PATA)、串行接口(SATA)、外围部件互连扩展接口(PCI-E)等，具体接口由产品标准规定。
4.1.4通信协议
产品应支持产品手册(说明书、快速指导、随机光盘、包装等任意一种介质)中明示的接口协议类型和接口协议版本。
4.2准备时间
从上电到进入数据读写状态的最长时间为2.0s。
4.3数据传输率
数据传输率用顺序读数据能力、随机读数据能力、顺序写数据能力和随机写数据能力的数据读写速度表示，它们的响应时间由产品标准规定。最低连续数据传输率应不低于在产品包装上明示的数据读写速度等级。最低数据传输率和对应的数据读写速度等级见表1。
4.4功耗
功耗应符合产品手册中明示的功耗要求。
4.5非正常断电保护
在正常使用时，突然切断产品电源，不应产生数据盘损坏。
根据产品的内部拐操作状态，分为两种，
a)断电发生在产品控制器正往闪存芯片中写数据时：在这种情况下，允计丢失正在操作的文件数据，要求不产生便件损环，
b)断电发生在产品控制器没有往闪存芯片中写数据时：在这种情况下，不允作数提丢失或者出错。
4.6 使用寿命
使用寿命应符合产品手册中明示的寿命要求。
4.7 出错率
7 出错率
4.8安全
4.8.1 一般要求
产品的一般安全要求应符合GB 4943.1-2011中1.3的规定。
4.8.2接触电流
产品的接触电流应符合GB 4943.1-2011中5.1的规定。
4.8.3抗电强度
产品的抗电强度应符合GB 4943.1-2011中5.2的规定。
4.8.4接地连续性
产品的接地连续性应符合GB 4943.1-2011中2.6的规定。
4.8.5 保护功能
产品应具有过流、过压和短路等保护功能。
4.9 电源适应能力
产品应在电压12V±10%、5V±5%的条件下正常工作。产品应具有过流、过压和短路等保护功能。
4.10气候环境适应性
本标准规定的产品气候环境适应性的环境条件是指把样品暴露于自然或人造环境中，从而对其在使用、运输和贮存条件下的适应能力作出评价。
该环境要求产品能够在表2环境条件中工作或者不会受到损坏。
4.11 机械环境适应性
产品振动适应性、冲击适应性、碰撞适应性和运输包装件跌落适应性要求分别在表3、表4、表5和表6条件下产品不得有软硬件故障出现。
4.12.2抗扰度限值
产品的抗扰度限值应符合GB/T 17618规定的要求。
4.12.3 谐波电流
产品的谐波电流应该符合GB 17625.1规定的要求。
4.12.4产品的防静电(ESD)
产品的防静电应符合GB/T 17626.2规定的要求。
4.13可靠性
采用平均失效间隔时间(MIBF)衡量系统的可靠性水平。产品的平均故障间隔时间(MTBF)的m:值应不少于10000 h。
4.14限用物质的限量
适用时，产品的限用物质的限量应符合GB/T 26572的要求。
5试验方法
5.1 试验环境条件
本标准中除气候环境试验、可靠性试验以外，其他试验均应在下述测试用标准大气条件下进行：
a) 温度：15 ℃～35 ℃;
b)相对湿度：25%～75%;
c)大气压：86 kPa ～106 kPa。
在所有实验项目中，受试样品周围的磁场强度不得超过2000 A/m,且空气中不应含有盐雾及腐蚀性物质。
5.2 外观和结构试验
产品外观采用人工目测的方式进行检测，产品外型尺寸用长度测量仪器进行检测，产品重量采用精密重量测量仪器进行检测，各检测应符合4.1要求。
注：外型和重量检测时的产品应是已经贴上各标签后的产品。
5.3 准备时间试验
试验产品上电到可以随时开始读/写操作之间的时间间隔。重复测试1000次，然后取平均值为准备时间。
5.4数据传输率试验
5.4.1 简单的顺序读数据能力试验
向产品连续发送10000个读请求，每个读请求的起始地址是上一个读请求的结束地址，记录每个请求的响应时间，并按照公式(1)计算出数据带宽。
5.4.2简单的随机读数据能力试验
向产品连续发送10000个读请求，每个读请求的起始地址在0到最大逻辑地址之间随机产生，记录每个请求的响应时间，并按照公式(1)计算出数据带宽。
5.5.2静态功耗
使固态盘处于上电并且空闲状态，测试电压，电流，乘以单位时间(1s),得......
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