路径: 主页 > SJ/T > 第86页 > SJ/T 11874-2022 | 标准编号 | SJ/T 11874-2022 (SJ/T11874-2022) | | 中文名称 | 电动汽车用半导体分立器件应力试验程序 | | 英文名称 | (Stress Test Procedures for Semiconductor Discrete Devices Used in Electric Vehicles) | | 行业 | 电子行业标准 (推荐) | | 字数估计 | 30,320 | | 发布日期 | 2022-09-30 | | 实施日期 | 2023-01-01 | | 发布机构 | 工业和信息化部 | | 范围 | 本文件规定了电动汽车用半导体集成电路的分级及最低应力试验程序（适用应力试验程序组成器件检验方案）。本文件用于指导制定电动汽车用分立器件检验方案的确定。 | ......
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