|
标准号码 |
标准名称 |
|
JB/T 6221-2004
|
工业X射线探伤机电气通用技术条件
|
|
JB/T 57110.1-1999
|
XXY系列携带式工业X射线探伤机 产品质量分等
|
|
JB/T 57110.2-1999
|
XXH、XXC系列携带式工业X射线探伤机 产品质量分等
|
|
JB/T 57110.3-1999
|
XXQ、XXG系列携带式工业X射线探伤机 产品质量分等
|
|
JB/T 57114.1-1999
|
XC系列工业探伤用X射线管 产品质量分等
|
|
JB/T 57114.2-1999
|
XCQ系列工业探伤用X射线管 产品质量分等
|
|
JB/T 57116.1-1999
|
XYY系列X射线探伤机 产品质量分等
|
|
JB/T 57116.2-1999
|
XYD系列X射线探伤机 产品质量分等
|
|
JB/T 9401-1999
|
侧窗荧光分析X射线管
|
|
JB/T 9402-1999
|
工业X射线探伤机 性能测试方法
|
|
JB/T 8290-1998
|
磁粉探伤机
|
|
JB/T 8764-1998
|
工业探伤用X射线管通用技术条件
|
|
JB/T 8387-1996
|
工业探伤X射线管主参数
|
|
JB 7788-1995
|
500kV以下工业X射线探伤机.防护规则
|
|
JB/T 7808-1995
|
工业X射线探伤机主参数系列
|
|
JB/T 8290-1995
|
(标准)
|
|
JB/T 57110-1994
|
(标准)
|
|
JB/T 57114-1994
|
(标准)
|
|
JB/T 57116-1994
|
(标准)
|
|
JB/T 7411-1994
|
电磁轭探伤仪技术条件
|
|
JB/T 7412-1994
|
固定式（移动式）工业X射线探伤机
|
|
JB/T 7413-1994
|
携带式工业X射线探伤机
|
|
JB/T 6828-1993
|
周向X射线管技术条件
|
|
JB/T 6829-1993
|
金属陶瓷X射线管技术条件
|
|
JB/T 6870-1993
|
旋转磁场探伤仪技术条件
|
|
JB/T 5525-1991
|
涡流探伤仪 性能测试方法
|
|
JB/T 13935-2020
|
无损检测仪器 超声检测 超声衍射声时检测仪
|
|
JB/T 13936-2020
|
无损检测仪器 磁粉检测用磁化设备技术要求
|
|
JB/T 13937-2020
|
无损检测仪器 激光超声可视化检测仪
|
|
JB/T 13150-2017
|
无损检测仪器 涡流检测仪用变阵列探头
|
|
JB/T 12725-2016
|
无损检测仪器 超声自动检测系统
|
|
JB/T 12727.3-2016
|
无损检测仪器 试样 第3部分：电磁(涡流)检测试样
|
|
JB/T 12727.4-2016
|
无损检测仪器 试样 第4部分：磁粉检测用试样
|
|
JB/T 12727.5-2016
|
无损检测仪器 试样 第5部分：渗透检测试样
|
|
JB/T 12454-2015
|
无损检测仪器 声扫频检测仪
|
|
JB/T 12458-2015
|
无损检测仪器 多通道数字超声检测仪
|
|
JB/T 11780-2014
|
无损检测仪器 阵列涡流检测仪性能和检验
|
|
JB/T 11603.1-2013
|
无损检测仪器 声发射 设备特性 第1部分:设备描述
|
|
JB/T 11603.2-2013
|
无损检测仪器 声发射 设备特性 第2部分:操作特性验证
|
|
JB/T 11604-2013
|
无损检测仪器 超声波测厚仪
|
|
JB/T 11605-2013
|
无损检测仪器 金属磁记忆检测仪 技术条件
|
|
JB/T 11606-2013
|
无损检测仪器 金属磁记忆检测仪 性能试验方法
|
|
JB/T 11609-2013
|
无损检测仪器 声振检测仪
|
|
JB/T 11611-2013
|
无损检测仪器 涡流-磁记忆综合检测仪
|
|
JB/T 11612-2013
|
无损检测仪器 涡流-漏磁综合检测仪
|
|
JB/T 11276-2012
|
无损检测仪器 超声波探头型号命名方法
|
|
JB/T 11277-2012
|
无损检测仪器 单通道声阻抗检测仪
|
|
JB/T 11279-2012
|
无损检测仪器 线阵列涡流探头
|
|
JB/T 7411-2012
|
无损检测仪器 电磁轭磁粉探伤仪技术条件
|
|
JB/T 11259-2011
|
无损检测仪器 多频涡流检测仪
|
|
JB/T 11260-2011
|
无损检测仪器 声脉冲检测仪
|
|
JB/T 5754-2011
|
无损检测仪器 单通道声发射检测仪 技术条件
|
|
JB/T 10061-1999
|
A型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件
|
|
JB/T 10062-1999
|
超声探伤用探头性能测试方法
|
|
JB/T 10063-1999
|
超声探伤用1号标准试块技术条件
|
|
JB/T 8283-1999
|
声发射检测仪器性能测试方法
|
|
JB/T 8283-1995
|
(标准)
|
|
JB/T 12549-2015
|
紧固件拉-扭复合试验机
|
|
JB/T 11582-2013
|
压剪试验机
|
|
JB/T 11584-2013
|
电磁固体材料多场耦合性能试验机 技术规范
|
|
JB/T 7796-2017
|
弹簧拉压试验机
|
|
JB/T 9395-2017
|
四球摩擦试验机
|
|
JB/T 7408-2013
|
杯突试验机 技术条件
|
|
JB/T 9371-2013
|
弯折试验机 技术条件
|
|
JB/T 9396-2013
|
环块磨损试验机 技术规范
|
|
JB/T 7407-2008
|
包装件跌落试验机 技术条件
|
|
JB/T 7796-2005
|
弹簧拉压试验机
|
|
JB/T 9395-2004
|
四球摩擦试验机 技术条件
|
|
JB/T 9396-1999
|
环块磨损试验机 技术条件
|
|
JB/T 7796-1995
|
弹簧技压试验机.技术条件
|
|
JB/T 7408-1994
|
杯突试验机.技术条件
|
|
JB/T 15044-2025
|
叠加式力标准机技术规范
|
|
JB/T 15045-2025
|
静重式力标准机技术规范
|
|
JB/T 6146-2020
|
引伸计 技术条件
|
|
JB/T 6258-2018
|
扭矩标准机 通用技术条件
|
|
JB/T 13219-2017
|
非接触式引伸计系统
|
|
JB/T 13228-2017
|
静态试验机控制器
|
|
JB/T 5483-2015
|
标准扭矩仪 技术规范
|
|
JB/T 5484-2010
|
杠杆式力标准机 技术条件
|
|
JB/T 6146-2007
|
引伸计技术条件
|
|
JB/T 10060-1999
|
试验机校验用标准测力仪技术条件
|
|
JB/T 8289-1999
|
引伸计标定与分级方法
|
|
JB/T 9394-1999
|
X射线应力测定仪 技术条件
|
|
JB/T 8289-1995
|
引伸计标定与分级方法
|
|
JB/T 7442-1994
|
微机膨胀仪技术条件
|
|
JB/T 6146-1992
|
引伸计.技术条件
|
|
JB/T 13810-2020
|
仪器化夏比摆锤冲击试验机
|
|
JB/T 13220-2017
|
高速平衡机
|
|
JB/T 7789-2013
|
双面立式平衡机 技术条件
|
|
JB/T 9390-2013
|
卧式硬支承平衡机 技术条件
|
|
JB/T 9392-2013
|
单面立式平衡机 技术条件
|
|
JB/T 9393-2013
|
卧式软支承平衡机 技术条件
|
|
JB/T 6867-2010
|
陀螺转子平衡机 技术条件
|
|
JB/T 6868-2008
|
冲击台 技术条件
|
|
JB/T 6869-2008
|
水平振动台(正弦)技术条件
|
|
JB/T 9390-2002
|
卧式硬支承平衡机 技术条件
|
|
JB/T 9392-2002
|
单面立式平衡机 技术条件
|
|
JB/T 9393-2002
|
卧式软支承平衡机 技术条件
|
|
JB/T 8288-2001
|
液压振动台
|
|
JB/T 9391-2001
|
碰撞试验台 技术条件
|