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[PDF] SJZ9016-1987 - 英文版

标准号码	内文	价格美元	第2步(购买)	交付天数	标准名称	状态
SJ/Z 9016-1987	英文版	879	SJ/Z 9016-1987	[PDF]天数 >=4	半导体器件机械和气候试验方法	作废

基本信息
标准编号	SJ/Z 9016-1987 (SJ/Z9016-1987)
中文名称	半导体器件机械和气候试验方法
英文名称	Semiconductor devices--Mechanical and climatic test methods
行业	电子行业标准
中标分类	L04
字数估计	22,218
采用标准	IEC 749-84, IDT

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英文网页English: SJZ9016-1987

相关标准: GB/T 34986 | SJ 21593 | SJ 21612 | SJ 21592 |