路径: 主页 > SJ/T > 第39页 > SJ/T 11765-2020 | 标准编号 | SJ/T 11765-2020 (SJ/T11765-2020) | | 中文名称 | 晶体管低频噪声参数测试方法 | | 英文名称 | (Testing method for low frequency noise parameters of transistors) | | 行业 | 电子行业标准 (推荐) | | 中标分类 | L42;L44 | | 字数估计 | 8,849 | | 发布日期 | 2020-12-09 | | 实施日期 | 2021-04-01 | | 标准依据 | 工业和信息化部公告2020年第48号 | | 发布机构 | 工业和信息化部 | ......
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