| 标准编号 | SJ/T 2354-2015 (SJ/T2354-2015) |
| 中文名称 | ＰＩＮ、雪崩光电二极管测试方法 |
| 英文名称 | Measuring methods for photodiodes of PIN、APD |
| 行业 | 电子行业标准 (推荐) |
| 中标分类 | L54 |
| 国际标准分类 | 31.18 |
| 字数估计 | 32,332 |
| 发布日期 | 2015-04-30 |
| 实施日期 | 2015-10-01 |
| 旧标准 (被替代) | SJ 2354.1-1983; SJ 2354.2-1983; SJ 2354.3-1983; SJ 2354.4-1983; SJ 2354.5-1983; SJ 2354.6-1983; SJ 2354.7-1983; SJ 2354.8-1983; SJ 2354.9-1983; SJ 2354.10-1983; SJ 2354.11-1983; SJ 2354.12-1983; SJ 2354.13-1983; SJ 2354.14-1983 |
| 引用标准 | GB/T 2421.1-2008; GB/T 11499-2001; GB/T 15651 |
| 标准依据 | 工业和信息化部公告2015年第28号;行业标准备案公告2015年第7号(总第187号) |
| 发布机构 | 工业和信息化部 |
| 范围 | 本标准规定了PIN、雪崩光电二极管(以下简称"二极管")光电参数的测试方法。 |