路径: 主页 > SN/T > 第76页 > SN/T 1504.5-2017

[PDF] SN/T 1504.5-2017 - 英文版

标准号码	内文	价格美元	第2步(购买)	交付天数	标准名称	状态
SN/T 1504.5-2017	英文版	139	SN/T 1504.5-2017	[PDF]天数 >=2	食品容器、包装用塑料原料第5部分：聚烯烃中杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法	有效

基本信息
标准编号	SN/T 1504.5-2017 (SN/T1504.5-2017)
中文名称	食品容器、包装用塑料原料第5部分：聚烯烃中杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法
英文名称	Plastics used for food container and package. Part 5: Determination of elemental content in polyolefins. X-ray fluorescence spectrometry
行业	商检行业标准 (推荐)
中标分类	A82
国际标准分类	55.100
字数估计	6,682
发布日期	2017-07-21
实施日期	2018-03-01
旧标准 (被替代)	SN/T 1504.5-2005
引用标准	ASTM C1118; ASTM E1621
标准依据	国质检认(2017)337号
发布机构	海关总署
范围	SN/T 1504的本部分规定了食品容器、包装用聚烯烃中杂质元素氟、钠、镁、铝、硅、磷、硫、钙、钛、铬和锌含量的波长色散X射线荧光光谱测定方法。本部分适用于食品容器、包装用聚烯烃中杂质元素氟、钠、镁、铝、硅、磷、硫、钙、钛、铬和锌含量的测定。本部分不适用于含溴类和氧化锑类阻燃剂的聚烯烃类中杂质元素含量的测定。

SN/T 1504.5-2017 Plastics used for food container and package.Part 5: Determination of elemental content in polyolefins.X-ray fluorescence spectrometry 中华人民共和国出入境检验检疫行业标准代替SN/T 1504.5-2005 食品容器、包装用塑料原料第5部分:聚烯烃中杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法 2017-07-21发布 2018-03-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布中华人民共和国出入境检验检疫行业标准食品容器、包装用塑料原料第5部分:聚烯烃中杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法中国标准出版社出版网址:www.spc.org.cn 2018年5月第一版前言 SN/T 1504《食品容器、包装用塑料原料》共分为5部分: ---第1部分:聚丙烯均聚物中酚类抗氧化剂和芥酰胺爽滑剂的测定方法液相色谱法; ---第2部分:聚乙烯中抗氧剂和芥酸酰胺爽滑剂的测定液相色谱法; ---第3部分:乙烯聚合物和乙烯-醋酸乙烯酯共聚物中丁基-羟基甲苯的测定气相色谱法: ---第4部分:高密度聚乙烯中酚类抗氧化剂的测定液相色谱法: ---第5部分:聚烯烃中杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法。本部分为SN/T 1504的第5部分。本部分按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。本部分代替SN/T 1504.5-2005《食品容器、包装用塑料原料第5部分:聚烯烃中杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法》。本部分与SN/T 1504.5-2005相比,主要技术变化如下: ---增加了对氟、钠、镁、铝、硫、钙、钛、铬等的测试; ---对样片的厚度和样片制备进行了细化,以适应不同杂质元素的测定。本部分技术内容参考采用ASTMD6247-11的内容,其中标题修改为“食品容器、包装用塑料原料第5部分:聚烯烃中杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法”。本部分由国家认证认可监督管理委员会提出并归口。本部分起草单位:中华人民共和国天津出入境检验检疫局。本部分主要起草人:吕刚、潘红蕊、曹丽静、宋贺帅、王媛媛、张寅豹、冯杰。本部分所代替标准的历次版本发布情况为: ---SN/T 1504.5-2005。食品容器、包装用塑料原料第5部分:聚烯烃中杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法 1 范围 SN/T 1504的本部分规定了食品容器、包装用聚烯烃中杂质元素氟、钠、镁、铝、硅、磷、硫、钙、钛、铬和锌含量的波长色散X射线荧光光谱测定方法。本部分适用于食品容器、包装用聚烯烃中杂质元素氟、钠、镁、铝、硅、磷、硫、钙、钛、铬和锌含量的测定。本部分不适用于含溴类和氧化锑类阻燃剂的聚烯烃类中杂质元素含量的测定。 2 规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 ASTMC1118 波长色散X射线荧光系统元件选择 ASTME1621 X射线发散光谱分析标准导则 3 方法概要采用压塑或注塑成型方法制备表面清洁、均匀的样片,样片放入 WDXRF仪器内,用初级X射线光束照射,使每个元素产生特定波长(线)的荧光,依据检测器、浓度范围和基体中其他元素来选择各待测试元素的特征谱线和仪器测试条件。用标准曲线比较谱线强度,测定待测元素含量。注:WDXRF可选用基础参数法进行校正。 4 试剂和材料: 4.1 P-10气:90%氩气和10%甲烷的混合气体(超高纯或相当于超高纯),配可调节流量的气压表。 4.2 氮气:预先纯化或相当级别,用于清洗熔融室。 4.3 各元素标准样品:待测元素的化合物在聚合物标准样品中熔融。各元素化合物应有相应纯度证明,使用前干燥,放入干燥器中保存。 4.4 参考样品:按第6章所述制备。 4.5 监测样品:校准仪器漂移......

英文网页English: SN/T 1504.5-2017

相关标准: GB/T 325.6 | SN/T 5154 | SN/T 1504.2 | SN/T 1504.1 |