| 标准编号 | GB/T 18910.1-2012 (GB/T18910.1-2012) | | 中文名称 | 液晶显示器件 第1部分：总规范 | | 英文名称 | Liquid crystal display devices -- Part 1: Generic specification | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | L47 | | 国际标准分类 | 31.120 | | 字数估计 | 24,281 | | 旧标准 (被替代) | GB/T 18910.1-2002 | | 引用标准 | IEC 60068-2-41; IEC 60068-2-4; IEC 60068-2-42; IEC 60068-2-43; IEC 60068-2-44; IEC 60068-2-45; IEC 60068-2-46; IEC 60068-2-47; IEC 60068-2-48; IEC 60068-2-49; IEC 60068-2-5; IEC 60068-2-50; IEC 60068-2-52; IEC 60068-2-53; IEC 60068-2-54; IEC 60068-2-55; I | | 标准依据 | 国家标准公告2012年第41号 | | 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 | | 范围 | GB/T 18910的本部分是液晶显示器件的总规范。它规定了IECQ体系质量评定的通用程序, 并给出了电光特性测试方法的通用要求, 给出了气候、机械和耐久性试验方法。本部分适用于液晶显示器件, 包括液晶显示屏和液晶显示模块。 | GB/T 18910.1-2012
Liquid crystal display devices.Part 1: Generic specification
ICS 31.120
L47
中华人民共和国国家标准
代替GB/T 18910.1-2002
液晶显示器件
第1部分:总规范
2012-12-31发布
2013-06-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
目次
前言 Ⅲ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 总则 1
4.1 优先顺序 1
4.2 温度、湿度和压力优选值 2
4.3 标志 2
4.4 质量评定类别 2
4.5 筛选 3
4.6 操作 3
5 质量评定程序 3
5.1 总则 3
5.2 鉴定批准的资格 3
5.3 商业保密信息 3
5.4 检验批的构成 3
5.5 结构相似器件 3
5.6 鉴定批准的授予 3
5.7 质量一致性检验 4
5.8 统计抽样程序 6
5.9 耐久性试验 7
5.10 规定失效率时的耐久性试验 7
6 试验和测试程序 8
6.1 电光测试的标准大气条件 8
6.2 物理检查 8
6.3 电光测试 8
6.4 环境试验 9
附录A(资料性附录) 本部分与GB/T 18910.1-2002的主要区别 10
附录B(规范性附录) 批允许不合格品率(LTPD)抽样方案 12
附录C(资料性附录) 液晶显示屏外形图的示例 18
附录D(规范性附录) 液晶显示模块的取向 20
前言
GB/T 18910《液晶显示器件》分为如下部分:
---第1部分:总规范;
---第1-1部分:术语和符号;
---第2部分:液晶显示模块 分规范(GB/T 18910.2-2003,IEC 61747-2:1998,IDT);
---第2-1部分:无源矩阵单色液晶显示模块 空白详细规范(GB/T 18910.21-2007,IEC 61747-
2-1:1998,IDT);
---第2-2部分:彩色矩阵液晶显示模块 空白详细规范(GB/T 18910.22-2008,IEC 61747-2-2:
2004,IDT);
---第3部分:液晶显示屏 分规范(GB/T 18910.3-2008,IEC 61747-3:1998,IDT);
---第3-1部分:液晶显示屏 空白详细规范;
---第4部分:液晶显示模块和屏 基本额定值和特性(GB/T 18910.4-2007,IEC 61747-4:
1998,IDT);
---第4-1部分:彩色矩阵液晶显示模块 基本额定值和特性(GB/T 18910.41-2008,IEC 61747-
4-1:2004,IDT);
---第5部分:环境、耐久性和机械试验方法(GB/T 18910.5-2008,IEC 61747-2:1998,IDT);
---第6部分:液晶显示器件测试方法系列标准。
本部分为GB/T 18910的第1部分。
本部分按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
本部分代替GB/T 18910.1-2002《液晶和固态显示器件 第1部分:总规范》。
本部分与GB/T 18910.1-2002相比主要变化及其原因,在附录A中给出以供参考。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本部分由中国电子技术标准化研究院(CESI)归口。
本部分起草单位:中国电子技术标准化研究院。
本部分主要起草人:赵英。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
---GB/T 18910.2-2002。
液晶显示器件
第1部分:总规范
1 范围
GB/T 18910的本部分是液晶显示器件的总规范。它规定了IEC Q体系质量评定的通用程序,并给
出了电光特性测试方法的通用要求,给出了气候、机械和耐久性试验方法。
本部分适用于液晶显示器件,包括液晶显示屏和液晶显示模块。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范(IEC 60747-10:
1991,IDT)
GB/T 17573-1998 半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分:总则(idtIEC 60747-1:1983)
GB/T 18910.5-2008 液晶和固态显示器件 第5部分:环境、耐久性和机械试验方法
(IEC 61747-5:1998,IDT)
GB/T 18910.11-2012 液晶显示器件 第1-1部分:术语和符号
GB/T 18910.61-2012 液晶显示器件 第6-1部分:液晶显示器件测试方法 光电参数
attributes)
ISO 1101:1983 技术制图 几何公差 形状、位置和偏差公差 总则、定义、符号和图样表示法
3 术语和定义
GB/T 18910.11-2012界定的术语和定义适用于本文件。
4 总则
4.1 优先顺序
如有争议,各种文件应按以下权限顺序执行:
a) 详细规范;
b) 空白详细规范;
c) 族规范(如有时);
d) 分规范;
e) 总规范;
f) 基础规范;
g) IEC Q程序规则;
h) 需要参考的任何其他国际文件(例如IEC);
i) 国家文件。
相同的优先顺序适用于等效的国家文件。
4.2 温度、湿度和压力优选值
特性测试、试验和工作条件的温度、湿度和压力的优选值按GB/T 18910.5-2008的规定。
4.3 标志
4.3.1 器件识别
器件上的标志应能清晰可辨。
4.3.2 器件可追溯性
器件应有可追溯性代码,能够追溯到器件确切的生产批和检验批。
4.3.3 包装
包装上应有下列标志:
a) 器件的识别代码;
b) 包装内器件的可追溯性代码;
c) 包装内器件的数量;
d) 如需要,其他注意的事项。
以上标志可以按照惯例调整。
注:其他增加的要求可以在有关详细规范中规定。
4.4 质量评定类别
本规范规定了三个质量评定类别。有识别代码和日期代码的同一检验批内的器件,按规定的质量
类别进行检验。与同一检验分组对应的合格质量水平(AQL)或批允许不合格品率(LTPD)可依不同的
质量类别而异,并应符合详细规范的规定。
对各类别的最低要求如下:
Ⅰ类---该类器件符合Ⅱ类或Ⅲ类鉴定批准要求。各批都符合包括功能试验在内的A组检验要
求。每三个月对一批进行相互连接能力检验,应符合要求。每年进行一次B组和C组检验,均应符合
要求(见5.7.2)。
Ⅱ类---该类的批符合A组和B组逐批检验要求以及C组周期检验要求。
Ⅲ类---该类的批需进行100%筛选,并符合A组和B组逐批检验要求以及C组周期检验要求。
分规范和空白详细规范应规定对以上各类的最低要求。详细规范可以包括在总规范、分规范或空
白详细规范中没有的,包括筛选在内的补充要求。
4.5 筛选
筛选是对一批中所有器件进行的检验和试验。
当详细规范有要求时,应按分规范或空白详细规范的有关表中所给出的序列之一种,对提交批中的
全部器件进行筛选,并剔除全部有缺陷的器件。只有当上述筛选的序列与公认的失效机理无关或有矛
盾时,才采用未规定的其他筛选序列。当分规范或空白详细规范的有关表中给出的筛选程序的一部分
构成了制造工序的一部分时,则不必重复这些过程。就本规范而言,老练定义为在规定的时间内对批中
所有器件施加热应力和电应力,进行检验并剔除潜在的早期失效产品。
4.6 操作
按GB/T 17573-1998第Ⅸ篇的要求。
对含有有毒有害物质的情况,应有警示作用的标识(例如:BeO)。
5 质量评定程序
5.1 总则
质量评定包括4.4中规定的为获得鉴定批准的程序以及之后按详细规范规定的逐批(如要求时也
包括筛选)以及周期的质量一致性检验。
质量评定试验分为按4.4规定的逐批或周期进行的A组、B组和C组试验。在某些情况下也可以
规定D组试验,例如为了进行鉴定批准。
5.2 鉴定批准的资格
只有当某个型号的器件满足QC001002:1986中第11章规定时,才有资格进行鉴定批准。
5.2.1 初始制造阶段
初始制造阶段在分规范或空白详细规范中规定。
5.3 商业保密信息
如果制造过程的某部分涉及商业机密时,则应加以适当地标注,而总检查员应当证明已经遵循了
QC001002:1986中10.2.2的要求,使国家监督检查机构(NSI)满意。
5.4 检验批的构成
见QC001002:1986中12.2的规定。
5.5 结构相似器件
见QC001002:1986中的8.5.3的规定。
有关分组的细节在相关的分规范或空白详细规范中规定。
5.6 鉴定批准的授予
见QC001002:1986中的11.3.1。
制造商可以按分规范或空白详细规范中给出的检验要求,选用QC001002:1986中11.3.1的方法
a)或方法b)。样品可由适当的结构相似的器件组成。在某些情况下,鉴定批准要求有D组试验。作为
详细规范中试验结束后进行的终点测试的所有变化量测试,应记录变化量数据。
鉴定报告应包括一份各组和各分组所进行的所有试验结果的摘要,包括被试器件数和失效器件数。
摘要由变化量和(或)计数数据给出。
制造商应保留所有数据,以便NSI要求时提供。
5.7 质量一致性检验
5.7.1 通则
质量一致性检验应由A组、B组、C组和当有规定时的D组检验和试验组成。
对于B组和C组检验,其样品可由结构相似器件组成。
周期检验的样品应从通过A组和B组检验的一批或几批中抽取。每个器件都应通过按详细规范
要求的A组测试。
5.7.2 组和分组的划分
制定详细规范时要遵循以下准则。
5.7.2.1 A组检验(逐批)
本组规定了逐批进行的为评定器件主要特性的目检和测试。除非另有规定,不允许按结构相似
分组。
A组检验分为以下各分组:
A1分组:本分组由6.2.1规定的外部目检组成。
A2分组:本分组由对器件主要特性的测试组成。
A3和A4分组:可不要求这些分组,它们由对器件次要特性的测试组成。对每个器件类别的恰当
要求应在有关的分规范或空白详细规范中规定。测试项目列入A3分组还是A4分组取决于需要在哪
一个质量水平上进行这些测试。
5.7.2.2 B组检验(逐批,Ⅰ类除外,见4.4)
本组规定了用以评定器件某些其他特性所要采用的程序,包括正常情况下在一周内能够完成的或
按有关的分规范或空白详细规范规定的机械、气候、电和光耐久性试验。
5.7.2.3 C组检验(周期)
本组规定了周期进行的用以评定器件某些其他特性所要采用的程序,包括适合于每间隔三个月
(Ⅱ类和Ⅲ类)或间隔一年(Ⅰ类)的或按有关分规范或空白详细规范规定的电和光测试,机械、气候和耐
久性试验。
5.7.2.4 B组和C组的划分
为了能够便于比较从B组到C组的变化或在必要时(见5.7.4)数据的代替,B组和C组中相应的
试验列入具有相同编号的分组。
划分如下:
B1/C1分组:包括控制器件互换性尺寸的测量。
B2a/C2a分组:包括评定器件设计特征的电和光性能测试。
B2b/C2b分组:包括在不同电压、电流、温度和光学条件下对器件在A组中已测试过的某些电和光
特性进一步评定的测试。
B2c/C2c分组:适用时,包括对器件额定值的验证。
B3/C3分组:包括对器件机械强度进行评定的试验。
B4/C4分组:包括对器件可焊性进行评定的试验。
B5/C5分组:包括对器件经受气候应力能力进行评定的试验。例如:温度的变化、密封等试验。
B6/C6分组:包括对器件经受机械应力能力进行评定的试验。例如:振动、冲击。
B7/C7分组:包括对器件经受长时间潮湿能力进行评定的试验。
B8/C8分组:包括对器件在耐久性试验条件下失效特征进行评定的试验。
B9/C9分组:包括对器件在极限贮存温度条件下的电和光性能进行评定的试验。
B10/C10分组:包括对器件在气压变化时的性能进行评定的试验。
B11/C11分组:包括标志耐久性试验。
CRRL分组:选择并列出上述各分组中已做过的部分试验和(或)测试,将其结果在放行批证明记录
(CRRL)中给出。
这些分组可以不全部要求。
5.7.2.5 D组检验
本组规定了每隔12个月或仅供鉴定批准时所要执行的程序。
5.7.3 检验要求
应采用5.8中统计抽样程序。
5.7.3.1 批拒收判据
不符合A组或B组质量一致性检验的批,不得接收。如果在质量一致性检验过程中,器件未能通
过某个分组的一项试验将导致该批被拒收,质量一致性检验应立即终止,并将该批视作A组和B组的
拒收批。如果一个检验批不符合质量一致性要求又未被重新提交,则应被认为是拒收批。
5.7.3.2 重新提交的批
在技术上可能的条件下,经过返工并重新提交质量一致性检验的失效批,应只包含原来批中的器
件,并且每个检验组(A组和B组)只能重新提交一次。重新提交的批应与新的各批分开,并应清楚地
标识为重新提交的批。重新提交的批应随机地重新抽取样品,并对A组所有的检验进行检验。
5.7.3.3 试验设备故障或操作人员失误情况下的程序
如果确认器件失效是由于试验设备的故障或操作人员失误而导致的,则应将失效记入试验记录中
(如果NSI同意可不记入CRRL中)连同为什么确认不计作失效的一份完整的说明提交给NSI。
总检查员应决定是否将同一检查批中替代器件补充到样品中。替代器件应经受失效器件在失效之
前已经受过的同样的试验,还应经受失效器件按规定将要进行的试验。
5.7.3.4 周期检验失效时的程序
当B组失效时,则相应C组检验(见5.7.2.4)也同时无效。如果周期检验失效不是由于设备故障
或操作人员失误引起的,则执行QC001002:1986中12.6,并作如下修改:
---12.6.1第a项:“暂停该结构相似组内的所有器件在本体系内放行”。
---12.6.4第a项:“在改正了制造错误之后,对已改正的各批产品立即恢复在本体系内放行的
程序”。
---12.6.8:“如果鉴定批准是按12.6.7撤消的,则可按NSI的意见采用一种简化程序(主要针对
引起失效的那些特性的试验)恢复鉴定批准”。
5.7.4 放宽检验的附加程序
5.7.4.1 B组
可采用一种特殊的放宽检验程序,允许制造商在最长三个月的间隔时间内对B组检验的所有分组
每隔三批检验一批来代替逐批进行的B组的正常检验。当某一分组符合要求条件时,这种特殊程序即
适用于该分组。
采用这种程序的条件是连续十批通过B组检验。在放宽检验程序下,当某组样品不符合某分组检
验时,该分组应恢复为B组的正常检验。
5.7.4.2 C组
当周期检验的间隔时间规定为三个月时,如果按三个月的间隔时间连续三次通过了周期检验,则试
验周期可延长为六个月。在延长间隔时间程序下,当某个样品不符合某分组检验时,应恢复为正常的
三个月间隔时间(也见5.7.3.4)。
5.7.5 小批量抽样要求
当批量很小时,可按照GB/T 4589.1-2006中3.6.4或IEC 60410:1973中3.5的规定执行。
5.7.6 放行批的证明记录(CRRL)
见QC001002:1986中的第14章。
5.7.7 经受过破坏性或非破坏性试验的器件的交货
在分规范或空白详细规范中标记(D)的试验被认为是破坏性的。经受过破坏性试验的器件,不得
包括在交货批中。经受过非破坏性环境试验的器件,只要它们按A组要求重新检验且合格则可交货。
5.7.8 延期交货
在交货之前超过规定期限的器件,在整批或部分要交货时,应经受有关的分规范或空白详细规范规
定的A组检验和B组的互连能力试验。在整个批都完成了这种检验和试验之后,在以后的相同期限内
可不再要求重新检验。
5.7.9 交货的附加程序
制造商可提供比指定的质量评定水平高的器件代替质量评定水平较低的器件。
5.8 统计抽样程序
对A、B和C组检验,应采用AQL或LTPD抽样程序,详细规范应规定采用哪种程序。
5.8.1 AQL抽样方案
见IEC 60410:1973的4.5。
有三种类型的抽样方案,一次、二次和多次。当几种类型的抽样方案都适用于某个给定AQL和代
码字母时,则可采用任何一种。
5.8.2 LTPD抽样方案
见附录B。
5.9 耐久性试验
耐久性试验应在详细规范中规定。
5.10 规定失效率时的耐久性试验
5.10.1 总则
本部分所采用的失效率定义为以每1000h的百分数表示的LTPD。
耐久性试验应按规定的程序进行。
器件在最大额定值或额定值范围内完成的耐久性试验,应认为是非破坏性的。
5.10.2 样品的抽取
耐久性试验的样品应从检验批中随机抽取(见附录B),对于1000h试验的样品量应由制造商从规
定失效率栏(见表B.1)或实际批量栏(见表B.2)中选择。
合格判定数应与所选择的特定样品量相对应。
5.10.3 失效
一个器件在任何规定的读出时间,未能符合为耐久性试验规定的一个或更多的终点极限值,则应认
为是一个失效。而且在之后的任何读出时间也认为是失效的。如果一组样品已不能符合耐久性试验的
要求,制造商可自行停止试验。
5.10.4 耐久性试验时间和样品量
无论是否规定了失效率,初次耐久性试验时间应是1000h。一旦一批通过了1000h的耐久性试
验,可以在详细规范中规定耐久性试验时间减少到一定周期。
5.10.5 发现的失效数超过合格判定数时采用的程序
若在耐久性试验中发现的失效数超过合格判定数,制造商应选择下列方案的一种:
a) 撤回整批;
b) 按照5.10.5.1追加样品;
c) 如果最初选择的试验时间小于1000h,则按照5.10.5.2将试验时间延长至1000h;
d) 按照5.7.3.2筛选该批并重新提交。
采用以上其中一个方案后,如果试验不合格,则执行5.7.3.4的程序。
5.10.5.1 追加样品
对于每次提交,该方案只能采用一......
|