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| 标准编号 | YB/T 6166-2024 (YB/T6166-2024) | | 中文名称 | 石墨烯薄膜 方块电阻的测定 四探针法 | | 英文名称 | (Determination of Sheet Resistance of Graphene Films by Four-Probe Method) | | 行业 | 冶金行业标准 (推荐) | | 中标分类 | Q53 | | 国际标准分类 | 77.040.20 | | 字数估计 | 12,188 | | 发布日期 | 2024-03-29 | | 实施日期 | 2024-10-01 | | 发布机构 | 工业和信息化部 | | 范围 | 本文件规定了石墨烯薄膜的方块电阻测定方法,包括方法原理、仪器设备、测试条件、测试步骤、结果计算与数据采集和测试报告等。本文件适用于目视平整、附着在衬底表面的石墨烯薄膜方块电阻的测定,石墨烯薄膜的长和宽均不小于50mm。方块电阻的测量范围为1×10-3Ω~1×103Ω。本文件也可适用于更高或更低方块电阻的测量,但其测量精确度尚未评估。 |
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