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| 标准编号 | YD/T 2147-2010 (YD/T2147-2010) | | 中文名称 | Nx40Gbit/s光波分复用(WDM)系统测试方法 | | 英文名称 | Test methods of Nx40Gbit/s optical wavelength division multiplexing (WDM) systems | | 行业 | 邮电行业标准 (推荐) | | 中标分类 | M33 | | 国际标准分类 | 33.040.20 | | 字数估计 | 46,481 | | 发布日期 | 2010-12-29 | | 实施日期 | 2011-01-01 | | 引用标准 | GB/T 20440-2006; YD/T 1159-2001; YD/T 1259-2003; YD/T 1339-2005; YD/T 1383-2005; YD/T 1991-2009; ITU-T G.783; ITU-T G.825; ITU-T G.8251; ITU-T G.959.1-2009 | | 采用标准 | ITU-T G.783, NEQ; ITU-T G.825, NEQ; ITU-T G.8251, NEQ; ITU-T G.959.1, NEQ | | 起草单位 | 工业和信息化部电信研究院 | | 归口单位 | 中国通信标准化协会 | | 标准依据 | 工科(2010)第134号 | | 范围 | 本标准规定了开放式Nx40Gbit/s光波分复用(WDM)系统的测试方法, 主要包括:系统配置和参考点定义?主光通道测试?光波长转换器测试?光波分复用器/解复用器测试?光放大器测试?色散补偿器测试?FEC测试?动态功率控制和增益均衡测试?OADM测试?监控通路测试, 传输功能和性能测试?网管系统功能验证?APR功能验证等内容?本标准适用于开放式Nx40Gbit/s光波分复用(WDM)系统, 对于集成Nx40GbiT/s光波分复用(WDM)系统和采用非NRZ码型的Nxl0Gbit/s光波分复用(WDM)系统也可参 | YD/T 2147-2010: Nx40Gbit/s光波分复用(WDM)系统测试方法
YD/T 2147-2010 英文名称: Test methods of Nx40Gbit/s optical wavelength division multiplexing (WDM) systems
中华人民共和国通信行业标准
NX40Gbit/s 光波分复用 (WDM)系统测试方法
中华人民共和国工业和信息化部 发布
1 范围
本标准规定了开放式Nx40Gbit/s光波分复用 (WDM) 系统的测试方法，主要包括：系统配置和参考点定义、主光通道测试、光波长转换器测试、光波分复用器/解复用器测试、光放大器测试、色散补偿器 测试、FEC测试、动态功率控制和增益均衡测试、 OADM测试、监控通路测试、传输功能和性能测试，网管系统功能验证、 APR 功能验证等内容。
本标准适用于开放式Nx40Gbit/s光波分复用(WDM) 系统，对于集成式Nx40Gbit/s光波分复用(WDM)系统和采用非NRZ 码型的Nx10Gbit/s光波分复用 (WDM) 系统也可参照执行。
2 规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的 修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准。然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。
GB/T 20440-2006 密集波分复用器/解复用器技术条件
YD/T 1159-2001 光波分复用 (WDM) 系统测试方法
YD/T 1259-2003 波分复用系统 (WDM) 光安全进程技术要求
YD/T 1339-2005 城市光传送网波分复用 (WDM) 环网测试方法
YD/T 1383-2005 波分复用 (WDM) 网管理系统技术要求
YD/T 1991-2009 Nx40Gbit/s 光波分复用 (WDM) 系统技术要求
ITU-T G783 SDH 设备功能块
ITU-T G825 基于同步数字体系 (SDH) 的数字网内的抖动和漂移控制
ITU-T G8251 光传送网 (OTN) 内的信号抖动和漂移控制
ITU-T G959.1(2009) 光传送网物理层接口
3 符号和缩略语
下列符号和缩略语适用于本标准。
4 系统配置和参考点定义
Nx40Gbit/sWDM 系统的参考配置如图1所示。图中OTU 为光波长转换器实现3R 功能，即再放大、再整形和再定时； OMU 为光复用器单元，实现多个波长的复用功能； OA 为光放大单元，实现信号的光域放大(包含色散补偿功能); ODU 为光解复用器单元，实现多个波长的解复用功能、Tx/Rx 为客户侧光接口。
5 主光通道测试
5.1 MPI-SM/SM 点接口参数测试
5.1.1 MPI-SM/SM 每通路输出功率
5.1.1.1 定义
指参考点MPI-SM/SM 处每通路的平均发送光功率。
5.1.1.2 测试配置
测试配置如图2所示。测试仪表为光谱分析仪。
5.1.1.3 测试步骤
按照下述步骤进行测试：
a) 如图1所示连接好测试配置，设置光谱分析仪工作模式为WDM, 分辨率带宽小于0.1nm;
b) 调整光谱分析仪的显示波长范围，将需要测试的通路波长显示在屏幕的中间；
c) 将光标定位在波长脉冲的峰值处，选择该波长光功率积分带宽为当前通路间隔，根据仪表的数字
显示，记录下该波长的光功率值；
d) 依次根据步骤b) 和 c), 测试并记录每个光通路的输出光功率。
5.1.1.4 注意事项
测试时应注意下述事项：
a) 测试功率值中包含ASE 噪声功率；
b) 光谱分析仪测试功率前应通过功率计进行比对校准。
5.1.2 MPI-SM 最大通路功率差
5.1.2.1 定义
指在同一时间内、在给定的光分辨率下，参考点MPI-SM 处所有通路平均发送光功率的最大值与最小值之差。
5.1.2.2 测试配置
测试配置如图2所示。测试仪表为光谱分析仪。
5.1.2.3 测试步骤
按照下述步骤进行测试：
a) 根据5.1.1.3测试每通路输出光功率；
b) 每通路输出光功率的最大值与最小值之差即为最大通路功率差。
5.1.2.4 注意事项
无。
5.1.3 MPI-SM/SM 总发送功率
5.1.3.1 定义
指参考点MPI-SM/SM 所有通路总的平均发送光功率。
5.1.3.2 测试配置
测试配置如图3所示。测试仪表为光功率计。
5.1.3.3 测试步骤
按照下述步骤进行测试：
a) 如图3所示连接好测试配置，设置功率计工作范围为1550nm 窗口；
b) 待光功率计的读数稳定之后，读出并记录功率值。
5.1.3.4 注意事项
测试时应注意下述事项：
a) 如果功率计量程不够，在参考点MPI-SM/SM 与光功率计之间增加光衰减器；
b) 测试功率值中包含ASE 噪声功率。
5.1.4 MPI-SM/SM光信噪比
5.1.4.1 定义
指参考点MPI-Sw/SM 处每通路内信号光功率与 ASE 噪声功率的比值，其中 ASE 噪声功率的参考带宽一般选择0.1nm。
5.1.4.2 测试配置
测试配置如图3所示。测试仪表为光谱分析仪。
5.1.4.3 测试步骤
按照下述步骤进行测试：
a) 如图3所示连接好测试配置，设置光谱分析仪分辨率带宽小于0.1nm
b) 调整光谱分析仪的显示波长范围，将需要测试的通路波长显示在屏幕的中间
c) 将光标定位在测试通路波长脉冲的峰值处，选择该波长光功率积分带宽为当前通路间隔，根据仪
表的数字显示记录下该波长的光功率值为P₁ (mW); 将当前测试通路的光源关闭，在相同光功率积分带宽下根据仪表的数字显示记录该波长的光功率值为P2(mW);
d) 设置当前测试通路的光功率积分带宽为0.1nm, 根据仪表的数字显示记录光通路功率值为 PA
(mW), 那么该通路的OSNR 计算值为： OSNR=10lg((P₁-P₂)IPA), 单位为dB
e) 打开当前测试通路的光源，依次选择下一通路，执行步骤b)~c)。
5.1.4.4 注意事项
测试时应注意下述事项：
a) 采用信号源关闭的方法将带来一定测试偏差(关闭光源后 ASE 功率发生变化),尤其是当初始配
置的波长较少且位于波段边缘时。相应变化值在实际测试时记录并校正测试计算值，具体方法参见附录A;
b) 对于已有业务的在线 OSNR 测试或系统级联ROADM 的情形，也可采用支持40Gbit/s WDM 信号带内OSNR 测试功能的光谱仪进行直接测试，具体方法参见附录B;
c) 对于通路间隔或信号光谱形状不影响单通路信号功率计算的情形，可直接采用支持信号积分功率
自动计算的光谱分析仪直接自动扫描光信噪比值。
5.2 MPI-SM~MPI-RM 之间参数测试
5.2.1 MPI-SM～MPI-RM 残余色散
5.2.1.1 定义
指参考点MPI-SM 和MPI-Ry 之间的色度色散值。
5.2.1.2 测试配置
测试配置如图4所示。测试仪表为调制的宽谱光源和CD 分析仪。
5.2.1.3 测试步骤
按照下述步骤进行测试；
a) 如图4所示连接好测试配置，根据所测试波段要求设置光源和CD 分析仪波段参数；
b) 调整MPI-RM 点功率以满足CD 分析仪接收范围，启动CD 分析仪开始测试，并记录测试的色散
结果。
5.2.1.4 注意事项
对于不支持穿通光放大器的CD 分析仪，或者系统中间串接ROADM 节点的情形，则逐段测试每跨段线路光纤和色散补偿光纤，或者测试ROADM 与其他 OTM 或 ROADM 节点之间的线路光纤和色散补偿光纤，然后将所有测试值直接相加即可。
5.2.2 MPI-SM～MP1-Rw 偏振模色散
5.2.2.1 定义
指参考点MPI-SM 和 MPI-RM 之间的偏振模色散值，采用 DGD 平均值或最大值表示，其中最大值一般取为平均值的3倍(也即DGD 最大值出现的几率为4.2×10-5)。
5.2.2.2 测试配置
测试配置如图5所示。测试仪表为调制的宽谱光源和 PMD 分析仪。
5.2.2.3 测试步骤
按照下述步骤进行测试：
a) 如图5所示连接好测试配置，根据所测试波段要求设置光源和PMD 分析仪波段参数；
b) 调整MPI-RM 点功率以满足PMD 分析仪接收范围，启动 PMD 分析仪开始测试，并记录测试的PMD 结果。
5.2.2.4 注意事项
测试时应注意下述事项：
a) 对于不支持穿通光放大器的 PMD 分析仪，则逐段测试每跨段线路光纤和色散补偿光纤，然后将所有测试值各自平方后直接相加再开方即可；
b) 对于参考点Sn~Rn 之间 PMD 值，可将OMU/ODU、 光功率放大器、光前置放大器等器件的 PMD值与MPI-SM 和 MPI-RM 之间PMD 值各自平方后直接相加再开方即可；
c) 至少进行5次测试，最终测试结果取算术平均值。
5.2.3 MPI-SM～MPI-RM 最大反射系数
5.2.3.1 定义
指参考点MPI-SM～MPI-RM 之间所有不连续点反射功率与入射功率比值的最大值。
5.2.3.2 测试配置
测试配置如图6所示。测试仪表为光反射(回损)测试仪。
5.2.3.3 测试步骤
按照下述步骤进行测试：
a) 设置光反射(回损)......
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