[PDF] SJ/T 12032-2025 - 英文版

标准号码	内文	价格美元	第2步(购买)	交付天数	标准名称	状态
SJ/T 12032-2025	英文版	RFQ	询价	[PDF]天数 >=3	半导体器件分立器件碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管电参数测试方法	有效

基本信息
标准编号	SJ/T 12032-2025 (SJ/T12032-2025)
中文名称	半导体器件分立器件碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管电参数测试方法
英文名称	(Semiconductor devices - Discrete components - Test method for electrical parameters of silicon carbide metal-oxide-semiconductor field-effect transistors)
行业	电子行业标准 (推荐)
发布日期	2025-09-09
实施日期	2026-03-01
发布机构	工业和信息化部

......

英文网页English: SJ/T 12032-2025

相关标准: SJ/T 1175 |