路径: 主页 > SJ/T > 第34页 > SJ/T 11699-2018 | 标准编号 | SJ/T 11699-2018 (SJ/T11699-2018) | | 中文名称 | IP核可测性设计指南 | | 英文名称 | Guidelines for design for testability of IP cores | | 行业 | 电子行业标准 (推荐) | | 中标分类 | L55 | | 字数估计 | 19,113 | | 发布日期 | 2018-02-09 | | 实施日期 | 2018-04-01 | | 标准依据 | 工业和信息化部公告2018年第10号 | | 发布机构 | 工业和信息化部 | | 范围 | 本标准规定了IP核的可测试性设计约束和结构，对可测试性结构、测试包封及测试接口进行规定。 | ......
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